Предел абсолютной и относительной погрешности измерения напряжения. Измерения магнитоэлектрическим прибором с учетом класса точности. Абсолютная погрешность измерителей. Доверительные границы неисключенной систематической погрешности результата.

Основные понятия и классификация приборов для измерения напряженности электромагнитного поля и помех. Перенос электромагнитной энергии в пространстве. Особенности измерения напряженности поля. Приборы для измерения псофометрического напряжения помех.

Анализ влияния составляющих фона многопроволочной газовой пропорциональной камеры на величину рабочего фона прибора. Проведение исследования альфа-излучения образцов материалов микроэлектроники в зависимости от их состава и геометрической формы.

Сравнение физической величины с другой, однородной, принятой за единицу измерения. Определение абсолютной и относительной погрешности измерения. Обработка результатов прямых однократных и многократных измерений. Правила округления результатов измерения.

Общие сведения и классификация приборов для измерения параметров и компонентов цепей с сосредоточенными постоянными. Измерение параметров двухполюсников. Общая характеристика и структурная схема резонансного измерителя параметров двухполюсников.

Общие сведения и классификация приборов для измерения параметров и характеристик цепей с сосредоточенными постоянными. Магнитоэлектрические и электронные омметры. Основные вопросы теории мостовых цепей. Цифровой измеритель емкости и сопротивления.

Методы измерения активных сопротивлений. Мостовые схемы измерителей параметров элементов на постоянном токе. Оценка индуктивности, емкости и потерь мостами переменного тока. Определители амплитудно-частотных характеристик. Микропроцессорные приборы.

Понятие индуктивности, переменного тока и сдвига фазы. Закон Ома для участка цепи. Графическое изображение зависимости индуктивности и амплитудной силы тока. Определение сдвига фаз и индуктивности в резистивно-индуктивной цепи на разных частотах.

Параметры контурных катушек и измерение их индуктивности. Индикация короткозамкнутых витков. Особенности измерения индуктивностей методом вольтметра-амперметра. Назначение универсальных измерительных мостов. Резонансные измерители индуктивностей.

Измерение параметров эквивалентной схемы катушки индуктивности в диапазоне частот. Расчет значения эффективной емкости и сопротивления. Вычисление реальных параметров катушки. Измерение зависимости емкости C и тангенса угла потерь конденсатора от частоты.

Основные методы измерения эффекта Холла, определение типа концентрации и подвижности носителей заряда в полупроводниковых образцах. Параметры легирующей примеси по температурной зависимости. Особенности эффекта в классически сильных магнитных полях.

Измерение мощности, частоты и полного сопротивления устройств в диапазоне СВЧ. Характеристики радиоизмерительных приборов. Калориметрические измерители мощности. Резонансные и гетеродинные частотомеры. Поляризационные измерители полных сопротивлений.

Устройство, характеристика и принцип работы комбинированного прибора M890G. Результаты измерений параметров резисторов и вычисление погрешностей. Функциональная электрическая схема килоомметра с цифровым отчетом. Условие равновесия моста постоянного тока.

Измерительный аналоговый прибор. Аналоговые вольтметры сравнения. Селективные вольтметры. Зависимость показаний вольтметров от формы измеряемого напряжения. Компенсатор постоянного тока. Электронные аналоговые вольтметры сравнения. Селективные вольтметры.

Ознакомление с традиционными методами измерения плотности плазмы на установках различного назначения. Построение сверхвысокочастотного интерферометра для регистрации сигнала промежуточной частоты. Описание принципа его работы и области применения.

Прямые и косвенные измерения физической величины. Способы обработки приборных ошибок, абсолютная и относительная погрешности. Определение среднего квадратичного отклонения. Понятие доверительной вероятности. Расчет плотности твердых тел правильной формы.

Измерение интенсивности плоскополяризованного луча света после отражения от диэлектрической пластинки и прохождения через плоскопараллельную стеклянную пластинку. Расчет показателя преломления материала пластинки. Основные законы геометрической оптики.

Изучение классификации измерений, ознакомление с методикой проведения измерений постоянного тока и методами обработки результатов измерений для количественной оценки полученных погрешностей. Амперметр с цифровым индикатором. Динамическая погрешность АЦП.

Измерение малых концентраций поглощающих газов в условиях окружающей атмосферы. Спектры поглощения и изменения газов в зависимости от давления и температуры. Связь между параметрами формы линии поглощения и амплитудой девиации частоты лазерного излучения.

Характеристика радиоактивности в научных трудах ученых физиков. Исследование протекания естественных термоядерных и протонных реакций внутри звезд. Изучение действия ядерного излучения на организм человека. Анализ сфер использования ядерного топлива.

Определение расстояний до космических объектов, характеристика и особенности метода параллакса. Исследование фотометрического метода определения расстояний. Способы измерения космических расстояний, рассмотрение информации о методах радиолокации планет.

Изучение сути процесса расхода количества вещества, протекающего через сечение трубопровода в единицу времени. Основные методы измерения расхода вещества: электромагнитный, тахометрический, ультразвуковой. Электромагнитные или индукционные расходомеры.

Измерение тока с помощью микроамперметра с заданной ценой деления. Момент инерции подвижной части микроамперметра. Определение тока через сопротивление по заданным условиям. Входное сопротивление регистрирующего осциллографа с заданной полосой частот.

Получение данных о скорости распространения звуковых волн в воздухе методом стоячих волн при разных температурах. Период колебаний - минимальный интервал времени, через который тело оказывается в той же точке пространства, имея ту же скорость и ускорение.

Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.

Осуществлено прямое измерение скорости светового импульса от ультрарелятивистского электронного сгустка. Полученный результат может рассматриваться в качестве прямого подтверждения второго постулата специальной теории относительности А. Эйнштейна.

Физический эксперимент по определению скорости распространения квантовой информации при коллапсе волновой функции запутанных фотонов. Тахион - единственная известная в физике частица, движущаяся быстрее света. Тахион как носитель переноса информации.

Формула скорости тела при равномерном движении. Векторная ее составляющая. Единицы измерения величины в интернациональной системе единиц. Астрономические и лабораторные методы определения скорости света. Проблематика его точного значения в разных средах.

С помощью метода замещения и использования гальванометра (миллиамперметра типа ЛМ-1), реостата на 1000 Ом и соединительных проводов проведение измерения сопротивления двух катушек по отдельности, а также при последовательном и параллельном их соединении.

Задачи анализа веществ, связанные с определением содержания как одного какого-либо компонента анализируемой смеси, так и двух и более ее компонентов. Анализ газов без предварительного преобразования пробы. Газоанализаторы инфракрасного поглощения.