Механика движения

Кинематика и динамика вращательного движения. Закон сохранения момента импульса. Незатухающие и затухающие гармонические колебания. Распределение молекул по скоростям. Молекулярные силы и явления переноса в жидкостях. Понятие вязкости и формула Пуазейля.

Рубрика Физика и энергетика
Вид курс лекций
Язык русский
Дата добавления 23.09.2017
Размер файла 247,6 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Явление интерференции широко используется на практике: для контроля качества обработки поверхностей; для просветления оптики; для наблюдения живых неокрашенных объектов, неконтрастных в проходящем свете (интерференционная микроскопия); в области точных измерений (при определении длин волн спектральных линий и показателей преломления газов n 1); в метрологии; в санитарной практике для контроля чистоты воздуха, для создания высокоотражающих покрытий, применяемых в лазерной технике. Существуют специальные приборы - интерферометры, действие которых основано на явлении интерференции. С помощью интерферометров, разных по конструкции и назначению, решают практические задачи, связанные с очень точными измерениями физических параметров тел (длина, угол, показатель преломления…).

Рассмотрим в качестве примера схему устройства интерферометра Жамена, который используют в санитарной практике для контроля чистоты окружающей нас атмосферы. Основу этого измерительного прибора образуют две одинаковые толстые зеркальных пластины А и Б, которые установлены почти параллельно друг другу. Пучок света от источника S падает под углом 45 на пластину А и вследствие отражения от передней и задней поверхностей раздваивается на два когерентных пучка 1 и 2. На пути этих пучков, вытянутых по вертикали, расположены две одинаковые кюветы К1 и К2. Они установлены таким образом, что верхние половины пучков проходят над, а нижние через кюветы К1 и К2. Отразившись от пластины Б, пучки частично собираются вместе (пучки 1' и 2'). Т.к. пластины не параллельны, то между верхней и нижней парой пучков образуется разность хода, и они интерферируют. Интерференционную картину, которая представляет собой чередование светлых и темных участков (рис.5б), наблюдают в зрительную трубу Т. Если теперь одну из кювет, например К1, заполнить газом, то появится дополнительная разность хода

. (15)

Она вызовет смещение интерференционной картины что позволяет определить nв. Т.к. смещение интерференционной картины на одну полосу (ширина max + min) соответствует изменению разности хода лучей на одну длину волны, то смещение на m полос будет соответствовать изменению разности хода на Дв = mл. Теперь

, откуда . (16)

30. Дифракция света. Дифракционная решетка. Дифракционный спектр. Разрешающая способность. Разрешающая способность спектральных приборов

Закон прямолинейного распространения света известен с давних времен. Об этом, в частности, свидетельствует и наш повседневный опыт. Кто из нас не наблюдал, как при освещении непрозрачных предметов за ними образуется тень, т.е. область, куда свет не заходит. Однако ситуация меняется, если размеры препятствия малы. Обнаруживается, что волны на краях препятствий перестают подчиняться закону прямолинейного распространения. Они начинают проникать в область геометрической тени.

Явление отклонения световых волн от прямолинейного распространения при прохождении света мимо края препятствия получило название дифракции света. Объяснить явление дифракции можно исходя из принципа Гюйгенса-Френеля. Этот принцип представляет собой правило, объясняющее, как, исходя из положения волнового фронта в данный момент, найти новое положение волнового фронта в последующий момент времени.

Гюйгенс предложил рассматривать каждую точку среды, которой достигла волна, как источник вторичных сферических волн, распространяющихся по всем направлениям со скоростью, присущей данной среде. Поверхность, огибающая вторичные волны представляет собой фронт волны в данный момент времени.

Изложенное правило позволяет определить направление распространения волнового фронта, но не затрагивает вопроса о количественном распределении энергии дифрагировавшей волны. Этот недостаток был устранен Френелем, который дополнил изложенный принцип следующим положением: вторичные сферические волны являются когерентными и колебания в любой точке пространства, оторой вторичные волны достигнут в момент времени t , представляют собой результат интерференции этих вторичных волн. Т.о., правило распространения огибающей поверхности было заменено расчетом взаимной интерференции вторичных волн.

В качестве примера практического использования принципа Гюйгенса-Френеля рассмотрим дифракцию плоской волны (дифракцию Фраунгофера) на щели. Выберем за щелью произвольное направление распространения света, которое образует с направлением падающего пучка угол цк - угол дифракции. Проведем АС перпендикулярно выбранному направлению дифракции, т.е. перпендикулярно АМ и ВМ. Разобьем ВС на отрезки длиной /2. Параллельно АС через точки разбиения проведем линии, которые разобьют открытую часть волновой поверхности АВ на участки равной ширины - зоны Френеля. По построению АМ = СМ, а разность хода лучей ? от краев участка равна /2. Это означает, что волны, идущие от двух соседних зон при наложении погасят друг друга. Т.о., если на открытой части волновой поверхности для данного направления наблюдения уложится четное и целое число зон Френеля, то для данного направления будет наблюдаться min интенсивности, если нечетное, то max.

Определим эти направления. Из построения видно, что ширина одной зоны Френеля - l0 будет:

а число зон, укладывающихся в щели АВ шириной b:

.

Т.к. минимум наблюдается при m = 2k, то условие минимума -

, откуда bsinц = 2k/2 . (17)

При m = (2k +1) наблюдается максимум и условие максимума -

, откуда bsinц = (2k+1)/2. (18).

Т.о., на экране за щелью мы будем наблюдать систему чередующихся светлых и темных полос, симметричных относительно середины щели. Отметим, что для направлений, в которых на открытую часть волнового фронта уложится не целое число зон Френеля, интенсивность будет иметь некоторое промежуточное значение. Это значит, что переходы от max к min и от min к max будут плавными.

Дифракционный спектр может быть использован для изучения состава излучения. Однако при дифракции на щели энергия, переносимая в направлении max невелика и наблюдения затруднены.

Явление дифракции на щели лежит в основе оптического прибора, который называется дифракционной решеткой. Она представляет собой пластинку, на которой создается система регулярно чередующихся прозрачных (щелей) и непрозрачных для света участков (до нескольких тысяч на мм). Расстояние между серединами соседних щелей называется постоянной или периодом решетки - d.

При падении на дифракционную решётку плоской волны, разность хода волн от двух соседних щелей ?р = d·sinц. Понятно, что для направлений, в которых дифракция на щели дает min, интенсивность будет равна нулю и для всей решетки. Рассмотрим те направления, в которых дифракция на щели дает max. В этом случае, при разности хода равной нечетному число полуволн, два пучка от соседних щелей придут в точку наложения в противофазе и погасят друг друга. Т.е. в этих направлениях тоже будут наблюдаться min интенсивности. Если же на разности хода d·sinц уложится четное число полуволн, то пучки от соседних щелей будут усиливать друг друга, образуя в таких направлениях максимумы

. (19)

Это основная формула дифракционной решетки, определяющая направления главных max ; k - порядок главных максимумов.

Амплитуда колебаний в каждом из главных max ~ числу щелей N, тогда А max = NАщели, а интенсивность в максимумах I max ~ N2 , поэтому главные max будут достаточно яркими для непосредственного наблюдателя.

Между двумя соседними главными max образуется N-1 минимум, а между ними N-2 дополнительных максимума.

Из формулы (19) следует, что для разных длин волн положения и максимумов и минимумов интенсивности на экране будет разным. Если направить на решетку пучок света, состоящий из дискретного набора длин волн - 1, 2, 3, 4 … , то получим в пределах каждого главного максимума набор цветных линий - спектр данного излучения. При дифракции белого света, т.е. света с непрерывным набором длин волн от 400 до 750 нм, на месте главных максимумов возникнут радужные полоски.

Т.о. дифракционная решетка позволяет определить, из каких длин волн состоит пучок интересующего нас излучения, т.е. дифракционная решетка может быть использована как спектральный прибор.

Качество работы всех спектральных оптических приборов оценивают двумя основными характеристиками: дисперсией и разрешающей способностью.

Дисперсия прибора определяет ширину спектральных линий и угловое (или линейное) расстояние между двумя линиями, отличающимися по длине волны на единицу (например, на 1 нм).

Угловой дисперсией D называется величина

, (20)

где d - угловое расстояние между линиями спектра, отличающимися по длине волны на d.

Найдем D для дифракционной решетки. Для этого продифференцируем (19) по . Получим: d cosц · = k · . Откуда

. (21)

Как видно величина D обратно пропорциональна периоду решетки d и тем больше, чем выше порядок спектра. Для небольших углов cosц ? 1 и

. (22)

Это означает - в области таких максимумов спектр растянут равномерно.

Разрешающая способность (сила) определяет минимальную разность длин волн линий, которые в спектре воспринимаются раздельно. Разрешающая способность спектральных приборов определяется выражением:

, (23)

где л - среднее значение длин волн л1 и л2 двух близко лежащих линий, воспринимаемых раздельно; = л1 - л2 .

Согласно критерию Дж. У. Релея, спектральные линии считаются полностью разрешенными, если максимум одной совпадает с ближайшим минимумом другой. В этом случае интенсивность в минимуме между линиями составляет 80% от интенсивности в максимуме. Такой подход дает для разрешающей способности дифракционной решетки:

, (24)

где k - порядок спектра, а N - общее число щелей на решетке.

Т.о. качество дифракционных спектров зависит от общего числа щелей - N: яркость линий ~ N2 , а разрешающая способность ~ N. Увеличивая N, для дифракционных решеток удается получить более высокую разрешающую способность, чем для призматических спектрометров.

На практике наряду с решетками, работающими на просвет, используются и дифракционные решетки, работающие на отражение.

31. Разрешающая способность микроскопа

Качество изображения, получаемого с помощью оптических приборов (микроскопы, телескопы, бинокли и т.д.) оценивается тем, насколько мелкие структурные детали предмета на этом изображении можно рассмотреть. Можно ли получить хорошее изображение сколь угодно мелких деталей объекта? Нет, нельзя! Объяснение этому факту дает понимание механизма образования этих деталей. Дело в том, что изображение каждой точки предмета, которое формируется линзой - объективом, определяется той дифракционной картиной, которую мы получаем при дифракции света на этой точке. Эта картина представляет собой центральное светлое пятно, окруженное чередующимися темными и светлыми кольцами. При этом возможны два случая:

а) Максимальный угол дифракции цmax меньше половины апертурного угла u объектива. Все дифрагированные лучи входят в объектив и принимают участие в формировании изображения, которое в этом случае будет геометрически подобно предмету.

б) цmax u/2 - теперь не все дифрагированные лучи входят в объектив и участвуют в формировании изображения. В этом случае картинка искажается. При достаточно малом угловом расстоянии между отдельными деталями (точками) предмета их дифракционные картины перекрываются, а изображения накладываются друг на друга и сливаются.

Апертурный угол u - это угол между крайними лучами конического пучка света, идущего от наблюдаемого предмета S в объектив.

Свойство оптических приборов давать раздельное изображение двух близко расположенных точек называют разрешающей способностью прибора. Количественно разрешающая способность R определяется соотношением:

. (25)

Здесь Z предел разрешения прибора - минимальное расстояние между двумя точками (деталями) предмета, которые видны в оптический прибор раздельно.

Теория разрешающей способности микроскопа разработана Э. Аббе. Он , что разрешающая способность микроскопа определяется физическими характеристиками объектива, а окуляр улучшить это свойство не может. В качестве микроскопируемого объекта для получения количественных выводов была взята дифракционная решетка). Аббе показал: для раздельного восприятия отдельных щелей решетки (деталей предмета) в микроскопе необходимо, чтобы в формировании их изображения участвовали лучи идущие от центрального максимума и хотя бы одного из максимумов первого порядка.

Для этого направления лучей от этих максимумов должны лежать в пределах апертурного угла объектива. Этого можно добиться, только направив пучок света на решетку наклонно. Теперь, за предел разрешения Z следует принять период решетки - d. При этом условии все щели решетки будут видны в микроскоп раздельно.

Для наклонного падения пучка света

(26)

Более качественное изображение получают, применяя иммерсионные объективы, у которых пространство между наблюдаемым объектом и входной линзой заполнено жидкостью с показателем преломления n >1. При этом увеличивается яркость изображения и повышается разрешающая способность.

Учитывая, что л = л0 / n получим для предела разрешения в этом случае:

(27)

Произведение n·sin(u) = A - называется числовой апертурой объектива. У современных микроскопов максимальное значение апертурного угла около 700, что дает для сухого объектива А = 1·sin700 = 0.94, а для иммерсионного с n = 1,5 - А = 1,5·0,94 = 1,4. Теперь для л = 555 нм получим для разрешающей способности в лучшем случае Z = 200 нм. Т.е. клетки размером более 1000 нм (10 мкм) в оптический микроскоп увидеть можно, а вот вирусы, размеры которых от 275 до 10 нм мы не увидим.

32. Дисперсия света

Строгий подход к вопросу о механизме взаимодействия электромагнитного излучения с веществом, вообще говоря, требует привлечения представлений и математического аппарата квантовой механики. Однако, как показал Лоренц, основные выводы относительно большинства оптических явлений можно получить, если рассматривать вещество как систему заряженных частиц, образованную ядрами атомов и квазиупругими связанными с ними электронами. Если один из таких электронов вывести из положения равновесия, то он будет совершать гармонические колебания с собственной частотой щ0, значение которой зависит от строения атома и места электрона в нем. Колеблющийся электрон и ядро атома образуют электрический диполь с переменным моментом - ре. В соответствии с постулатами Максвелла, это означает, что такая система будет излучать электромагнитную волну. Конечно, в системе электрон-ядро колебания будет совершать и ядро, однако его амплитуда столь незначительна, что колебаниями ядра можно пренебречь. Т.к. на генерирование волны требуется энергия, то колебания будут затухающими.

Рассмотрим, что произойдет, если световая волна частотой щ проникнет в вещество. Т.к. электромагнитные волны представляют собой переменное электромагнитное поле, то со стороны этого поля на все электроны атомов и молекул будет действовать переменная электрическая сила:

Fi = еЕi = eE0 cos(щt + ц0,i), (1)

где е - заряд электрона, E0 cos(щt + ц0,i) - напряженность поля в точке, где расположен i - ый электрон, ц0,i - начальная фаза, которая определяется положением электрона в атоме. Под воздействием этой силы электроны будут совершать вынужденные колебания с частотой щ, уравнение которых можно найти, решив дифференциальное уравнение (см. Лк № 2):

, (2)

где s - смещение электрона от положения равновесия. Это уравнение мы записали по аналогии с дифференциальным уравнением механических вынужденных колебаний, соответственно его решение имеет вид (см. Лк. № 2):

s = Аcos(щt - ц), (3)

где амплитуда -

, (4)

а отставание по фазе колебаний электрона от изменений переменной силы (1) будет определяться выражением :

, (5)

где щ0,i - собственная частота электронов i-ого сорта, в - коэффициент затухания, me - масса электрона. Вынужденные колебания электрона обуславливают излучение системой электрон-ядро вторичных электромагнитных волн, которые будут распространяться в среде со скоростью х. Если среда оптически однородна, то вторичные волны будут когерентны как между собой, так и с падающей волной. Наложение этих волн друг на друга приводит к образованию новой волны только в направлении падающего излучения. Эта новая волна представляет собой результат интерференции вторичных и первичной волны. Результирующая новая волна имеет ту же частоту, что и падающее излучение, но отличается от него амплитудой и фазой. Это означает, что скорость х распространения результирующей волны в среде не будет равна скорости света в вакууме. Это различие будет тем больше, чем ближе частота вынужденных колебаний щ к собственной частоте электронов i - ого сорта - щ0,i. Таким образом, значение скорости результирующей волны в среде зависит не только от природы вещества, но и от частоты падающего излучения. Это явление называется в физике дисперсией света.

В частности дисперсией объясняется разложение белого света (400ч700 нм) при преломлении на границе раздела двух сред на простые монохроматические волны. При этом образуется окрашенная полоска с непрерывным переходом цветов от красного к фиолетовому, которую Ньютон назвал спектром.

Как известно, отличие скорости света х в данной среде от скорости света в вакууме характеризуется абсолютным показателем преломления n: n = c/х. Поэтому явление дисперсии обычно определяют как зависимость показателя преломления n от частоты - n = f(щ) или длины волны - n = f(л). Чтобы проанализировать эту зависимость, необходимо увязать значения n с параметрами вынужденных колебаний электронов. Т.к. n = с/х = , а м для диэлектриков равно единице, то

n = . (6)

Диэлектрическую проницаемость среды можно выразить через модуль вектора поляризации Р. Если пренебречь затуханием, то в результате смещения из положения равновесия дипольный момент i-го электрона с учётом (3) и (4) будет:

(7)

Молекула в целом приобретает электрический дипольный момент

. (8)

Суммирование ведется по всем электронам молекулы. Умножив рм(t) на число молекул в единице объема N, получим мгновенное значение вектора поляризации вещества:

Р(t) = N? pм = N . (9)

По определению

, (10)

где ч - диэлектрическая восприимчивость среды.

Подставляя в (10) Р/Е из (9), получим для n2 = е:

, (11)

где е и mе - заряд и масса электрона; е0 - диэлектрическая постоянная.

Если учесть затухание электромагнитных волн в веществе, то график данной зависимости будет иметь вид.

Быстроту изменения показателя преломления характеризуют величиной , которая называется дисперсией вещества.

Перейдём к зависимости n = f(л) и проанализируем поведение дисперсии вещества в зависимости от длины волны. На участках 1 - 2 и 3 - 4 D < 0, т.е. с ростом длины волны n убывает, причем по мере приближения к значениям резонансных длин волн скорость изменения показателя преломления растет. Эта область нормальной дисперсии.

На участке 2 - 3 D > 0 и показатель преломления увеличивается практически по линейному закону - область аномальной дисперсии. Эта область совпадает с резонансной частотой колебания электронов, что приводит к сильному поглощению энергии падающей световой волны. Этот факт имеет важное практическое значение, т.к. позволяет определить частоты собственных колебаний электронов в атомах и молекулах, тем самым даёт возможность судить об их структуре.

Явление дисперсии лежит в основе широко известного метода качественного и количественного исследования веществ, который называется спектральным анализом. Практическое значение для этого метода имеет область нормальной дисперсии. Зависимость n = f(л) в этом случае достаточно хорошо описывается функцией:

, (12)

где а и b - const, зависящие от природы вещества.

33. Поглощение света

Как уже было сказано, при прохождении пучка света через вещество его энергия растрачивается на возбуждение и поддержание колебаний электронов в атомах и молекулах. Частично эта энергия возвращается излучению в виде вторичных волн, а частично переходит в другие виды энергии, свойственные процессам, которые сопровождают колебательное движение электронов. Это рост теплового движения частиц, ионизация и возбуждение атомов, фотохимические реакции и т.д. Т.о. интенсивность пучка света после прохождения через вещество уменьшается за счёт превращения энергии электромагнитного поля в другие виды энергии - это явление называется поглощением света.

В целом поглощение света носит селективный характер, т.е. разные длины волн поглощаются по-разному: одни больше, другие меньше. В частности, этим фактом объясняется окраска прозрачных тел. Например, материал будет казаться красным, если данное вещество преимущественно поглощает коротковолновую часть спектра и слабо - красные и оранжевые лучи. Особенно сильное поглощение наблюдается в области аномальной дисперсии - так называемое резонансное поглощение. Этот факт имеет важное теоретическое значение, т.к. позволяет определять частоты собственных колебаний электронов в атомах, тем самым дает возможность судить о строении атомов и молекул.

Рассмотрим, как изменяется интенсивность пучка света по мере его продвижения в веществе. Пусть на вещество падает интенсивность I0. Выделим на некоторой глубине элементарный слой толщиной dl, интенсивность на входе в который Il (рис.4). Как установил Бугер, изменение интенсивности в этом слое

dIl = - м Il dl, (13)

где коэффициент пропорциональности м зависит от свойств вещества и длины волны и называется монохроматическим, натуральным показателем поглощения. [м] = 1/м. Знак (-) указывает на убыль интенсивности по мере продвижения пучка.

Записанное выражение представляет собой дифференциальное уравнение первого порядка с разделяющимися переменными.

; ; ; .

По определению логарифма окончательно имеем:

- закон Бугера -Ламберта. (14)

Для разреженных газов и паров в атомарном состоянии показатель поглощения м для большинства длин волн близок к нулю и лишь для очень узких спектральных областей (Дл ~10-3 - 10-4 нм) обнаруживает резкие максимумы. Эти максимумы соответствуют резонансным частотам электронов практически не взаимодействующих друг с другом атомов - линейчатый спектр поглощения.

В случае многоатомных молекул обнаруживаются также частоты соответствующие колебаниям атомов внутри молекулы. В результате спектры таких веществ представляют собой сравнительно широкие (~ 0,1-100 нм) полосы поглощения. Это имеет место для твердых тел, а так же для жидкостей и газов под высоким давлением.

Для диэлектриков коэффициент поглощения невелик (10-5 - 10-7 м-1), и хотя для них характерно селективное поглощение (м велико только для определённых длин волн), в спектре наблюдаются довольно широкие полосы, что связано со строением диэлектриков.

Металлы практически непрозрачны для света (м = 105 - 107 м-1). Под воздействием электрического поля световой волны в них возникают быстропеременные токи, сопровождающиеся выделением джоулева тепла. Это приводит к быстрому превращению энергии волны во внутреннюю энергию металла. Чем выше концентрация свободных электронов в металле, тем сильнее в нем поглощается свет.

Исследуя поглощение света растворами окрашенных веществ, А. Бер показал, что в случае не поглощающего растворителя и малой концентрации растворенного вещества для монохроматического излучения справедливо:

м = ч·с, (15)

где с - концентрация, а ч - показатель поглощения для раствора единичной концентрации. Теперь закон Бугера -Ламберта для растворов примет вид:

. (16)

Это закон Бугера-Ламберта-Бера. Если см - молярная концентрация, то ч - натуральный молярный показатель поглощения. В лабораторной практике закон Бугера-Ламберта-Бера часто выражают через показательную функцию с основанием 10:

, (17)

где е - молярный показатель поглощения, если см - молярная концентрация.

Способность растворов поглощать свет характеризуют также коэффициентом светопропускания (прозрачностью) - ф = I / I0 и оптической плотностью раствора

D = lg(I0 / I) = lg(1/ф) = еcl. (18)

На явлении поглощения основаны: абсорбционный спектральный анализ, спектрофотомерия и колориметрия. Эти методы используются при исследовании химического состава и структуры молекул вещества, характера движения электронов в металлах, зонной структуры полупроводников, определении концентрации растворов и т.д. При этом измеряемыми величинами являются: I, D и ф.

34. Рассеивание света

При прохождении света через неоднородную среду ослабление интенсивности в направлении первичной волны происходит не только из-за поглощения, но и за счёт перераспределения части энергии на неоднородностях по другим направлениям. Это явление называется рассеиванием света.

В однородной чистой среде, как известно, вторичные волны, возбуждённые падающим излучением, являются когерентными. В результате их интерференции происходит полное погасание волновых процессов во всех направлениях, кроме направления распространения первичной волны, т.е. рассеивания света отсутствует.

Картина меняется, если в среде имеются хаотически распределённые неоднородности соизмеримые с длиной волны. Дифракция световых волн на таких неоднородностях частично нарушает строгие фазовые соотношения вторичных волн, что приводит к достаточно равномерному распределению части интенсивности по всем направлениям.

Если неоднородность среды создаётся беспорядочно расположенными посторонними частицами, то говорят о рассеивании Тиндаля (или диффузном рассеянии). Такие среды называются мутными. К ним относятся дымы, туманы, суспензии, эмульсии и некоторые твёрдые тела (перламутр, опалы, молочные стёкла).

Рассеивание света наблюдается и в оптически чистых средах. Появление неоднородностей в этом случае обусловлено флуктуациями плотности вещества - с, возникающими в процессе хаотического теплового движения молекул. Этот тип рассеивания называется молекулярным рассеянием.

Изучение явления рассеивания показало, что интенсивность пучка в выбранном направлении тем больше, чем меньше размер неоднородностей по сравнению с длиной волны. При этом короткие волны рассеиваются сильнее, чем длинные.

Рэлей установил, что для неоднородностей размером d < 0,2?л

I ~ ~ н4. (19)

Такая зависимость интенсивности рассеянного излучения от длины волны объясняет, почему небо имеет голубой цвет днём, а на закате кажется красным. Днём в глаз человека попадает рассеянный свет, в котором преимущественно содержится коротковолновое излучение. Утром или на закате мы воспринимаем прямые лучи, идущие от солнца и состоящие в основном из длинноволнового излучения.

Совокупность методов изучения явлений природы, основанных на измерении параметров рассеянного излучения, называется нефелометрией, а соответствующие приборы - нефелометрами.

Отметим в заключение, что в общем случае при взаимодействии пучка света с веществом имеют место оба явления. Учёт убыли энергии в направлении падающей волны из-за рассеивания видоизменит закон Бугера-Ламберта:

, (20)

где д - показатель ослабления пучка света из-за рассеяния.

35. Комбинационное рассеивание света

Комбинационное рассеяние было открыто в 1928 году (Раман, Кришнан и Ландсберг Г.С., Мандельштам Л.И.). Это явление заключается в том, что в спектре рассеивания газов, жидкостей и твёрдых тел наряду с длиной волны падающего излучения появляются частоты, представляющие собой комбинацию частоты падающего излучения щ0 и частот щi колебательных или вращательных энергетических переходов рассеивающих молекул: щ= щ0 ± щi.

Дополнительные линии в спектре комбинационного рассеивания выступают парами: «красные» спутники, т.е. линии смещённые в сторону меньших частот (больших длин волн) - щк = щ0 - щi и «фиолетовые» спутники - щФ = щ0 + щi - смещённые в сторону коротковолнового излучения

Согласно квантовой теории процесс комбинационного рассеяния, можно интерпретировать как результат неупругого соударения фотонов с молекулами. При этом фотон может отдать молекуле или получить от неё некоторое количество энергии, равное разности энергий двух уровней колебательного или вращательного движения атомов в молекуле - ДЕ = Е' - Е''. Переход молекулы из состояния Е'' в состояние Е' означает: если Е' > Е'', то энергия рассеянного фотона станет и ; если Е' < Е'', то и нф > н0 .

При обычных температурах подавляющее большинство молекул находится в основном состоянии, поэтому более вероятным является переход на уровень с большей энергией. Это значит, что переходов с образованием красных спутников будет больше, т.е. интенсивность соответствующих линий будет больше, чем для спутников фиолетовых.

Исследование спектров комбинационного рассеяния позволяет судить о строении молекул, о характере симметрии молекул, определить собственные частоты колебаний электронов, осуществлять анализ сложных молекулярных смесей и, особенно, молекул органических.

36. Физика атомов и молекул

Применение модели строения атомов, предложенной в 1913 году Н. Бором (датч.), к многоэлектронным атомам, показало, что эта теория несостоятельна и требуется новый, отличный от законов классической механики подход к изучению условий движения электронов в атоме. Первый шаг в этом направлении сделал в 1924 году французский физик Луи де Бройль. Развивая принцип корпускулярно-волнового дуализма, де Бройль утверждал: не только фотоны, но и любые другие частицы материи, в том числе и электроны, наряду с корпускулярными обладают также и волновыми свойствами.

Т.о. согласно де Бройлю с каждым микрообъектом связываются, с одной стороны, корпускулярные характеристики (энергия е и импульс р), а с другой - волновые параметры (частота нБ и длина волны лБ). Количественные соотношения, связывающие эти величины, такие же, как и для фотонов:

е = hнБ , р = . (1)

Т.о. любой частице, обладающей импульсом р = mх, соответствует волновой процесс с длиной волны

. (2)

Например, электронам ускоренным электрическим полем с разностью потенциалов от 1 до 104 В, что имеет место в электровакуумных приборах, соответствует дебройлевская длина волны от 1 до 0,01 нм. По шкале электромагнитных волн это диапазон рентгеновского излучения. Следовательно, если пучок таких электронов направить на кристалл, то он должен дифрагировать подобно рентгеновскому излучению. И действительно, проверяя гипотезу де Бройля, в 1927 году американские физики К. Девиссон и Л. Джермер направили на кристалл никеля пучок электронов, который после рассеяния дал четкую дифракционную картину Расчет длины волны по положениям дифракционных максимумов дал значение, совпадающее с длинной волны, вычисленной по формуле (2).

Следует иметь ввиду, что волны де Бройля не связаны с каким-либо колебательным процессом. Они только лишь характеризуют волновые свойства движущихся частиц, в том числе и макроскопических тел. Однако для тел большой массы длина волны де Бройля настолько мала, что ее невозможно обнаружить никакими современными приборами.

Открытие волновых свойств микрочастиц привело к появлению новых исследовательских физических методов. В настоящее время широкое распространение имеют электронография (основана на дифракции электронов) и нейтронография (дифракция нейтронов).

Методы электронографии широко используются при исследовании структуры поверхностей, процессов коррозии, адсорбции газов и ряда других поверхностных явлений. Это связано с тем, что наличие заряда у электронов вызывает их сильное взаимодействие с электронными оболочками атомов вещества и как следствие рассеяние электронов атомами поверхностного слоя исследуемого тела.

Нейтронография оказывается особенно полезной при изучении структур содержащих водород, в частности органических веществ. Объясняется это тем, что нейтроны сильно поглощаются атомами водорода, в то время как электроны и рентгеновские лучи слабо взаимодействуют с водородосодержащими молекулами.

Волновые свойства частиц можно использовать не только для дифракционного структурного анализа, но и для получения увеличенных изображений предметов. Электронные микроскопы позволяют получить увеличение порядка 105 - 106, а их предел разрешения в сравнении с оптическим микроскопом в тысячу раз меньше.

37. Соотношение неопределённостей

Обнаружение волновых свойств микрочастиц означает, что классическая механика не может дать правильного описания поведения микро-объектов. Новая физическая теория, устанавливающая законы движения и взаимодействия микрочастиц и фотонов с учетом их волновых и корпускулярных свойств, была разработана, главным образом, тремя физиками: Э. Шредингером (австр.), В. Гейзенбергом (нем.) и П. Дираком (англ.) в начале ХХ века и получила название волновой или квантовой механики.

В классической механике всякая частица движется по определённой траектории, так что ее координаты и импульс могут быть точно рассчитаны для любого момента времени. Совсем по иному обстоит дело, если рассматривается вопрос о локализации волнового процесса, т.е. о месте нахождения волны в данный момент времени. Ведь волна не имеет ни определенной траектории, ни определенной координаты. Т.о. возникает необходимость внести некоторые ограничения в применении к объектам микромира понятий классической механики.

Эти ограничения сформулированы Гейзенбергом и получили название соотношений неопределенностей. Основное из них гласит: чем точнее определены какие-либо из координат частицы, тем больше неопределенность в значении составляющей импульса (или скорости) в том же направлении, и наоборот. Количественно это записывается так:

Дx?Дpx ? ђ Дx?Дхx ? ђ/m,

Дy?Дpy ? ђ Дy?Дхy ? ђ/m, (3)

Дz?Дpz ? ђ Дz?Дх z ? ђ/m,

где Дx, Дy, Дz - неопределенности координат; Дpx, Дpy, Дpz - неопреде-ленности проекций импульса на соответствующие оси - x, y, z. Дхx, Дхy , Дхz - неопределенности проекций скоростей на оси - x, y, z; m - масса микрочастицы; ђ = h/2р - постоянная Планка с крышечкой.

Из соотношения неопределенностей следует: если положение частицы точно известно (Дx=0), то в этом состоянии проекция импульса на ось х-ов совершенно не определена (Дpх > ?), и наоборот.

Покажем, что соотношение неопределенностей действительно вытекает из волновых свойств микрочастиц. Рассмотрим мысленный опыт по дифракции потока электронов на щели шириной Дx ~ л, расположенной перпендикулярно к направлению движения частиц.

До прохождения через щель pх = 0; ?pх = 0, а координата x не определена, т.е. ?x > ?. В момент прохождения через щель координата электрона имеет неопределенность ?x. В то же время, из-за дифракции, электроны отклоняются от первоначального направления и будут двигаться в пределах угла 2ц, где ц - угол дифракции. Теперь появляется неопределенность в значении составляющей импульса вдоль оси x-ов:

?pх = p?sinц = h sinц / лБ (4)

Если даже ограничиться электронами, попадающими на экран в пределах центрального максимума, то sinц найдем из условия 1-ого минимума на щели (bsinц = kл, где b - ширина щели, k - порядок минимума):

?x?sinц = лБ. (5)

Подставляя выражение для sinц в (4), после преобразования получим

Дx?Дpx = h (6)

Учитывая главные max более высоких порядков, куда тоже попадают электроны, окончательно будем иметь:

Дx?Дpx ? h ? ђ (7)

Следует подчеркнуть, что невозможность одновременного и точного определения координаты и соответствующей составляющей импульса не связана с несовершенством наших знаний или неточностью приборов, а является следствием специфических и вместе с тем объективных свойств микрообъектов.

Проиллюстрируем оценку границ применимости теории на примерах.

Скорость движения электрона в электроннолучевой трубке составляет хх=106 м/с и определена с точностью до Дхх=102 м/с. Тогда неопределенность координаты:

Дx?Дхx ? ђ/m,

т.е. в данном случае можно говорить о точке падения каждого отдельного электрона на экран и о траектории.

Скорость движения электрона в атоме водорода хх ~ 106 м/с, неопределенность координаты порядка диаметра атома Дx = d ~10-10 м. Тогда неопределенность величины скорости

Т.е. неопределенность скорости соизмерима с самой скоростью. Это означает, что электрон не может теперь рассматриваться как дискретная частица.

Соотношение неопределенностей может быть записано для любой пары взаимосвязанных характеристик состояния микрочастиц, например, для энергии и времени пребывания в этом энергетическом состоянии:

ДЕ?Дt ? ђ (8)

Из данного соотношения видно, что разброс энергии ДЕ = ђ/Дt возрастает с уменьшением среднего времени пребывания системы в состоянии с энергией Е. Отсюда, следует, что частота излученного фотона также должна иметь неопределенность

Дv = ДЕ / h, (9)

т.е. линии спектра, обусловленные переходом электронов между уровнями Е1 и Е2 с ДЕ = Е1 - Е2, будут иметь размытие по частоте равное Дv= v0 ± ДЕ / h, что подтверждается опытом.

38. Волновая функция

Дифракционная картина, наблюдаемая для микрочастиц, характеризуется неодинаковым распределением рассеянных частиц по разным направлениям. С точки зрения волновой теории это означает, что направлениям максимумов соответствует наибольшая интенсивность волн де Бройля, а минимумам - наименьшая. Т.е. интенсивность волны де Бройля в данной точке пространства определяет число частиц, попавших в эту точку. Т.о. дифракционная картина для микрочастиц является проявлением статистической закономерности. Это означает, что описание поведения микрочастиц должно носить вероятностный характер, что и является важнейшей отличительной особенностью квантовой теории.

Состояние микрочастиц в квантовой механике описывается с помощью, так называемой, волновой функции вида ш = f(x,y,z,t). Ее называют еще ш-функция. Квадрат модуля ш-функции определяет вероятность обнаружения частицы в момент времени t в области с координатами: x и x + dx; y и y + dy; z и z + dz - т.е. в элементе объема dV = dx dy dz:

dW = | ш |2 dV (10)

Величина | ш |2 = dW /dV - имеет смысл плотности вероятности, т.е. определяет вероятность нахождения частицы в единичном объеме в окрестностях точки с координатами x,y,z. Т.о. физический смысл имеет не сама ш-функция, а квадрат её модуля, |ш|2, которым и задается интенсивность волн де Бройля. Теперь вероятность найти частицу в момент времени t в объеме V будет:

. (11)

Очевидно, что объективность существования частицы во времени и в пространстве будет выражаться вероятностью достоверного события:

. (12)

Это соотношение является условием нормировки ш- функции.

Волновая функция позволяет рассчитать вероятность реализации тех или иных значений параметров микрообъекта или их средние величины, например, расстояние электрона от ядра атома или вероятность перехода электрона с одного энергетического уровня на другой, что в свою очередь позволяет оценить относительную интенсивность спектральных линий.

Что бы ш-функция являлась объективной характеристикой состояния микрочастицы она должна удовлетворять следующим условиям: быть 1) конечной, т.к. W ? 1; 2) однозначной, т.к. вероятность не может быть неоднозначной; 3) непрерывной, т.к. вероятность не может изменяться скачком.

39. Уравнение шредингера

В зависимости от конкретных условий волновая функция, как основной носитель информации о корпускулярных и волновых свойствах микрочастиц должна иметь разный вид. Соответственно, уравнение из которого определяется вид ш-функции должно быть волновым, подобно дифференциальному волновому уравнению механических или электромагнитных волн. Такое уравнение составлено в 1926 году Э. Шредингером. В наиболее простом случае для стационарных режимов, когда состояние движущейся частицы не зависит от времени U = const, оно имеет вид:

, (13)

где - оператор Лапласа, m - масса частицы, Е и U - полная и потенциальная энергии частицы.

Следует иметь в виду, что уравнение Шредингера нельзя вывести из каких-либо ранее известных соотношений. Оно постулируется на основе большого числа опытных данных, подобно тому, как это имело место с за-конами динамики Ньютона. Правильность этого уравнения подтверждается согласием с опытом тех результатов, которые получают с его помощью. Это, в свою очередь, придает ему характер закона природы.

40. Электрон в потенциальной яме

Рассмотрим, в качестве примера использования уравнения Шредингера, задачу о движении частицы вдоль оси х-ов в пределах 0 ‹ х ‹ l. Это означает, что ш = 0, U> ? - при х ? 0 и при х ? l. По условию внутри заданного интервала при 0 ‹ х ‹ l - ш ? 0, а U = const. Выберем нулевой уровень потенциальной энергии так, чтобы он совпадал с осью х-ов. Тогда внутри интервала U = 0. Е - это кинетическая энергия частицы. Теперь (13) примет вид:

. (14)

(15)

С учетом (15), (14) перепишется:

Дш + щ2ш = 0 (16)

Это дифференциальное уравнение второго порядка с постоянными коэффициентами. Его решение имеет вид:

Ш(х) = А sin (щх + б0 ) (17)

Используя граничные условия, найдем: Ш(0) = А sin б0 = 0 , что имеет место при б0 = 0. С учетом этого факта, Ш(l) = А sin щl = 0. Это возможно, если щl = ± рn, где n =1,2,3… . Следовательно, и из соотношения (15), для Е, получим:

(18)

Т.о., микрочастица в потенциальной яме может иметь только определенные значения энергии, т.е. энергия квантуется.

Оценим расстояние между соседними уровнями:

(19)

При m ~ 10-31 кг, n =1 и l ~ 10-10 м - ?Е ~ 4,5 эВ, что хорошо согласуется с данными по водороду. Если l ~ 10-1 м, когда электрон можно считать свободным, то ?Е ~ 10-16 эВ, т.е. энергетические уровни практически сольются.

Определим амплитуду А волновой функции. Воспользуемся для этого условием нормировки:

.

Проинтегрировав, получим . Подставив в (17) щ = рn / l и выражение для амплитуды А, получим окончательный вид волновых функций:

, (n = 1, 2, 3 … .) (20)

(21)

41. Атом водорода

Квантовомеханическое описание состояний атомов и молекул с помощью уравнения Шредингера является достаточно сложной задачей. Наиболее просто она решается для водородоподобных атомов, электронная оболочка которых содержит один электрон: однократно ионизированный гелий, двукратно ионизированный литий и т. д.

Атом водорода состоит из одного протона и одного электрона. Т.к. масса протона многократно больше массы электрона, то можно считать, что электрон находится в электрическом потенциальном поле ядра и его потенциальная энергия

(22)

Графически U = f(r) имеет вид потенциальной ямы с гиперболическими стенка-ми и без дна. Уравнение Шредингера (13) примет вид:

(23)

Решение этого уравнения выходит за рамки наших возможностей. По этой причине ограничимся описанием результатов этого решения.

Отметим, прежде всего, что т.к. это пространственная задача, то решение можно представить в виде трех функций, каждая из которых зависит только от одной переменной - х, y или z. Каждая из них представляет собой дискретный набор решений, за который отвечает определенный набор целых чисел, который называются квантовыми. Во-вторых, функции, удовлетворяющие требованиям однозначности, конечности и непрерывности, и, являющиеся решениями уравнения (23), существуют только в том случае, если собственные значения энергии электрона в атоме равны:

, (24)

где n - главное квантовое число (n = 1, 2, 3, 4…), которое определяет уровни полной энергии электрона.

Из решения уравнения Шредингера вытекает также, что орбитальный момент импульса электрона тоже квантуется. Орбитальное (азимутальное) квантовое число l определяет дискретные значения орбитального момента импульса электрона относительно ядра.

. (25)

При заданном n, l принимает значения: 0, 1, 2, … n-1.

ml - магнитное квантовое число, которое определяет значения проекций момента импульса Le на любое выбранное направление Z.

Le,z=mlh . (26)

При заданном l, ml принимает значения: 0, ±1, ±2, ±3…±l. может иметь только такие ориентации в пространстве, для которых выполняется (26), т.е. Le может иметь 2l+1 ориентацию в атоме.

Таким образом каждому En (кроме Е1) будет соответствовать несколько волновых функций шn,l,m с разными l и ml. Это означает - атом водорода может иметь одно и то же значение энергии, находясь в нескольких различных состояниях - всего их n2.

В 1822 г. было обнаружено, что электрон обладает собственным механическим моментом импульса, который не связан с орбитальным движением. Этот собственный момент назвали спином. Спин электрона и всех других микрочастиц квантуется. s (ms) - спиновое квантовое число.

(27)

По аналогии с орбитальным моментом проекция спина квантуется так, что может принимать 2s+1 положение в атоме. Впоследствии выяснили, что в атоме может иметь только два положения, т.е. 2s+1=2, тогда s = + Ѕ и определяет возможные значения проекции спина на направление Z.


Подобные документы

  • Правила выполнения контрольных работ. Кинематика поступательного движения. Силы в механике. Закон сохранения импульса. Затухающие и вынужденные колебания. Волны, механизм их возникновения. Звук, его характеристики. Распределения Максвелла и Больцмана.

    методичка [253,8 K], добавлен 02.06.2011

  • Механика твёрдого тела, динамика поступательного и вращательного движения. Определение момента инерции тела с помощью маятника Обербека. Сущность кинематики и динамики колебательного движения. Зависимость углового ускорения от момента внешней силы.

    контрольная работа [1,7 M], добавлен 28.01.2010

  • Динамика вращательного движения твердого тела относительно точки, оси. Расчет моментов инерции некоторых простых тел. Кинетическая энергия вращающегося тела. Закон сохранения момента импульса. Сходство и различие линейных и угловых характеристик движения.

    презентация [913,5 K], добавлен 26.10.2016

  • Изучение кинематики и динамики поступательного движения на машине Атвуда. Изучение вращательного движения твердого тела. Определение момента инерции махового ко-леса и момента силы трения в опоре. Изучение физического маятника.

    методичка [1,3 M], добавлен 10.03.2007

  • Вывод формулы для нормального и тангенциального ускорения при движении материальной точки и твердого тела. Кинематические и динамические характеристики вращательного движения. Закон сохранения импульса и момента импульса. Движение в центральном поле.

    реферат [716,3 K], добавлен 30.10.2014

  • Измерение полного импульса замкнутой системы. Строение и свойства лазерного наноманипулятора. Направление момента силы относительно оси. Закон изменения и сохранения момента импульса. Уравнение движения центра масс. Системы отсчета, связанные с Землей.

    презентация [264,6 K], добавлен 29.09.2013

  • Гидроаэромеханика. Законы механики сплошной среды. Закон сохранения импульса. Закон сохранения момента импульса. Закон сохранения энергии. Гидростатика. Равновесие жидкостей и газов. Прогнозирование характеристик течения. Уравнение неразрывности.

    курсовая работа [56,6 K], добавлен 22.02.2004

  • Динамика вращательного движения твердого тела относительно точки и оси. Расчет моментов инерции простых тел. Кинетическая энергия вращающегося тела. Закон сохранения момента импульса. Сходство и различие линейных и угловых характеристик движения.

    презентация [4,2 M], добавлен 13.02.2016

  • Определение вязкости глицерина и касторового масла, знакомство с методом Стокса. Виды движения твердого тела. Определение экспериментально величины углового ускорения, момента сил при фиксированных значениях момента инерции вращающейся системы установки.

    лабораторная работа [780,2 K], добавлен 30.01.2011

  • Теоретическая механика (статика, кинематика, динамика). Изложение основных законов механического движения и взаимодействия материальных тел. Условия их равновесия, общие геометрические характеристики движения и законы движения тел под действием сил.

    курс лекций [162,2 K], добавлен 06.12.2010

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.