Физические основы систем единиц микроизмерений для нанотехнологий
Обоснование нового подхода к применению систем единиц в дисциплинах, связанных с нанотехнологиями, основанный на использовании констант. Анализ связи между управлениями описывающими действие, и информацией. Физические эталоны в области наноизмерений.
Рубрика | Производство и технологии |
Вид | статья |
Язык | русский |
Дата добавления | 01.02.2019 |
Размер файла | 39,3 K |
Соглашение об использовании материалов сайта
Просим использовать работы, опубликованные на сайте, исключительно в личных целях. Публикация материалов на других сайтах запрещена.
Данная работа (и все другие) доступна для скачивания совершенно бесплатно. Мысленно можете поблагодарить ее автора и коллектив сайта.
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
История создания международной системы единиц СИ. Характеристика семи основных единиц, ее составляющих. Значение эталонных мер и условия их хранения. Приставки, их обозначение и значение. Особенности применения системы СМ в международных масштабах.
презентация [1,6 M], добавлен 15.12.2013Метрология в современном понимании – наука об измерениях, методах и средствах обеспечения их единства и способах достижения требуемой точности. Физические величины и международная система единиц. Систематические, прогрессирующие и случайные погрешности.
контрольная работа [1,1 M], добавлен 28.06.2011Методы напыления и физические основы нанесения тонких пленок, основные требования и системы оборудования для нанесения тонких плёнок, элементы вакуумных систем и устройство вакуумных камер для получения тонких плёнок. Экономическое обоснование проекта.
дипломная работа [4,2 M], добавлен 01.03.2008Основные сведения о физических величинах, их эталоны. Система международных единиц, классификация видов и средств измерений. Количественные оценки погрешности. Измерение напряжения и силы тока. Назначение вольтметра, осциллографа и цифрового частотомера.
шпаргалка [690,1 K], добавлен 14.06.2012Образовательные учебные программы и планы при кредитной технологии обучения. Методика и техника подготовки и проведения занятий и лекций в вузе. Физические основы магнетронных распылительных систем. Металлизация керамики ВеО магнетронным напылением.
отчет по практике [1,2 M], добавлен 29.04.2014История единиц измерения во Франции, их происхождение от римской системы. Французская имперская система единиц, распространенное злоупотребление стандартами короля. Правовая основа метрической системы, полученная в революционной Франции (1795-1812).
презентация [1,5 M], добавлен 06.12.2015Семь основных системных величин в системе величин, которая определяется Международной системой единиц СИ и принята в России. Математические операции с приближенными числами. Характеристика и классификация научных экспериментов, средств их проведения.
презентация [226,6 K], добавлен 09.12.2013Структура технического регламента. Обязательные технические и юридические требования по применению единиц физической величины, методов и средств измерений. Функция проверки и подтверждения соответствия. Основные принципы технического регулирования.
реферат [28,4 K], добавлен 21.03.2015Понятие нанотехнологий. Нанотехнология как научно-техническое направление. История развития нанотехнологий. Современный уровень развития нанотехнологий. Применение нанотехнологий в различных отраслях. Наноэлектроника и нанофотоника. Наноэнергетика.
дипломная работа [569,7 K], добавлен 30.06.2008Принцип построения систем единиц физических величин Гаусса, базирующийся на метрической системе мер с отличающимися друг от друга основными единицами. Диапазон измерения физической величины, возможности и методы ее измерения и их характеристика.
реферат [304,1 K], добавлен 31.10.2013