Определение ширины запрещенной зоны полупроводника по температурной зависимости обратного тока диода

Описание экспериментальной установки и методики эксперимента. Рассмотрение основных расчетных формул абсолютной погрешности косвенного измерения величины. Измерение ширины запрещённой зоны собственного полупроводника, из которого изготовлен диод.

Рубрика Физика и энергетика
Вид лабораторная работа
Язык русский
Дата добавления 23.03.2014
Размер файла 150,5 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http:www.allbest.ru/

Министерство образования и науки Российской Федерации

Факультет дистанционного образования (ФДО)

ТОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ (ТУСУР)

Кафедра физики

Лабораторная работа по курсу "Общая физика"

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ШИРИНЫ ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ

ПОЛУПРОВОДНИКА ПО ТЕМПЕРАТУРНОЙ

ЗАВИСИМОСТИ ОБРАТНОГО ТОКА ДИОДА

Студент группы з-362-а

Илларионов П. М.

2014

1. ЦЕЛЬ РАБОТЫ

Целью работы является исследование температурной зависимости обратного тока диода и определение ширины запрещенной зоны полупроводника.

2. ОПИСАНИЕ УСТАНОВКИ И МЕТОДИКИ ЭКСПЕРИМЕНТА

Экспериментальная установка состоит из нагревателя, в котором находится германиевый диод, термометра для измерения температуры и электрической схемы. Электрическая схема включения диода представлена на рис. 2.1. Она состоит из понижающего трансформатора Т, выпрямителя

V1-V4 и микроамперметра P1 для измерения тока через исследуемый диод V5.

Рисунок 2.1 - Электрическая схема экспериментальной установки.

3. ОСНОВНЫЕ РАСЧЕТНЫЕ ФОРМУЛЫ

Экспериментальное значение ширины запрещенной зоны (в Дж)

Е = a k, (3.1)

где k - постоянная Больцмана;

a - угловой коэффициент линеаризованного графика lnIобр = f(1/T), который находится по формуле диод полупроводник погрешность

(3.2)

Формула для расчета абсолютной погрешности косвенного измерения величины

(3.3)

где (3.4)

где - единица в наименьшем разряде данного показания прибора.

Погрешность косвенного измерения величины :

(3.5)

где у(T) является погрешностью прямого измерения показаний температуры, в данном случае равна половине цены деления прибора, т. е. 0,5 K.

4. РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ И ИХ АНАЛИЗ

В таблице 4.1 приведены результаты прямых и косвенных измерений, а также значения соответствующих погрешностей.

Таблица 4.1 - Результаты прямых и косвенных измерений

Т, К

1/Т, 10-3 К-1

?(1/T)?10?3

Jобр мкА

ln Jобр

?(ln Jобр)*

305

310

315

320

325

330

335

340

345

350

3,279

3,226

3,175

3,125

3,077

3,030

2,985

2,941

2,899

2,857

0,0107

0,0104

0,0101

0,0098

0,0095

0,0092

0,0089

0,0087

0,0084

0,0082

0,00073

0,00114

0,00175

0,00264

0,00394

0,00579

0,00848

0,01220

0,01737

0,02444

-7,220

-6,778

-6,350

-5,937

-5,537

-5,151

-4,770

-4,406

-4,053

-3,712

0,00014

0,00088

0,00057

0,00038

0,00025

0,00017

0,00012

0,00008

0,00058

0,00041

Расчеты проведены в `Microsoft Excel'

На рисунке 4.1 приведена зависимость .

Рисунок 4.1 - Зависимость

5. ВЫВОДЫ

В результате проделанной работы мы исследовали температурную зависимость обратного тока стандартного диода и определили ширину запрещённой зоны полупроводника, из которого изготовлен диод (германия).

По ф. (2.4) на стр. 7 руководства [2] вычисляется ширина запрещённой зоны диода ?E: 0,7181 эВ

Абсолютная погрешность ?(?E) оценивается по формуле из таблицы 7.1 на стр. 7 п. [1]: 0,00043 эВ

?E = (718,1 ± 0,4)?10?3 эВ;

6. ОТВЕТЫ НА КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1. Каков смысл понятий “валентная зона”, “зона проводимости”, “запрещённая зона”?

Валентная зона-зона, образованная расщеплением уровней валентных электронов и является верхней из заполненных электронами зон.

Зона проводимости - зона наибольших энергий, расположена выше валентной зоны.

Запрещённая зона- области значений энергии, которыми не может обладать электрон идеального кристалла.

2. Что такое “дырка” с точки зрения зонной теории?

В процессе генерации пары носителей заряда, образуется не занятое электроном энергетическое состояние в валентной зоне- “дырка проводимости” или “дырка”.

3. Каков физический смысл уровня Ферми?

Уровень Ферми - это энергетический уровень, соответствующий энергии Ферми, физический смысл которой - распределения электронов по состояниям: т.е энергия Ферми - это максимально допустимая энергия, ниже которой при нулевой абсолютной температуре все энергетические уровни заняты [f(E) = 1], а выше которой все уровни пусты [f(E) = 0]. Для полупроводников, у которых при абсолютном нуле валентная зона полностью заполнена, а зона проводимости совершенно свободна, функция распределения имеет разрыв. Следовательно, уровень Ферми в полупроводнике должен лежать при абсолютном нуле в запрещенной зоне.

4. Каким образом в полупроводниках создается проводимость р- или n- типа?

Проводимость р- или n- типа в полупроводниках создаётся добавлением в кристалл примесей (атомов постороннего вещества) т.е. легированием.

Примеси делятся на доноры и акцепторы.

Доноры, или донорные примеси - это примеси, поставляющие электроны в объём полупроводника, т.е. увеличивающие электронную проводимость. Такие полупроводники, с преобладанием электронной проводимости над дырочной, называют полупроводниками n- типа.

Акцепторы, или акцепторные примеси - это примеси захватывающие валентные электроны вещества и создающие тем самым дырки. Такие полупроводники, с преобладанием дырочной проводимости над электронной называют полупроводниками p- типа.

5. Объясните механизм электропроводности собственных и примесных полупроводников?

Электропроводность, обусловленную генерацией пар носителей заряда электрон-дырка, называется собственной электропроводностью.

В кристалле чистого полупроводника при нарушении ковалентных связей возникает одинаковое число свободных электронов и дырок. Одновременно с этим происходит обратный процесс - рекомбинация, при которой свободные электроны заполняют дырки, образуя нормальные ковалентные связи. При определённой температуре число свободных электронов и дырок в единице объёма полупроводника в среднем остаётся постоянным. При повышении температуры число свободных электронов и дырок возрастает, и проводимость значительно увеличивается.

Примесная проводимость - это проводимость, обусловленная внесением в кристаллические решетки чистых полупроводников примесей. Вводя в кристалл полупроводника атомы других элементов, можно получить в кристалле преобладание свободных электронов над дырками или, наоборот, преобладание дырок над свободными электронами. В примесном полупроводнике наряду с примесной электропроводностью существует собственная электропроводность.

6. Нарисуйте зонные диаграммы полупроводников р- типа и n- типа, зонную диаграмму p-n перехода. Объясните их.

На рис.1 изображена зонная диаграмма полупроводника n - типа. Уровень энергии , соответствующий донорной примеси, лежит в запрещённой зоне “ниже” на 0,01эВ для германия и на 0,05 эВ для кремния. Поэтому уже при комнатной температуре почти все доноры будут ионизированы, т.е. “лишние” электроны атомов донорной примеси перейдут в зону проводимости. Концентрация электронов в зоне проводимости примерно равна концентрации атомов примеси, и уровень Ферми будет находиться при этом между и .

На рис.2 изображена зонная диаграмма полупроводника p - типа. Уровень энергии акцепторов находится тоже внутри запрещённой зоны, но вблизи потолка валентной зоны. Для большинства акцепторов в германии разность -равна 0,01 эВ и (0,05+0,1) эВ в кремнии. Вследствие малости этой энергии акцепторы при обычных температурах будут все ионизированы, что соответствует переходу электронов из валентной зоны на акцепторный уровень; уровень Ферми в этом случае будет расположен между и .

P - n - переход образуется при соединении полупроводников p- и n- типа(рис.3). На нём хорошо видно, что существует энергетический барьер для перехода основных носителей через p-n-переход.

Рис.1 Рис.2

Рис.3

7. Чем обусловлен обратный ток полупроводникового диода?

Обратный ток полупроводникового диода обусловлен приложенным к нему напряжением. Чем напряжение больше, тем меньше обратный ток.

8. Почему в данной работе исследуемый диод нужно включать в запорном направлении?

Целью данной работы является исследование температурной зависимости обратного тока стандартного диода и определение ширины запрещенной зоны полупроводника, из которого изготовлен диод. Поэтому, включая в запорном направлении исследуемый диод, мы, исследуя температурную зависимость обратного тока этого диода, можем измерить ширину запрещённой зоны собственного полупроводника, из которого изготовлен данный диод.

Размещено на Allbest.ru


Подобные документы

  • Энергетическая зонная структура и абсолютный минимум зоны проводимости у кремния. Измерение спектра собственного поглощения образца кремния с помощью электронно-вычислительного комплекса СДЛ-2. Оценка ширины запрещенной зоны исследуемого полупроводника.

    курсовая работа [376,2 K], добавлен 08.06.2011

  • Прямые и косвенные измерения напряжения и силы тока. Применение закона Ома. Зависимость результатов прямого и косвенного измерений от значения угла поворота регулятора. Определение абсолютной погрешности косвенного измерения величины постоянного тока.

    лабораторная работа [191,6 K], добавлен 25.01.2015

  • Применение полупроводникового кремния. Характерные значения и методы определения ширины запрещенной зоны в полупроводниках, ее зависимость от температуры в кремнии. Экспериментальные и теоретические методы исследования зонной структуры твердых тел.

    контрольная работа [301,6 K], добавлен 11.02.2014

  • Определение величины обратного тока диодной структуры. Расчет вольт-амперной характеристики идеального и реального переходов. Зависимости дифференциального сопротивления, барьерной и диффузионной емкости, толщины обедненного слоя от напряжения диода.

    курсовая работа [362,1 K], добавлен 28.02.2016

  • Полупроводниковый кремний как один из важнейших полупроводниковых материалов, используемых в настоящее время. Ширина энергетического зазора между дном зоны проводимости и потолком валентной зоны, в котором отсутствуют разрешённые состояния для электрона.

    контрольная работа [417,4 K], добавлен 25.11.2012

  • Напряжение тока и сопротивление диода. Исследование вольтамперной характеристики для полупроводникового диода. Анализ сопротивления диода. Измерение напряжения и вычисление тока через диод. Нагрузочная характеристика параметрического стабилизатора.

    практическая работа [2,0 M], добавлен 31.10.2011

  • Импульсные лазеры как источник высокоэнергетического излучения. Исследование концентрационной зависимости параметра кристаллической решетки и ширины запрещенной зоны твердого раствора методами рентгеновской дифрактометрии и оптической спектроскопии.

    реферат [1,9 M], добавлен 26.06.2010

  • Механизм действия полупроводникового диода - нелинейного электронного прибора с двумя выводами. Работа стабилитрона - полупроводникового диода, вольтамперная характеристика которого имеет область зависимости тока от напряжения на ее обратном участке.

    презентация [182,4 K], добавлен 13.12.2011

  • Традиционные термоэлектрические материалы, теллуриды висмута и свинца. Улучшение термоэлектрической добротности однородных материалов. Термовольтаический эффект в поликристаллическом SmS. Выбор оптимальной концентрации носителей и ширины запрещённой зоны.

    дипломная работа [1,3 M], добавлен 11.07.2015

  • Составление и обоснование электрической схемы измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов. Определение перечня необходимых измерительных приборов и оборудования, сборка экспериментальной установки. Построение графиков зависимостей.

    курсовая работа [1,3 M], добавлен 19.11.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.