Особенности геометрических измерений наноразмерных объектов методами растровой электронной микроскопии
Рассмотрение основных способов определения значения линейных размеров в субмикронном диапазоне. Особенности геометрических измерений наноразмерных объектов методами растровой электронной микроскопии. Анализ процедуры калибровки размера на изображении.
| Рубрика | Производство и технологии |
| Вид | статья |
| Язык | русский |
| Дата добавления | 24.03.2019 |
| Размер файла | 2,6 M |
Соглашение об использовании материалов сайта
Просим использовать работы, опубликованные на сайте, исключительно в личных целях. Публикация материалов на других сайтах запрещена.
Данная работа (и все другие) доступна для скачивания совершенно бесплатно. Мысленно можете поблагодарить ее автора и коллектив сайта.
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Типы линейных размеров детали: номинальный, действительный, предельный. Виды измерений по способу нахождения численного значения физической величины, числу наблюдений. Калибровка измерительных приборов. Датчики и инструменты контроля линейных размеров.
презентация [1,2 M], добавлен 24.04.2016Общая характеристика объектов измерений в метрологии. Понятие видов и методов измерений. Классификация и характеристика средств измерений. Метрологические свойства и метрологические характеристики средств измерений. Основы теории и методики измерений.
реферат [49,4 K], добавлен 14.02.2011Метрологические характеристики, нормирование погрешностей и использование средств измерений. Класс точности и его обозначение. Единицы средств измерений геометрических и механических величин. Назначение и принцип работы вихретоковых преобразователей.
контрольная работа [341,3 K], добавлен 15.11.2010Этапы проведения измерений. Вопрос о предварительной модели объекта, обоснование необходимой точности эксперимента, разработка методики его проведения, выбор средств измерений, обработка результатов измерений, оценки погрешности полученного результата.
реферат [356,6 K], добавлен 26.07.2014Описание метода атомно-силовой микроскопии, его достоинства и недостатки. Схематическое устройство атомно-силового микроскопа. Особенности осуществления процесса сканирования. Применение атомно-силовой микроскопии для определения морфологии тонких пленок.
реферат [883,8 K], добавлен 09.12.2015Основы технических измерений. Общая характеристика объектов измерений. Метрологические свойства и характеристики средств измерений. Принципы рациональной организации производственного процесса. Государственный метрологический контроль и надзор.
курсовая работа [39,0 K], добавлен 08.07.2015Цели разработки государственных стандартов Российской Федерации. Определения стандартов, условные обозначения, применение. Альтернативы основному методу определения стандартных отклонений повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений.
реферат [47,3 K], добавлен 12.11.2013Классификация поверхностей, кинематический способ их образования. Понятие определителей их геометрических границ. Проецирование геометрических тел, анализ, специфика его основных методов. Построение проекции шара, развертки поверхности усеченной пирамиды.
контрольная работа [783,3 K], добавлен 21.01.2015Общие положения Государственной системы обеспечения единства измерений. Передача размеров единиц физических величин, их поверочные схемы. Способы поверки средств измерений. Погрешности государственных первичных и специальных эталонов, их оценка.
контрольная работа [184,3 K], добавлен 19.09.2015Освоение курса основ взаимозаменяемости и технических измерений как часть профессиональной подготовки инженеров. Характеристика правил оформления конструкторской и технологической документации. Особенности измерения геометрических параметров деталей.
курсовая работа [1,1 M], добавлен 27.04.2014
