Электрические характеристики кремниевого интегрального n-канального МДП транзистора
Структура и топология МДП-транзистора. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели и с учётом неоднородности ОПЗ под затвором. Параметры малосигнальной эквивалентной схемы. Корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала.
Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
Вид | курсовая работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 07.08.2013 |
Размер файла | 246,2 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
Курсовая работа
по предмету Вакуумная и плазменная электроника
Расчёт электрических характеристик кремниевого интегрального n-канального МДП транзистора
Выполнил: Баховский В.В.
группа ЭКТ-44
Проверил: Красюков А.В.
Москва 2012
Содержание
1. Исходные данные. Задание
2. Структура и топология МДП-транзистора
3. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора
4. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели
5. Расчёт ВАХ с учётом неоднородности ОПЗ под затвором
6. Малосигнальная эквивалентная схема и ее параметры
7. Факультативное задание: Расчёт и корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала
8. Факультативное задание: Расчёт реальной ВАХ, зависящей от
9. Факультативное задание: Расчёт параметров эквивалентной схемы
1. Исходные данные. Задание
Таблица - Исходные данные. Вариант №__
1 |
Материал затвора |
N+-Si* |
|
2 |
Длина канала L, мкм |
3 |
|
3 |
Ширина канала W, мкм |
50 |
|
4 |
Толщина подзатворного диэлектрика (SiO2) d, мкм |
0.04 |
|
5 |
Концентрация примеси в подложке , см-3 |
1*1016 |
|
6 |
Подвижность электронов в канале n, см 2/В.с |
750 |
|
7 |
Плотность поверхностных состояний , см-2 |
3*1010 |
|
8 |
Концентрация примеси в n+- слоях, см-3 |
1020 |
|
9 |
Глубина залегания стока , мкм |
0.8 |
Общие данные
e = 1.61*10-19 Кл - заряд электрона,
е0 = 8.85*10-14 Ф/см диэлектрическая проницаемость вакуума,
е = 11.9 - относительная проницаемость Si,
еd = 3.4 - относительная проницаемость диэлектрика,
Еs = 1.5*104 В/см - продольное электрическое поле в канале,
Vt = 1 В - пороговое напряжение.
Задание
1. Нарисовать масштабный эскиз и топологию МДП-транзистора в соответствии с заданием
2. Рассчитать пороговое напряжение МДП-транзистора при заданных исходных данных и = 0.
3. Внести изменения в конструкцию транзистора, чтобы обеспечить пороговое напряжение +1 В.
4. Рассчитать и построить выходные характеристики в приближении идеализированной модели при = 0 в диапазоне напряжений: 0-5 В; = 0 - 5 В (шаг 1 В)
5. Рассчитать выходную характеристику с учётом неоднородности ОПЗ под затвором (реальная ВАХ) при 0-5 В, = 4 В, = 0.
6. Построить выходные ВАХ транзистора в рамках идеальной и реальной моделей при 0-5 В, = 4 В, = 0.
7. Привести малосигнальную эквивалентную схему, объяснить смысл элементов.
Факультативно
8. Провести расчет и корректировку с учетом эффектов короткого и узкого канала.
9. В дополнение к п.6 построить реальную выходную ВАХ для = 4 В, = -2 В. На одном графике совместить следующие ВАХ:
- Идеальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = 0
- Реальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = 0
- Реальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = -2В
10. Рассчитать параметры эквивалентной схемы.
2. Структура и топология МДП-транзистора
В соответствии с заданием, транзистор имеет следующие характерные размеры: L=3 мкм, W=50 мкм, d=0.08 мкм, Xj=0.4 мкм. Масштабный эскиз структуры показан на рисунке 1.1.
Рисунок 1.1 - Структура исследуемого МДП-транзистора
3. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора
При пороговое напряжение n-МДП-транзистора рассчитывается по формуле 1.1:
(1.1)
На основе исходных данных рассчитываем компоненты для 1.1:
-0.905В
=см
Кл/смІ.
= Кл/смІ.
=Ф/смІ
Таким образом, предположим, что при заданных исходных данных обеспечивается пороговое напряжение, 0.364B.
Для обеспечения величины порогового напряжения Vt0 =--+1 В необходимо увеличить его на DVt =+1 - (-1.322) = +0,636 В. Если затвор сделать из р+-Si, то получимVt0 =--_.364+1.12=1.484В. Остается добавить DVt =+1-1.484=-0.484В. Так как эта величина отрицательная, то под затвором необходимо выполнить подлегирование поверхности примесью n-типа (мелкими донорами) на глубину
Dx =--0,1*Xj=0.08 мкм.
Необходимая доза подлегирования составляет
= 2.26*1011 см-2,
Cредняя концентрация акцепторов в подзатворном слое
D/Дx= 2.83*1016 см-3.
4. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели
мдп транзистор вах затвор
В этом приближении действие подложки не учитывается, а толщина ОПЗ под затвором считается постоянной и равной . ВАХ (1.2):
(1.2)
где
;
= 9.4*10-4. (1.3)
Семейство идеальных ВАХ МДП-транзистора показано на рисунке 1.3.
Рисунок 1.3 - Семейство ВАХ МДП-транзистора в рамках идеальной модели
5. Расчёт ВАХ с учётом неоднородности ОПЗ под затвором
Для крутой области ВАХ:
, (1.4)
Коэффициент влияния подложки рассчитывается как (1.5):
(1.5)
Расчет проведем для , В
Напряжение насыщения определяется соотношением:
, (1.6)
где
= (1.7)
Для , В:
= 3В.
Ток насыщения IDS определяется из выражения (1.4) при VDS=VDSS (1.8):
(1.8)
Для пологой области расчет ВАХ проводится следующим образом (рисунок 1.4)
- Рассчитывается эффективная длина канала с учетом насыщения дрейфовой скорости носителей в канале и модуляции длины канала
- Рассчитывается ток стока с учетом предыдущего пункта при Uds=4В
- Пологая область ВАХ строится как линия, проходящая через точки
(Udss, Ids) - (4, Id(4)).
Рисунок 1.4 - Методика построения ВАХ реального транзистора в пологой области
Вычислим при В как (1.9)
. (1.9)
Эффективная длина канала:
, (1.10)
где ES = 15 кВ/см - поле насыщения скорости электронов,
- (1.11)
толщина ОПЗ под стоком на границе с пологой областью,
= 0.905В - (1.12)
контактная разность потенциалов сток-подложка.
Из (1.11) и (1.12):
см
см
Ток стока при В:
На рисунке 1.5 показаны ВАХ транзистора, рассчитанные в рамках идеальной и реальной моделей при UBS=0.
Рисунок 1.5 - ВАХ транзистора, рассчитанные в рамках идеальной и реальной моделей при UBS=0.
6. Малосигнальная эквивалентная схема и ее параметры
Малосигнальная эквивалентная схема МДП-транзистора показана на рисунке 1.6.
Рисунок 1.6 - Малосигнальная эквивалентная схема МДП-транзистора
Параметры эквивалентной схемы:
- RS объёмное сопротивление истока
- RD объёмное сопротивление стока
- RB объёмное сопротивление подложки
- RG объёмное сопротивление затвора
- CGD паразитная ёмкость затвор-сток
- CG ёмкость затвора
- Cbs барьерная ёмкость подложка-исток
- Cbd диффузионная ёмкость подложка-сток
- G выходная проводимость
- gS крутизна
- gb крутизна по подложке
7. Факультативное задание: Расчёт и корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала
С учетом эффекта короткого канала изменение порогового напряжения рассчитывается по формуле 1.13:
(1.13),
где
;
,
- толщина ОПЗ под затвором, истоком и стоком, - толщина -областей,
- контактная разность потенциалов -область - -подложка.
Считаем случай, когда В, В
B
мкм
мкм
мкм
С учетом эффекта узкого канала изменение порогового напряжения рассчитывается по формуле 1.14:
(1.14)
B
8. Факультативное задание: Расчёт реальной ВАХ, зависящей от
Расчет реальной ВАХ при UBS=-2В проводится аналогично разделу 5. Результаты расчета выходной ВАХ рассматриваемого МДП-транзистора при UGS=4B, UDS=0-5В, UBS=-2 в рамках модели вместе с данными рисунка 1.5 показаны на рисунке 1.7.
Привести рисунок аналогичный рисунку 1.5 с учетом данных данного раздела - то есть 3 графика. Подписать графики буквами а, б, в
- а - идеальная модель, UBS=0
- б - реальная модель, UBS=0B
- в - реальная модель, UBS=-2B
Рисунок 1.7 - ВАХ транзистора, рассчитанные при Ugs=4В с учетом различных приближений
9. Факультативное задание: Расчёт параметров эквивалентной схемы
Рассчитаем малосигнальные параметры эквивалентной схемы, показанной на рисунке рис.1.6:
Крутизна ВАХ:
=(1400-600)/(4-3)=800 .
Выходная проводимость:
=800/3-0.75=356 .
Собственный коэффициент усиления по напряжению:
=800/3562,25
Размещено на Allbest.ru
Подобные документы
Характеристики интегрального n-канального МДП-транзистора: технологический маршрут, структура, топология. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора с учетом эффектов короткого и узкого канала. Параметры малосигнальной эквивалентной схемы.
курсовая работа [696,8 K], добавлен 25.11.2014Особенности проектирования и расчета интегрального МОП-транзистора. Структура и граничная частота n-канального транзистора. Расчет порогового напряжения. Определение геометрических размеров канала. Характеристика параметров областей истока и стока.
курсовая работа [206,7 K], добавлен 16.02.2016Особенности проектирования малошумящего полевого транзистора с затвором Шоттки, определение толщины его обедненной области, значения порогового напряжения перекрытия канала и геометрических размеров. Разработка конструкции и топологии кристалла.
курсовая работа [748,2 K], добавлен 22.08.2013Расчёт оконечного каскада. Расчёт рабочей точки. Расчёт эквивалентных схем замещения транзистора. Расчёт параметров схемы Джиаколетто. Расчёт однонаправленной модели транзистора. Расчёт и выбор схемы термостабилизации. Расчёт ёмкостей и дросселей.
курсовая работа [973,4 K], добавлен 01.03.2002Аналитические электрические модели. Расчет дрейфового поля, сопротивлений транзистора. Зарядная емкость эмиттера и коллектора. Расчет максимальной частоты. Эквивалентная П-образная схема на низких и высоких частотах для включения с общим эмиттером.
курсовая работа [185,0 K], добавлен 30.01.2016Устройство полевого транзистора: схемы включения и параметры. Эквивалентная схема, частотные и шумовые свойства. Устойчивость полевого транзистора при работе в диапазоне температур (тепловые параметры). Вольт-амперные характеристики транзистора.
реферат [174,3 K], добавлен 27.05.2012Структура биполярного транзистора, сущность явления инжекции и экстракции неосновных носителей заряда. Распределение примесей в активной области транзистора. Топология биполярного транзистора, входные и выходные характеристики, сопротивление коллектора.
курсовая работа [409,8 K], добавлен 01.05.2014Класифікація та умовні позначення польових транзисторів. Конструкція пристроїв з ізольованим затвором. Схема МДН-транзистора з вбудованим або індукованим каналом. Розрахунок електричних параметрів і передаточних характеристик польового транзистора КП301.
контрольная работа [510,5 K], добавлен 16.12.2013Принципиальная схема предварительного каскада с источником сигнала и последующим каскадом. Выбор типа транзистора, исходя из заданного режима его работы и частоты верхнего среза усилителя. Расчет параметров малосигнальной модели биполярного транзистора.
контрольная работа [208,8 K], добавлен 21.10.2009Принцип действия и основные физические процессы в транзисторе. Дифференциальные коэффициенты передачи токов транзистора. Вольт-амперные статические характеристики и параметры. Методика снятия семейства статических характеристики биполярного транзистора.
лабораторная работа [142,9 K], добавлен 08.11.2013