курсовая работа  Вторично-ионная масс-спектрометрия

Взаимодействие ионов с веществом. Принцип действия установок. Глубинные профили концентрации. Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации. Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 ####    ###     #      #     ###  
     #  #   #   ##     ##    #     
  ###    ####    #      #    ####  
     #      #    #      #    #   # 
 ####    ###     #      #     ###  
                                   

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 25.03.2010
Размер файла 2,7 M

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.