Вторично-ионная масс-спектрометрия

Взаимодействие ионов с веществом. Принцип действия установок. Глубинные профили концентрации. Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации. Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц.

Рубрика Физика и энергетика
Предмет Физика
Вид курсовая работа
Язык русский
Прислал(а) sion
Дата добавления 25.03.2010
Размер файла 2,7 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.


Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.