Отделение кристаллов алмаза от породы на основе анализа изображения
Характеристика алгоритма отделения кристаллов алмаза от породы (обогащения) на основе анализа рентгеновских снимков. Суть отличия коэффициента пропускания рентгеновского излучения кристаллами алмаза от коэффициента пропускания сопутствующей породы.
| Рубрика | Физика и энергетика |
| Вид | статья |
| Язык | русский |
| Дата добавления | 07.12.2018 |
| Размер файла | 110,8 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Университет ИТМО ОАО “ГОИ им. С.И. Вавилова”
Отделение кристаллов алмаза от породы на основе анализа изображения
В.Р. Луцив
В докладе представлен алгоритм отделения кристаллов алмаза от породы (обогащения) на основе анализа рентгеновских снимков. В его основу положено отличие коэффициента пропускания рентгеновского излучения кристаллами алмаза от коэффициента пропускания сопутствующей породы.
Предлагаемый алгоритм обогащения можно разделить на следующие три стадии:
- разделение изображения наблюдаемой совокупности зерен минералов на связные области;
- расчет характеристик выделенных областей;
- выделение областей, соответствующих кристаллам алмаза.
В качестве параметров алгоритма используются размеры зерен минералов характерные для используемого механического оборудования обогащения алмазоносной породы.
На рисунке 1 приведено изображение участка конвейерной ленты сепаратора с лежащими на ней зернами минералов. Изображение получено в рентгеновских лучах. Настройка сепаратора обеспечивает близкую к нулевой яркость фоновой части изображения, соответствующей пустой конвейерной ленте. На рисунке 1 видно, что некоторые зерна минералов могут быть на ленте наложены друг на друга. Для отделения их изображений друг от друга нами используется морфологическая фильтрация. Для этого изображение сначала бинаризуется. Бинарное изображение приведено на рисунке 2. Далее, применение к бинарному изображению морфологического фильтра (эрозия) позволяет за несколько итераций фильтрации добиться разделения изображений зерен минералов, результат которого иллюстрируется рисунком 3. Как видно из рисунка 3, морфологическая фильтрация привела к уменьшению размера пятен, однако теперь они не перекрываются.
Рисунок 1 - Рентгеновское изображение участка ленты транспортера сепаратора
Теперь для разделенных пятен определяются точки их центров тяжести, после чего на их основе выполняется разделение исходных изображений зерен породы. Это делается путем построения триангуляционной сетки Делоне [1] на базе совокупности выделенных точек центров тяжести. По построенным линиям сетки далее производится разделение пятен, соответствующих соприкасающимся на ленте транспортера зернам породы. На рисунке 4 представлен результат такого разделения. кристалл алмаз рентгеновский излучение
Рисунок 2 - Бинаризованное изображение ленты сепаратора
Рисунок 3 - Результат морфологической обработки бинарного изображения
Рисунок 4 - Результат вычисления центров зерен минералов и построения триангуляционной сетки Делоне, цифрой 1 помечено пятно, относящееся к кристаллу алмаза
После разделения пятен линиями сетки, по формулам (1-4) вычисляются их геометрические характеристики - вытянутость µ и площадь S [2].
где - область изображения, относящаяся к k-тому выделенному пятну,
- координаты пикселов.
Пятна, имеющие большую вытянутость при небольшой площади или совсем маленькую площадь, исключаются из дальнейшего рассмотрения, т.к. обычно они соответствуют ошибочно построенным разделяющим линиям сетки Делоне.
Рисунок 4 - Гистограмма распределения значений яркости выделенных пятен
Теперь можно попробовать отличить пятна, соответствующие кристаллам алмаза, от пятен, относящихся к другим минералам, с учетом отличия их коэффициентов пропускания по отношению к рентгеновским лучам. На рисунке 5 приведена гистограмма распределения яркости выделенных пятен. На гистограмме можно выделить две ярко выраженных моды. Одна из мод относится к кристаллам алмаза, а другая - к зернам сопутствующей породы. Если средняя яркость выделенного пятна близка к значению центра первой моды, то данное пятно относится кристаллу алмаза. На рисунке 4 пятно, относящееся к кристаллу алмаза, помечено цифрой 1.
С применением выше описанной методики были достигнутые следующие показатели качества обогащения: ложное обнаружение алмаза встречалось 1.5 - 2% от всех зерен минералов, пропущены алмазы в 1% случаев.
Литература
1. Скворцов А.В., Мирза Н.С. Алгоритмы построения и анализа триангуляции.-Томск: Издательство Томского университета. 2006. 168 с.
2. V. Luciv. A method of images processing for the purposes of controlling the robots in the flexible automated manufacturing systems.- In the book: «Application of the computers in the design and manufacturing» 1985, issue No.2, pp. 154-162. - Leningrad (Russia), «Machine making» publishing house. (in Russian).
Размещено на Allbest.ru
Подобные документы
Сущность полиморфизма, история его открытия. Физические и химические свойства полиморфных модификаций углерода: алмаза и графита, их сравнительный анализ. Полиморфные превращения жидких кристаллов, тонких пленок дийодида олова, металлов и сплавов.
курсовая работа [493,4 K], добавлен 12.04.2012Изучение спектров пропускания резонансных нейтронов проб урана различного обогащения. Устройство и принцип работы времяпролетного спектрометра на основе ускорителя электронов. Контроль изотопного состава урана путем нейтронного спектрального анализа.
дипломная работа [1,8 M], добавлен 16.07.2015Особенности работы детекторов на основе щелочно-галоидных кристаллов для регистрации рентгеновского и мягкого гамма-излучения, пути ее оптимизации. Анализ методик, позволяющих значительно улучшить сцинтилляционные характеристики регистраторов излучений.
дипломная работа [2,1 M], добавлен 16.12.2012Изучение спектров пропускания резонансных нейтронов проб урана различного обогащения. Устройство и работа времяпролетного спектрометра на основе ускорителя электронов. Анализ содержания изотопов по площадям резонансных провалов в измеренных спектрах.
дипломная работа [710,4 K], добавлен 23.02.2015Получение и свойства рентгеновских лучей, виды их взаимодействия с веществом. Методы рентгеноструктурного анализа кристаллов, использование его результатов для определения координат атомов. Функциональная схема прибора, анализ расшифровки дифрактограмм.
курсовая работа [712,8 K], добавлен 18.05.2016Характеристика трех методов рентгеноструктурного анализа. Роль метода Лауэ для изучения атомной структуры кристаллов. Использование метода вращения при определении атомной структуры кристаллов. Изучение поликристаллических материалов методом порошка.
реферат [777,4 K], добавлен 28.05.2010Получение рентгеновского излучения. Обнаружение рентгеновского излучения. Рентгеновская и гамма-дефектоскопия. Дифракция рентгеновского излучения. Методы дифракционного анализа. Спектрохимический рентгеновский анализ. Медицинская рентгенодиагностика.
реферат [1,1 M], добавлен 09.04.2003Получение изображения в монохромных электронно-лучевых трубках. Свойства жидких кристаллов. Технологии изготовления жидкокристаллического монитора. Достоинства и недостатки дисплеев на основе плазменных панелей. Получение стереоскопического изображения.
презентация [758,4 K], добавлен 08.03.2015Открытие рентгеновского излучения. Источники рентгеновских лучей, их основные свойства и способы регистрации. Применение рентгеновского излучения в металлургии. Определение кристаллической структуры и фазового состава материала, анализ их несовершенств.
курсовая работа [2,0 M], добавлен 21.02.2013Дифракционный структурный метод. Взаимодействие рентгеновского излучения с электронами вещества. Основные разновидности рентгеноструктурного анализа. Исследование структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей.
презентация [668,0 K], добавлен 04.03.2014


