Идентификация структурных особенностей слоистых минералов методом рентгеновской дифрактометрии
Проведение рентгенофазового анализа, основанного на методе Ритвельда и известных структурах фаз компонентов образца, которые могут уточняться в ходе анализа параметров дифрактограммы. Решение задачи идентификации структуры минерала каолинитовой группы.
| Рубрика | Физика и энергетика |
| Предмет | Физика |
| Вид | статья |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | alya.ilchenko.83 |
| Дата добавления | 30.05.2017 |
| Размер файла | 1,5 M |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Обзор аппарата Xtress 3000 G3/G3R и используемой в нем рентгеновской трубки TFS-3007-HP, анализ комплектации и документации. Разработка рентгеновской трубки 0,3РСВ1-Cr: конструкция и тепловой расчет анодного и катодного узлов, изолятора, кожуха.
дипломная работа [3,9 M], добавлен 17.06.2012Решение задачи идентификации коэффициента температуропроводности непрерывнолитого стального цилиндрического слитка. Математическая модель теплового процесса. Методы поиска градиента функции с помощью сопряженной задачи и численного дифференцирования.
практическая работа [96,8 K], добавлен 02.07.2012Рентгено-флуоресцентный спектральный анализ материалов. Исследование элементного состава вещества. Процесс возникновения рентгеновской флуоресценции. Аналитические возможности нейтронно-активационного анализа. Спектры излучения радиоактивного образца.
реферат [1,3 M], добавлен 07.05.2019Описание структуры и параметров активированных кристаллов. Характеристики полиэдров Вороного-Дирихле. Исследование структуры и расчет параметров Джадда-Офельта для активированных кристаллов. Изучение структуры шеелитов методом пересекающихся сфер.
дипломная работа [1,1 M], добавлен 20.07.2015Импульсные лазеры как источник высокоэнергетического излучения. Исследование концентрационной зависимости параметра кристаллической решетки и ширины запрещенной зоны твердого раствора методами рентгеновской дифрактометрии и оптической спектроскопии.
реферат [1,9 M], добавлен 26.06.2010Характеристика трех методов рентгеноструктурного анализа. Роль метода Лауэ для изучения атомной структуры кристаллов. Использование метода вращения при определении атомной структуры кристаллов. Изучение поликристаллических материалов методом порошка.
реферат [777,4 K], добавлен 28.05.2010Проведение патентных исследований в соответствии с ГОСТ Р15.011–96. Выбор изучения и разработка технического предложения прототипов модулей на основе активного кварцевого элемента для фазоконтрастного и сверхразрешающего спектрального экспресс-анализа.
дипломная работа [1,2 M], добавлен 17.08.2013Исследование метода анализа состава вещества, основанного на определении отношения массы частицы к её заряду. Принципиальное устройство масс-спектрометра. Электронная и химическая ионизация. Особенности разделения ионов анализатором масс. Типы детекторов.
презентация [3,2 M], добавлен 05.01.2014Рентгенография как решение основной задачи структурного анализа при помощи рассеяния рентгеновского излучения. Кристаллическая структура и дифракция. Взаимодействие излучения с веществом. Компьютерные программы уточнения параметров элементарной ячейки.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 23.07.2010Поиск полупроводниковых соединений в современной фотоэлектронной энергетике для замены монокристаллических кремниевых элементов. Изучение сплавов полупроводниковой системы CuInSe2-CuSbSe2 с помощью рентгенофазового анализа и микроструктурных исследований.
реферат [3,6 M], добавлен 25.06.2010
