Оптико-электронный метод определения размеров микрообъектов поверхностей износа
Перечень приборов для определения размеров микрообъектов на поверхности износа с указанием характерных для них особенностей и целей использования каждого. Сравнительный анализ оптико-визуального и оптико-электронного методов, их достоинства и недостатки.
Рубрика | Физика и энергетика |
Вид | лабораторная работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 22.12.2014 |
Размер файла | 17,3 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Размещено на http://www.allbest.ru/
Российский государственный университет нефти и газа имени И.М. Губкина
Факультет инженерной механики
Кафедра металловедения и неметаллических материалов
ОТЧЕТ
по лабораторной работе №2 по курсу «Основы трибологии итриботехники»
Тема: «Оптико-электронный метод определения размеров микрообъектов поверхностей износа»
Фан Чонг Нгиа
Москва 2014
Цель работы: освоить метод оптико-электронного исследования поверхностей износа.
Задание:
1) Ознакомиться с набором необходимого оборудования и приборов;
2) Составить перечень оборудования и приборов, с указанием характерных для них особенностей и целей использования каждого;
3) Освоить методику определения размеров микрообъектов на поверхности износа;
4) Пошагово описать методику по пункту 3;
5)Определить цену деления пиксельной линейки с помощью объект-микрометра, используя программуPaint.Провести измерение количества пикселей,укладывающихся в базовую величину(длину) линейки объект-микрометра.
6) Данные измерения п.5 занести в соответствующую таблицу
7)Используя данные таблицы п.6 рассчитать величину среднеарифметического значения цены деления пиксельной линейки и среднее квадратичное отклонение этой величины;
8) Провести сравнительный анализ между оптико-визуальным и оптико-электронным методом определения размеров микрообъектов, отметить “+” и “-“ каждого;
9)Знать теоретические основы и терминологию , относящиеся к данной теме.
Оборудование и приборы
МИМ-7- микроскоп инверсионный металлографический, предназначен для изучения и фотографирования увеличенного в определенной степени оптического изображения микроструктуры металлов в обыкновенном свете , в светлом и темном поле ,в поляризованном свете, степень увеличения оптического изображения микроскопа зависит от произведения оптической силы окуляра и объектива.
Объектив -оптическое устройство,состоящее из системы линз, предназначенное для создания действительного перевернутого изображения , которое рассматривается через окуляр.
Окуляр - оптическое устройство, состоящее из системы линз, предназначенное для изучения с некоторым увеличением оптического изображения, даваемого объективом микроскопа. Окуляр может иметь окулярную сетку либо шкалу.
Объект-микрометр - металлическая пластина с отверстием в центре, в котором размещена металлическая вставка-зеркало. В центре вставки выгравирована линейка длиной 1 мм, разделенная на 100 частей. Объект-микрометр предназначен для определения увеличения микроскопов, цены деления окулярных шкал и сеток.
Видеоголовка - оптико-электронное устройство, предназначенное для создания и фиксирования цифрового изображения, изучаемой поверхности.Имеет порт для связи с ПК.
ПК - програмно - вычислительный комплекс, предназначенный для обработки цифрового изображения, полученного с помощью видеоголовки.
1) Микроскоп необходимо подготовить для работы в электронном режиме;
2) Запустить необходимое программное обеспечение на ПК;
3) Поместить обьект-микрометр на предметный столик микроскопа;
4) Отцентрировать изображение шкалы объект-микрометра на экране и сделать цифровой снимок;
5) Открыть графический файл с изображением шкалы объект-микрометра в графическом редакторе «Paint»;
6) С помощью инструментов «Paint» - пиксельной линейки - определить количество пикселей, укладывающихся в одноили несколько делений шкалы объект-микрометраNpix.дел;
Сводная таблица результатов опыта
микрообъект поверхность износ электронный
№ |
Количество деленийв одном делении линейки объекта-микрометра |
Колличество пикселейв одном делении линейки объекта-микрометра |
Количество пикселейв одном делении линейки объекта-микрометра |
||
1 |
20 |
165 |
8.250 |
0.0030 |
|
2 |
40 |
327 |
8.175 |
0.0004 |
|
3 |
70 |
573 |
8.186 |
0.0001 |
|
4 |
30 |
248 |
8.267 |
0.0051 |
|
5 |
50 |
409 |
8.180 |
0.0002 |
|
6 |
30 |
246 |
8.200 |
0.0000 |
|
7 |
30 |
247 |
8.233 |
0.0015 |
|
8 |
50 |
408 |
8.160 |
0.0012 |
|
9 |
60 |
491 |
8.183 |
0.0001 |
|
10 |
50 |
411 |
8.220 |
0.0006 |
|
11 |
30 |
248 |
8.267 |
0.0051 |
|
12 |
50 |
408 |
8.160 |
0.0012 |
|
13 |
30 |
246 |
8.200 |
0.0000 |
|
14 |
40 |
327 |
8.175 |
0.0004 |
|
15 |
60 |
489 |
8.150 |
0.0020 |
|
16 |
50 |
408 |
8.160 |
0.0012 |
|
17 |
40 |
327 |
8.175 |
0.0004 |
|
18 |
40 |
328 |
8.200 |
0.0000 |
|
19 |
60 |
491 |
8.183 |
0.0001 |
|
20 |
40 |
327 |
8.175 |
0.0004 |
Сравнительный анализ между оптико-визуальным и оптико-электронным методом:
Метод |
Оптико-визуальный метод |
Оптико-электронный метод |
|
+ |
· прост в осуществлении; · не требует высокой квалификации персонала; · не требует затрат электроэнергии и наличия дополнительногооборудования. |
· высокая точность полученных результатов; · мало утомляет зрение рабочего персонала; · простота записи результатов и ведения архива. · высокий показатель производительности |
|
-- |
· относительно низкая точность результатов измерения; · оказывает негативное влияние на зрение, приводит к быстрой переутомляемости персонала; · отсутствует возможность сохранения изображения, затрудненаархивация данных · относительно низкая производительность · требует хорошего зрения у персонала |
· требует персонала со знанием ПК и программного обеспечения; · энергозависимый метод, требует дополнительного оборудования |
Размещено на Allbest.ru
Подобные документы
Оптико-гальванічна спектроскопія. Оптогальванічна лазерна спектроскопія. Експериментальна установка для оптогальванічної спектроскопії розряду в лампі з пустотілим катодом. Оптико-рефракційні методи. Метод термолінзи. Дефлекційний метод – міраж – ефект.
реферат [671,6 K], добавлен 22.04.2007Использование прямоугольных кантилеверов с зондом для исследования собственных колебаний микрообъектов. Сущность фоторефрактивного эффекта. Экспериментальное исследование колебаний микрообъектов с помощью адаптивного голографического интерферометра.
дипломная работа [6,0 M], добавлен 11.06.2011Измерение размеров малых объектов. Метод фазового контраста. Понятие об электронной оптике. Создание электронного микроскопа. Опыты по дифракции электронов. Исследования поверхностной геометрической структуры клеток, вирусов и других микрообъектов.
презентация [228,3 K], добавлен 12.05.2017Принципы электронного сканирования пространственных распределений температуры по одной или двум координатам. Упрощенные схемы тепловизоров, реализующих оптико-механическое и электронное сканирование. Приемники оптического излучения, оптика тепловизоров.
реферат [1,4 M], добавлен 07.05.2014Выбор метода регистрации магнитограмм. Магнитооптический эффект Керра. Материалы для магнитооптических устройств и их характеристики. Выбор и обоснование конструкции оптико-электронного устройства регистрации магнитограмм. Крепление оптических элементов.
дипломная работа [2,0 M], добавлен 09.06.2014Структурная схема эффекта Поккельса - изменения показателя преломления вещества под действием внешнего электрического поля. Характеристики ячеек Поккельса. Условия эксплуатации оптико-электронного трансформатора напряжения. Погрешность его измерения.
реферат [130,5 K], добавлен 19.05.2014Принцип действия адаптивного интерферометра. Фоторефрактивный эффект. Ортогональная геометрия взаимодействия световых волн в фоторефрактивном кристалле. Исследование системы регистрации малых колебаний микрообъектов на основе адаптивного интерферометра.
курсовая работа [4,5 M], добавлен 04.05.2011Знакомство с устройством и работой растрового электронного микроскопа, измерение размеров частиц порошка алюминия с примесью карбида тантала, анализ полученных данных. Получение снимков и статистическая обработка данных. Изучение калибровочного снимка.
лабораторная работа [1,4 M], добавлен 02.01.2015Теоретические основы оптико-электронных приборов. Химическое действие света. Фотоэлектрический, магнитооптический, электрооптический эффекты света и их применение. Эффект Комптона. Эффект Рамана. Давление света. Химические действия света и его природа.
реферат [1,0 M], добавлен 02.11.2008Электрофизические свойства полупроводников. Структура полупроводниковых кристаллов. Элементы зонной теории твердого тела. Микроструктурные исследования влияния электронного облучения на электрофизические характеристики полупроводниковых приборов.
курсовая работа [1,0 M], добавлен 18.09.2015