Оптико-электронный метод определения размеров микрообъектов поверхностей износа

Перечень приборов для определения размеров микрообъектов на поверхности износа с указанием характерных для них особенностей и целей использования каждого. Сравнительный анализ оптико-визуального и оптико-электронного методов, их достоинства и недостатки.

Рубрика Физика и энергетика
Вид лабораторная работа
Язык русский
Дата добавления 22.12.2014
Размер файла 17,3 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Российский государственный университет нефти и газа имени И.М. Губкина

Факультет инженерной механики

Кафедра металловедения и неметаллических материалов

ОТЧЕТ

по лабораторной работе №2 по курсу «Основы трибологии итриботехники»

Тема: «Оптико-электронный метод определения размеров микрообъектов поверхностей износа»

Фан Чонг Нгиа

Москва 2014

Цель работы: освоить метод оптико-электронного исследования поверхностей износа.

Задание:

1) Ознакомиться с набором необходимого оборудования и приборов;

2) Составить перечень оборудования и приборов, с указанием характерных для них особенностей и целей использования каждого;

3) Освоить методику определения размеров микрообъектов на поверхности износа;

4) Пошагово описать методику по пункту 3;

5)Определить цену деления пиксельной линейки с помощью объект-микрометра, используя программуPaint.Провести измерение количества пикселей,укладывающихся в базовую величину(длину) линейки объект-микрометра.

6) Данные измерения п.5 занести в соответствующую таблицу

7)Используя данные таблицы п.6 рассчитать величину среднеарифметического значения цены деления пиксельной линейки и среднее квадратичное отклонение этой величины;

8) Провести сравнительный анализ между оптико-визуальным и оптико-электронным методом определения размеров микрообъектов, отметить “+” и “-“ каждого;

9)Знать теоретические основы и терминологию , относящиеся к данной теме.

Оборудование и приборы

МИМ-7- микроскоп инверсионный металлографический, предназначен для изучения и фотографирования увеличенного в определенной степени оптического изображения микроструктуры металлов в обыкновенном свете , в светлом и темном поле ,в поляризованном свете, степень увеличения оптического изображения микроскопа зависит от произведения оптической силы окуляра и объектива.

Объектив -оптическое устройство,состоящее из системы линз, предназначенное для создания действительного перевернутого изображения , которое рассматривается через окуляр.

Окуляр - оптическое устройство, состоящее из системы линз, предназначенное для изучения с некоторым увеличением оптического изображения, даваемого объективом микроскопа. Окуляр может иметь окулярную сетку либо шкалу.

Объект-микрометр - металлическая пластина с отверстием в центре, в котором размещена металлическая вставка-зеркало. В центре вставки выгравирована линейка длиной 1 мм, разделенная на 100 частей. Объект-микрометр предназначен для определения увеличения микроскопов, цены деления окулярных шкал и сеток.

Видеоголовка - оптико-электронное устройство, предназначенное для создания и фиксирования цифрового изображения, изучаемой поверхности.Имеет порт для связи с ПК.

ПК - програмно - вычислительный комплекс, предназначенный для обработки цифрового изображения, полученного с помощью видеоголовки.

1) Микроскоп необходимо подготовить для работы в электронном режиме;

2) Запустить необходимое программное обеспечение на ПК;

3) Поместить обьект-микрометр на предметный столик микроскопа;

4) Отцентрировать изображение шкалы объект-микрометра на экране и сделать цифровой снимок;

5) Открыть графический файл с изображением шкалы объект-микрометра в графическом редакторе «Paint»;

6) С помощью инструментов «Paint» - пиксельной линейки - определить количество пикселей, укладывающихся в одноили несколько делений шкалы объект-микрометраNpix.дел;

Сводная таблица результатов опыта

микрообъект поверхность износ электронный

Количество деленийв одном делении линейки объекта-микрометра

Колличество пикселейв одном делении линейки объекта-микрометра

Количество пикселейв одном делении линейки объекта-микрометра

1

20

165

8.250

0.0030

2

40

327

8.175

0.0004

3

70

573

8.186

0.0001

4

30

248

8.267

0.0051

5

50

409

8.180

0.0002

6

30

246

8.200

0.0000

7

30

247

8.233

0.0015

8

50

408

8.160

0.0012

9

60

491

8.183

0.0001

10

50

411

8.220

0.0006

11

30

248

8.267

0.0051

12

50

408

8.160

0.0012

13

30

246

8.200

0.0000

14

40

327

8.175

0.0004

15

60

489

8.150

0.0020

16

50

408

8.160

0.0012

17

40

327

8.175

0.0004

18

40

328

8.200

0.0000

19

60

491

8.183

0.0001

20

40

327

8.175

0.0004

Сравнительный анализ между оптико-визуальным и оптико-электронным методом:

Метод

Оптико-визуальный метод

Оптико-электронный метод

+

· прост в осуществлении;

· не требует высокой квалификации персонала;

· не требует затрат электроэнергии и наличия дополнительногооборудования.

· высокая точность полученных результатов;

· мало утомляет зрение рабочего персонала;

· простота записи результатов и ведения архива.

· высокий показатель производительности

--

· относительно низкая точность результатов измерения;

· оказывает негативное влияние на зрение, приводит к быстрой

переутомляемости персонала;

· отсутствует возможность сохранения изображения, затрудненаархивация данных

· относительно низкая производительность

· требует хорошего зрения у персонала

· требует персонала со знанием ПК и программного обеспечения;

· энергозависимый метод, требует дополнительного оборудования

Размещено на Allbest.ru


Подобные документы

  • Оптико-гальванічна спектроскопія. Оптогальванічна лазерна спектроскопія. Експериментальна установка для оптогальванічної спектроскопії розряду в лампі з пустотілим катодом. Оптико-рефракційні методи. Метод термолінзи. Дефлекційний метод – міраж – ефект.

    реферат [671,6 K], добавлен 22.04.2007

  • Использование прямоугольных кантилеверов с зондом для исследования собственных колебаний микрообъектов. Сущность фоторефрактивного эффекта. Экспериментальное исследование колебаний микрообъектов с помощью адаптивного голографического интерферометра.

    дипломная работа [6,0 M], добавлен 11.06.2011

  • Измерение размеров малых объектов. Метод фазового контраста. Понятие об электронной оптике. Создание электронного микроскопа. Опыты по дифракции электронов. Исследования поверхностной геометрической структуры клеток, вирусов и других микрообъектов.

    презентация [228,3 K], добавлен 12.05.2017

  • Принципы электронного сканирования пространственных распределений температуры по одной или двум координатам. Упрощенные схемы тепловизоров, реализующих оптико-механическое и электронное сканирование. Приемники оптического излучения, оптика тепловизоров.

    реферат [1,4 M], добавлен 07.05.2014

  • Выбор метода регистрации магнитограмм. Магнитооптический эффект Керра. Материалы для магнитооптических устройств и их характеристики. Выбор и обоснование конструкции оптико-электронного устройства регистрации магнитограмм. Крепление оптических элементов.

    дипломная работа [2,0 M], добавлен 09.06.2014

  • Структурная схема эффекта Поккельса - изменения показателя преломления вещества под действием внешнего электрического поля. Характеристики ячеек Поккельса. Условия эксплуатации оптико-электронного трансформатора напряжения. Погрешность его измерения.

    реферат [130,5 K], добавлен 19.05.2014

  • Принцип действия адаптивного интерферометра. Фоторефрактивный эффект. Ортогональная геометрия взаимодействия световых волн в фоторефрактивном кристалле. Исследование системы регистрации малых колебаний микрообъектов на основе адаптивного интерферометра.

    курсовая работа [4,5 M], добавлен 04.05.2011

  • Знакомство с устройством и работой растрового электронного микроскопа, измерение размеров частиц порошка алюминия с примесью карбида тантала, анализ полученных данных. Получение снимков и статистическая обработка данных. Изучение калибровочного снимка.

    лабораторная работа [1,4 M], добавлен 02.01.2015

  • Теоретические основы оптико-электронных приборов. Химическое действие света. Фотоэлектрический, магнитооптический, электрооптический эффекты света и их применение. Эффект Комптона. Эффект Рамана. Давление света. Химические действия света и его природа.

    реферат [1,0 M], добавлен 02.11.2008

  • Электрофизические свойства полупроводников. Структура полупроводниковых кристаллов. Элементы зонной теории твердого тела. Микроструктурные исследования влияния электронного облучения на электрофизические характеристики полупроводниковых приборов.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 18.09.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.