Электрические характеристики кремниевого интегрального n-канального МДП транзистора

Структура и топология МДП-транзистора. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели и с учётом неоднородности ОПЗ под затвором. Параметры малосигнальной эквивалентной схемы. Корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала.

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 07.08.2013
Размер файла 246,2 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Национальный исследовательский университет "МИЭТ"

Курсовая работа

по предмету Вакуумная и плазменная электроника

Расчёт электрических характеристик кремниевого интегрального n-канального МДП транзистора

Выполнил: Баховский В.В.

группа ЭКТ-44

Проверил: Красюков А.В.

Москва 2012

Содержание

1. Исходные данные. Задание

2. Структура и топология МДП-транзистора

3. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора

4. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели

5. Расчёт ВАХ с учётом неоднородности ОПЗ под затвором

6. Малосигнальная эквивалентная схема и ее параметры

7. Факультативное задание: Расчёт и корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала

8. Факультативное задание: Расчёт реальной ВАХ, зависящей от

9. Факультативное задание: Расчёт параметров эквивалентной схемы

1. Исходные данные. Задание

Таблица - Исходные данные. Вариант №__

1

Материал затвора

N+-Si*

2

Длина канала L, мкм

3

3

Ширина канала W, мкм

50

4

Толщина подзатворного диэлектрика (SiO2) d, мкм

0.04

5

Концентрация примеси в подложке , см-3

1*1016

6

Подвижность электронов в канале n, см 2/В.с

750

7

Плотность поверхностных состояний , см-2

3*1010

8

Концентрация примеси в n+- слоях, см-3

1020

9

Глубина залегания стока , мкм

0.8

Общие данные

e = 1.61*10-19 Кл - заряд электрона,

е0 = 8.85*10-14 Ф/см диэлектрическая проницаемость вакуума,

е = 11.9 - относительная проницаемость Si,

еd = 3.4 - относительная проницаемость диэлектрика,

Еs = 1.5*104 В/см - продольное электрическое поле в канале,

Vt = 1 В - пороговое напряжение.

Задание

1. Нарисовать масштабный эскиз и топологию МДП-транзистора в соответствии с заданием

2. Рассчитать пороговое напряжение МДП-транзистора при заданных исходных данных и = 0.

3. Внести изменения в конструкцию транзистора, чтобы обеспечить пороговое напряжение +1 В.

4. Рассчитать и построить выходные характеристики в приближении идеализированной модели при = 0 в диапазоне напряжений: 0-5 В; = 0 - 5 В (шаг 1 В)

5. Рассчитать выходную характеристику с учётом неоднородности ОПЗ под затвором (реальная ВАХ) при 0-5 В, = 4 В, = 0.

6. Построить выходные ВАХ транзистора в рамках идеальной и реальной моделей при 0-5 В, = 4 В, = 0.

7. Привести малосигнальную эквивалентную схему, объяснить смысл элементов.

Факультативно

8. Провести расчет и корректировку с учетом эффектов короткого и узкого канала.

9. В дополнение к п.6 построить реальную выходную ВАХ для = 4 В, = -2 В. На одном графике совместить следующие ВАХ:

- Идеальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = 0

- Реальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = 0

- Реальная ВАХ при 0-5 В, = 4 В, = -2В

10. Рассчитать параметры эквивалентной схемы.

2. Структура и топология МДП-транзистора

В соответствии с заданием, транзистор имеет следующие характерные размеры: L=3 мкм, W=50 мкм, d=0.08 мкм, Xj=0.4 мкм. Масштабный эскиз структуры показан на рисунке 1.1.

Рисунок 1.1 - Структура исследуемого МДП-транзистора

3. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора

При пороговое напряжение n-МДП-транзистора рассчитывается по формуле 1.1:

(1.1)

На основе исходных данных рассчитываем компоненты для 1.1:

-0.905В

=см

Кл/смІ.

= Кл/смІ.

=Ф/смІ

Таким образом, предположим, что при заданных исходных данных обеспечивается пороговое напряжение, 0.364B.

Для обеспечения величины порогового напряжения Vt0 =--+1 В необходимо увеличить его на DVt =+1 - (-1.322) = +0,636 В. Если затвор сделать из р+-Si, то получимVt0 =--_.364+1.12=1.484В. Остается добавить DVt =+1-1.484=-0.484В. Так как эта величина отрицательная, то под затвором необходимо выполнить подлегирование поверхности примесью n-типа (мелкими донорами) на глубину

Dx =--0,1*Xj=0.08 мкм.

Необходимая доза подлегирования составляет

= 2.26*1011 см-2,

Cредняя концентрация акцепторов в подзатворном слое

D/Дx= 2.83*1016 см-3.

4. Расчёт ВАХ в рамках идеализированной модели

мдп транзистор вах затвор

В этом приближении действие подложки не учитывается, а толщина ОПЗ под затвором считается постоянной и равной . ВАХ (1.2):

(1.2)

где

;

= 9.4*10-4. (1.3)

Семейство идеальных ВАХ МДП-транзистора показано на рисунке 1.3.

Рисунок 1.3 - Семейство ВАХ МДП-транзистора в рамках идеальной модели

5. Расчёт ВАХ с учётом неоднородности ОПЗ под затвором

Для крутой области ВАХ:

, (1.4)

Коэффициент влияния подложки рассчитывается как (1.5):

(1.5)

Расчет проведем для , В

Напряжение насыщения определяется соотношением:

, (1.6)

где

= (1.7)

Для , В:

= 3В.

Ток насыщения IDS определяется из выражения (1.4) при VDS=VDSS (1.8):

(1.8)

Для пологой области расчет ВАХ проводится следующим образом (рисунок 1.4)

- Рассчитывается эффективная длина канала с учетом насыщения дрейфовой скорости носителей в канале и модуляции длины канала

- Рассчитывается ток стока с учетом предыдущего пункта при Uds=4В

- Пологая область ВАХ строится как линия, проходящая через точки

(Udss, Ids) - (4, Id(4)).

Рисунок 1.4 - Методика построения ВАХ реального транзистора в пологой области

Вычислим при В как (1.9)

. (1.9)

Эффективная длина канала:

, (1.10)

где ES = 15 кВ/см - поле насыщения скорости электронов,

- (1.11)

толщина ОПЗ под стоком на границе с пологой областью,

= 0.905В - (1.12)

контактная разность потенциалов сток-подложка.

Из (1.11) и (1.12):

см

см

Ток стока при В:

На рисунке 1.5 показаны ВАХ транзистора, рассчитанные в рамках идеальной и реальной моделей при UBS=0.

Рисунок 1.5 - ВАХ транзистора, рассчитанные в рамках идеальной и реальной моделей при UBS=0.

6. Малосигнальная эквивалентная схема и ее параметры

Малосигнальная эквивалентная схема МДП-транзистора показана на рисунке 1.6.

Рисунок 1.6 - Малосигнальная эквивалентная схема МДП-транзистора

Параметры эквивалентной схемы:

- RS объёмное сопротивление истока

- RD объёмное сопротивление стока

- RB объёмное сопротивление подложки

- RG объёмное сопротивление затвора

- CGD паразитная ёмкость затвор-сток

- CG ёмкость затвора

- Cbs барьерная ёмкость подложка-исток

- Cbd диффузионная ёмкость подложка-сток

- G выходная проводимость

- gS крутизна

- gb крутизна по подложке

7. Факультативное задание: Расчёт и корректировка порогового напряжения с учётом эффектов короткого и узкого канала

С учетом эффекта короткого канала изменение порогового напряжения рассчитывается по формуле 1.13:

(1.13),

где

;

,

- толщина ОПЗ под затвором, истоком и стоком, - толщина -областей,

- контактная разность потенциалов -область - -подложка.

Считаем случай, когда В, В

B

мкм

мкм

мкм

С учетом эффекта узкого канала изменение порогового напряжения рассчитывается по формуле 1.14:

(1.14)

B

8. Факультативное задание: Расчёт реальной ВАХ, зависящей от

Расчет реальной ВАХ при UBS=-2В проводится аналогично разделу 5. Результаты расчета выходной ВАХ рассматриваемого МДП-транзистора при UGS=4B, UDS=0-5В, UBS=-2 в рамках модели вместе с данными рисунка 1.5 показаны на рисунке 1.7.

Привести рисунок аналогичный рисунку 1.5 с учетом данных данного раздела - то есть 3 графика. Подписать графики буквами а, б, в

- а - идеальная модель, UBS=0

- б - реальная модель, UBS=0B

- в - реальная модель, UBS=-2B

Рисунок 1.7 - ВАХ транзистора, рассчитанные при Ugs=4В с учетом различных приближений

9. Факультативное задание: Расчёт параметров эквивалентной схемы

Рассчитаем малосигнальные параметры эквивалентной схемы, показанной на рисунке рис.1.6:
Крутизна ВАХ:
=(1400-600)/(4-3)=800 .
Выходная проводимость:
=800/3-0.75=356 .
Собственный коэффициент усиления по напряжению:
=800/3562,25
Размещено на Allbest.ru

Подобные документы

  • Характеристики интегрального n-канального МДП-транзистора: технологический маршрут, структура, топология. Расчет и корректировка порогового напряжения транзистора с учетом эффектов короткого и узкого канала. Параметры малосигнальной эквивалентной схемы.

    курсовая работа [696,8 K], добавлен 25.11.2014

  • Особенности проектирования и расчета интегрального МОП-транзистора. Структура и граничная частота n-канального транзистора. Расчет порогового напряжения. Определение геометрических размеров канала. Характеристика параметров областей истока и стока.

    курсовая работа [206,7 K], добавлен 16.02.2016

  • Особенности проектирования малошумящего полевого транзистора с затвором Шоттки, определение толщины его обедненной области, значения порогового напряжения перекрытия канала и геометрических размеров. Разработка конструкции и топологии кристалла.

    курсовая работа [748,2 K], добавлен 22.08.2013

  • Расчёт оконечного каскада. Расчёт рабочей точки. Расчёт эквивалентных схем замещения транзистора. Расчёт параметров схемы Джиаколетто. Расчёт однонаправленной модели транзистора. Расчёт и выбор схемы термостабилизации. Расчёт ёмкостей и дросселей.

    курсовая работа [973,4 K], добавлен 01.03.2002

  • Аналитические электрические модели. Расчет дрейфового поля, сопротивлений транзистора. Зарядная емкость эмиттера и коллектора. Расчет максимальной частоты. Эквивалентная П-образная схема на низких и высоких частотах для включения с общим эмиттером.

    курсовая работа [185,0 K], добавлен 30.01.2016

  • Устройство полевого транзистора: схемы включения и параметры. Эквивалентная схема, частотные и шумовые свойства. Устойчивость полевого транзистора при работе в диапазоне температур (тепловые параметры). Вольт-амперные характеристики транзистора.

    реферат [174,3 K], добавлен 27.05.2012

  • Структура биполярного транзистора, сущность явления инжекции и экстракции неосновных носителей заряда. Распределение примесей в активной области транзистора. Топология биполярного транзистора, входные и выходные характеристики, сопротивление коллектора.

    курсовая работа [409,8 K], добавлен 01.05.2014

  • Класифікація та умовні позначення польових транзисторів. Конструкція пристроїв з ізольованим затвором. Схема МДН-транзистора з вбудованим або індукованим каналом. Розрахунок електричних параметрів і передаточних характеристик польового транзистора КП301.

    контрольная работа [510,5 K], добавлен 16.12.2013

  • Принципиальная схема предварительного каскада с источником сигнала и последующим каскадом. Выбор типа транзистора, исходя из заданного режима его работы и частоты верхнего среза усилителя. Расчет параметров малосигнальной модели биполярного транзистора.

    контрольная работа [208,8 K], добавлен 21.10.2009

  • Принцип действия и основные физические процессы в транзисторе. Дифференциальные коэффициенты передачи токов транзистора. Вольт-амперные статические характеристики и параметры. Методика снятия семейства статических характеристики биполярного транзистора.

    лабораторная работа [142,9 K], добавлен 08.11.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.