Разработка конструкции и технологии тонкопленочных ИМС частного применения

Технологический процесс изготовления гибридных интегральных микросхем. Поверочный расчет конструкций тонко- и толстопленочных резисторов, выбор формы и геометрических размеров. Определение конструкций пленочных конденсаторов, выбор материала диэлектрика.

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 11.02.2013
Размер файла 2,4 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Размещено на http://www.allbest.ru/

Минобрнауки России

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение

высшего профессионального образования

Московский государственный технический университет радиотехники,

электроники и автоматики

Факультет радиотехнических и телекоммуникационных систем

Кафедра конструирования и производства радиоэлектронных средств

КУРСОВОЙ ПРОЕКТ

по дисциплине:

Интегральные устройства РЭС

Тема курсового проекта:

Разработка конструкции и технологии тонкопленочных ИМС частного применения

Студент группы РП-1-08

Белозерцев А.О.

Руководитель доцент, к.т.н.

Мушинский А.А.

Москва 2013

ЗАДАНИЕ

на курсовой проект

Студенту Белозерцеву А.О. шифр 081020

Курс 5 факультет РТС группа РП-1-08

Дата выдачи задания: март 201 2 г.

Дата защиты

Тема: Разработка конструкции и технологии тонкопленочной ИМС частного применения

Исходные данные:

1. Наименование Преобразователь сигнала

2. Схема принципиальная электрическая Вариант 1-3

3. Краткие электрические характеристики:

Напряжение питания 9В

Дополнительные данные:

Частотный диапазон 1-50 МГц

Тип транзисторов КТ319 гRo=4%

Тип диодов КД904 гRст=2%

Тип корпуса: металлостеклянный

4. Габаритные размеры: минимальные

5. Температурный диапазон -60°С…80°С

6. Дополнительные требования не более трех пересечений проводников

7. Программа выпуска до 1000 штук

СОДЕРЖАНИЕ

1. Исходные данные

Поверочный расчет резисторов

Поверочный расчет конденсаторов

2. Расчет конструкций тонкопленочных резисторов

Разбиение на группы

Выбор резистивного материала

Вычисление коэффициента формы резистора

Расчет геометрических размеров резисторов

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы: 1 Кф 10

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы: 0,1 Кф 1

Расчет геометрических размеров резистора повышенной точности

3. Расчет конструкций пленочных конденсаторов

Выбор материала диэлектрика

Определение минимальной толщины диэлектрика

Определение максимально допустимой относительной погрешности активной площади конденсаторов

Определение удельной емкости конденсаторов

Определение активной площади пленочного конденсаторов

Определение размеров верхней обкладки конденсаторов

Вычисление размеров нижних обкладок конденсаторов

Вычисление размеров диэлектрика конденсаторов

Определение площади, занимаемой пленочным конденсатором на подложке

4. Расчет конструкций толстопленочных резисторов

Разбиение на группы

Определение оптимального удельного сопротивления материала

Вычисление коэффициента формы резисторов

Расчет геометрических размеров резисторов

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы Кф ? 1

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы Кф < 1

5. Расчет конструкций толстопленочных конденсаторов

Выбор материала паст

Определение площади верхней обкладки конденсаторов

Расчет размеров верхней обкладки конденсаторов

Расчет размеров нижней обкладки конденсаторов

Определение размеров диэлектрика

Вычисление площади конденсатора

6. Навесные компоненты ГИМС

Выбор конденсатора

Транзисторы

7. Выбор подложки и корпуса

8. Технологический процесс изготовления ГИМС

Заключение

Библиографический список

9. Приложения

Паспорт микросхемы

Графическая часть

1. Исходные данные

· Схема электрическая принципиальная

· Номиналы Резисторов и конденсаторов

Таблица 1

Диод: КД904; Транзистор: КТ319

Ri, ом

Gr, %

Ci, пФ

Gc, %

1

47000

10

680

10

2

2700

10

2200

10

3

1800

10

330

10

4

200

10

1000

10

5

150

10

330

10

6

2000

10

1500

2

7

3300

10

8

200

10

9

2000

2

10

12000

10

11

8200

10

· Параметры транзистора:

КТ319

Ik max= 15 мА

Iб max= 1 мА

Tmax= 80°C

Tmin= -60°C

Диод КД904, указанный в задании, исключён из рассмотрения, ввиду отсутствия диодов на принципиальной схеме

Анализ элементов схемы

· Резисторы с точностью 10% выполняются фотолитографией.

· Конденсаторы с точностью 10% выполняются по масочной технологии.

· Прецизионные резисторы выполняются фотолитографией и представляют собой подстроечные резисторы.

· Прецизионные конденсаторы выполняются в качестве навесных элементов.

· Транзисторы выполнены в виде навесных элементов.

· Проводники и контактные площадки выполняются фотолитографией.

Изоляция пересечений и перемычки выполняются в одном технологическом процессе с диэлектриком и верхней обкладкой конденсатора

В связи с неполнотой исходных данных, в частности отсутствия назначения клемм (выводов), значений протекающих токов, мощности рассеиваемой на элементах, номинальных напряжений элементов необходимо произвести поверочный расчёт плёночных резисторов и конденсаторов

Поверочный расчет резисторов

Для R1

Для R2

Для R3

Для R4

Для R5

Для R6

Для R7

Для R8

Для R9

Для R10

Для R11

Результаты поверочного расчёта резисторов сведены в таблицу

Таблица результатов

Резистор

Ток, мА

Мощность, мВт

R1

R2

R3

R4

R5

R6

R7

R8

R9

R10

R11

Поверочный расчет конденсаторов

Рассчитываем все конденсаторы на напряжение 9 В, исходя из того, что при приложенном напряжении питания между клеммами конденсаторов С1, С2, С5 будет заряжаться до напряжения питания равно 9В

2. Расчет конструкций тонкопленочных резисторов

Разбиение на группы

Рассчитаем разброс резисторов по номиналу:

Резисторы имеют большой разброс по номиналу, отличающийся более чем в 50 раз. Поэтому необходимо произвести их разбиение на группы.

Определим границу между группами:

К первой группе отнесем те элементы, номинал которых меньше найденной границы:

I группа:R3 (1800); R4 (200); R5 (150); R6 (2000); R8 (200); R9 (2000)

Рассчитаем разброс оставшихся резисторов по номиналу:

Учитывая, что разброс оставшихся резисторов по номиналу, отличается не более чем в 50 раз, дальнейшее разбиение на группы проводить не надо. Поэтому оставшиеся резисторы отнесем ко второй группе:

II группа:R1 (47000); R2 (2700); R7 (3300); R10 (12000); R11 (8200)

Выбор резистивного материала

Рассчитаем оптимальное значение сопротивления квадрата резистивной пленки для первой группы:

По рассчитанному значению из таблицы «материалы тонкопленочных резисторов» выберем материал с сопротивлением резистивной пленки близким к вычисленному - «Сплав РС-3001» с характеристиками:

- материал контактных площадок - золото с подслоем хрома (нихрома);

- удельное поверхностное сопротивление резистивной пленки, Ом/кв - 50ч3000;

- допустимая удельная мощность рассеивания, Вт/см2 - 5;

- ТКС104 (при Т = -60 ч +1200С), град-1 - 1

- Выбираем удельное поверхностное сопротивление резистивной пленки, Ом/кв - 590;

Рассчитаем оптимальное значение сопротивления квадрата резистивной пленки для второй группы:

По рассчитанному значению из таблицы «материалы тонкопленочных резисторов» выберем материал с сопротивлением резистивной пленки близким к вычисленному - «Кермет К-50С» с характеристиками:

- материал контактных площадок - золото с подслоем хрома (нихрома);

- удельное поверхностное сопротивление резистивной пленки, Ом/кв - 10 000;

- допустимая удельная мощность рассеивания, Вт/см2 - 2;

- ТКС104 (при Т = -60 ч +1200С), град-1 - -5

На данном этапе длина и ширина резистора еще не определены, поэтому величина гкф не известна. Вычислим ее допустимое значение:

где: гR - требуемая по заданию точность.

Для первой группы =2%

Рассчитаем гкфдоп для всех резисторов первой группы за исключением R9:

Для второй группы =0%

Рассчитаем гкфдоп для всех резисторов второй группы:

Рассчитаем гкфдоп для резистора R9:

Так как добиться положительного значения гкфдоп9 невозможно, придется использовать построечную конструкцию резистора.

Вычисление коэффициента формы резистора

Для выбранного материала определим коэффициент формы резистора:

для R1:

для R2:

для R3:

для R4:

для R5:

для R6:

для R7:

для R8:

для R9:

для R10:

для R11:

По результатам проведенных расчетов в интервал 1Kф10 попадают следующие резисторы: R1, R3, R6, R10, следовательно они будут иметь прямоугольную форму.

В интервал 0,1Kф<1: R2, R4, R5, R7, R8,R11 - следовательно они будут иметь прямоугольную форму, но длина таких резисторов должна быть меньше ширины.

Расчет геометрических размеров резисторов

1. Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы:

1 Кф 10

Расчет начнем с определения ширины, значение которой выберем как наибольшее из трех величин:

где:

bмин - минимальная ширина пленочного резистора (100мкм);

bточн - минимальная ширина пленочного резистора, при которой точность его изготовления равна заданной (b = l = 10мкм):

bр - минимальная ширина пленочного резистора, определяемая мощностью рассеяния:

За ширину резистора b принимаем ближайшее к bрасч большее значение, кратное шагу координатной сетки (0,05 мм).

Расчетное значение длины определяем, как:

За длину резистора l принимаем ближайшее к lрасч значение, кратное шагу координатной сетки (0,05 мм).

Рассчитаем полное значение длины резистора:

где:

e - величина перекрытия резистивного и контактного слоев (100мкм).

Площадь резистора определяется:

Полученные значения занесем в табл.

2. Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы: 0,1 Кф 1

Расчет начнем с определения длины, значение которой выберем как наибольшее из трех величин:

где:

lмин - минимальная длина пленочного резистора (100мкм);

lточн - минимальная длина пленочного резистора, при которой точность его изготовления равна заданной (b = l = 10мкм):

lр - минимальная длина пленочного резистора, определяемая мощностью рассеяния:

За длину резистора l принимаем ближайшее к lрасч значение, кратное шагу координатной сетки (0,05 мм).

Расчетное значение ширины определяем, как:

За ширину резистора b принимаем ближайшее к bрасч большее значение, кратное шагу координатной сетки (0,05 мм).

Рассчитаем полное значение длины резистора:

где:

e - величина перекрытия резистивного и контактного слоев (100мкм).

Площадь резистора определяется:

Полученные значения занесем в таблицу

Таблица размеров тонкопленочных резисторов

по точности

по мощности рассеяния

b, мкм

l, мкм

lполн, мкм

SR, мм2

г'кф, %

г'R, %

P'0, Вт/см2

bточн, мкм

lточн, мкм

bр, мкм

lр, мкм

R1

606

-

127

-

650

3050

3250

2,11

1,87

9,87

0,07

R2

-

635

-

1140

4300

1150

1350

5,81

1,10

9,10

1,67

R3

829

-

413

-

850

2600

2800

2,38

1,56

7,96

1,09

R4

-

837

-

552

2550

850

1050

2,68

1,57

7,97

1,68

R5

-

784

-

415

3150

800

1000

3,15

1,57

7,97

1,08

R6

809

-

486

-

850

2900

3100

2,63

1,52

7,92

1,52

R7

-

665

-

396

2000

650

850

1,70

2,04

10,04

0,56

R8

-

837

-

552

2550

850

1050

2,68

1,57

7,97

1,68

R9

-

-

183

-

200

700

900

0,17

-

-

-

R10

916

-

367

-

950

1150

1350

1,28

1,92

9,92

0,25

R11

-

910

-

631

1100

900

1100

1,21

2,02

10,02

0,80

Расчет геометрических размеров резистора повышенной точности

Согласно заданию, резистор R9 требуется выполнить с суммарной относительной погрешностью 2%, что меньше чем суммарная относительная погрешность, определенная всеми технологическими факторами. Следовательно, резистор R9 следует выполнить в виде подстраиваемой конструкции.

Подстроечный резистор выполняется фотолитографией.

Исходные данные

Кф=3,389 > 1, следовательно, используется резистор, подстраиваемый по длине.

b=0,2 мм

l=0.9 мм

Суммарная технологическая погрешность изготовления резистора:

где для подстраиваемого резистора вычисляется по формуле:

Расчетное значение сопротивления нерегулируемой части резистора:

Ом,

где = 2% = 0,02 -- относительная погрешность изготовления резистора.

Длина нерегулируемой части:

мкм.

Полученное значение округляется до меньшего целого, кратного 50 мкм:

Окончательное значение сопротивления нерегулируемой части резистора:

Ом.

Проверка:

Для полученного значения должно выполняться условие :

Ом,

Ом,

-- проверка выполнена.

Изменение сопротивления, вносимое всеми подстроечными секциями:

Ом.

Расчетное значение шага подстройки:

Ом.

Длина подстроечной секции:

мкм.

Т.к. полученное значение lс.д.расч технологически не реализуемо, то длине секции придается технологически выполнимое значение: мкм.

Окончательное значение ширины подстроечной секции:

Округляем до шага сетки в большую сторону:

Сопротивление подстроечной секции:

Ом

Проверка:

Для полученного значения должно выполняться условие :

-- проверка выполнена.

Количество подстроечных секций:

Полученное значение округляется до большего целого: n = 7

Суммарная длина резистора со всеми подключенными секциями:

где bтехн - минимальная технологически реализуемая ширина проводника (100мкм).

мкм.

Полная длина резистора:

где e - минимальная величина перекрытия (100мкм);

мкм.

Т.о., площадь, занимаемая подстраиваемым резистором будет равна (при ):

Эскиз подстроечного резистора

3. Расчет конструкций пленочных конденсаторов

Выбор материала диэлектрика

По рабочему напряжению выберем материал диэлектрика по таблице- «Стекло электровакуумное СЧ1-1» с характеристиками:

а) материал обкладки - алюминий А99;

б) удельное поверхностное сопротивление обкладок, Ом/ - 0,2;

в) удельная емкость C0, пФ/мм2 - 300;

г) рабочее напряжение Uр, В - 6,3ч10;

д) диэлектрическая проницаемость (на f=1кГц) - 5,2;

е) тангенс угла диэлектрических потерь tg103 (на f=1кГц) - 2;

ж) электрическая прочность Eпр, МВ/см - 3;

з) рабочая частота, МГц - не более 300;

и) ТКЕ104, град-1 (при Т= -60125 С) - 1,5.

Сi, пФ

,%

C1

680

10

C2

2200

10

C3

330

10

C4

1000

10

C5

330

10

C6

1500

2

Определение минимальной толщины диэлектрика

Минимальная толщина диэлектрика вычисляется по формуле:

где:

Кз - коэффициент запаса электрической прочности, составляющий для пленочных конденсаторов 2-3;

Епр - электрическая прочность материала диэлектрика.

Определение максимально допустимой относительной погрешности активной площади конденсатора

Максимально допустимую относительную погрешность активной площади конденсатора находят из условия:

тогда:

где:

гС - относительная погрешность конденсатора, обусловленная технологическими и конструктивными факторами (задана);

гС0 - относительная погрешность удельной емкости, зависимая от воспроизводимости свойств и толщины диэлектрической пленки (задана);

гСt - относительная температурная погрешность;

гСст - относительная погрешность старения пленок конденсатора (задана).

Относительная температурная погрешность определяется:

где:

С - ТКЕ материала диэлектрика.

Определение удельной емкости конденсатора

Значение удельной емкости выберем как наименьшее из трех величин:

где:

C0v - максимальное значение удельной емкости конденсатора:

C0точ - значение удельной емкости конденсатора из условия обеспечения требуемой точности (в случае Кф = 1):

C0s - значение удельной емкости конденсатора из условия обеспечения минимальной площади, занимаемой конденсатором (где минимально допустимый размер обкладок конденсатора S равен 0,01см2):

В результате получим:

Определение активной площади пленочных конденсаторов С1-С5

Активную площадь пленочного конденсатора (площадь верхней обкладки) находим по формуле:

где:

при

при

Вычисление размеров верхней обкладки конденсатора

Размеры верхней обкладки конденсатора вычисляются:

Т.к. Кф = 1, то:

Вычисление размеров нижних обкладок конденсатора

Размеры верхней обкладки конденсатора вычисляются:

где:

g - величина перекрытия нижней и верхней обкладок конденсатора, определяемая технологическими ограничениями (g = 200мкм).

Т.к. L = B, а С/С0 ? 0,05см2 (используется конструкция в виде двух пересекающихся полосок одинаковой ширины, разделенных диэлектриком), то:

Вычисление размеров диэлектрика конденсатора

Размеры диэлектрика конденсатора вычисляются:

где:

f - величина перекрытия нижней обкладки и диэлектрика, определяемая технологическими ограничениями (f = 100мкм).

Определение площади, занимаемой пленочным конденсатором на подложке

Площадь, занимаемая пленочным конденсатором на подложке определяется:

Таблица результатов

Ci, пФ

С/С0

K

,

,

,

=,

,

C1

680

0,025

1,15

2,20

1,50

1,50

1,70

2,89

C2

2200

0,081

1

8,15

2,85

3,25

3,45

11,90

C3

330

0,012

1,23

1,00

1,00

1,00

1,20

1,44

C4

1000

0,037

1,08

3,45

1,85

1,85

2,05

4,20

C5

330

0,012

1,23

1,00

1,00

1,00

1,20

1,44

Конденсатор С6 с номиналом 1500 пФ и допуском на номинал 2% является навесным элементом.

Выберем конденсатор К10-17 с габаритными размерами:

L = 2мм;

B = 1,7мм;

H = 1,0мм;

m = 0,2ч0,7мм.

Для установки конденсатора на плату необходимы две контактные площадки площадью каждая.

интегральный микросхема резистор конденсатор

4. Расчет конструкций толстопленочных резисторов

Разбиение на группы

Рассчитаем разброс резисторов по номиналу:

Резисторы имеют большой разброс по номиналу, отличающийся более чем в 5ч6 раз. Поэтому необходимо произвести их разбиение на группы.

Определим границу между I и II группами:

К первой группе отнесем те элементы, номинал которых меньше или равен найденной границы:

I группа:R4 (200); R5 (150); R8 (200)

Рассчитаем разброс оставшихся резисторов по номиналу:

Резисторы имеют большой разброс по номиналу, отличающийся более чем в 5ч6 раз. Поэтому необходимо произвести их дальнейшее разбиение на группы.

Определим границу между II и III группами:

Ко второй группе отнесем те элементы, номинал которых меньше или равен найденной границы:

II группа:R2 (2700); R3 (1800); R6 (2000); R7 (3300); R9 (2000); R11 (8200)

Рассчитаем разброс оставшихся резисторов по номиналу:

Учитывая, что разброс оставшихся резисторов по номиналу, отличается не более чем в 5ч6 раз, дальнейшее разбиение на группы проводить не надо. Поэтому оставшиеся резисторы отнесем к третьей группе:

III группа:R1 (47000); R10 (12000)

Определение оптимального удельного сопротивления материала

Рассчитаем оптимальное значение удельного сопротивления резистивной пасты для первой группы:

По рассчитанному значению из таблицы выберем материал с сопротивлением резистивной пасты близким к вычисленному - «ПР-100» с характеристиками:

- удельное поверхностное сопротивление, Ом/ - 100;

- коэффициент шума КШ (при 0,6 ч 1,6 кГц; P0 = 0,5 Вт/см2), мкВ/В не более - 0,5;

- ТКС104 (при Т = -60 ч +1250С), град-1 - 8;

- удельная рассеиваемая мощность, Вт/см2 не более - 3;

- предельное рабочее напряжение, В - 40.

Рассчитаем оптимальное значение удельного сопротивления резистивной пасты для второй группы:

По рассчитанному значению из таблицы выберем материал с сопротивлением резистивной пасты близким к вычисленному - «ПР-3К» с характеристиками:

- удельное поверхностное сопротивление, Ом/ - 3·103;

- коэффициент шума КШ (при 0,6 ч 1,6 кГц; P0 = 0,5 Вт/см2), мкВ/В не более - 5;

- ТКС104 (при Т = -60 ч +1250С), град-1 - 8;

- удельная рассеиваемая мощность, Вт/см2 не более - 3;

- предельное рабочее напряжение, В - 40.

Рассчитаем оптимальное значение удельного сопротивления резистивной пасты для третьей группы:

По рассчитанному значению из таблицы выберем материал с сопротивлением резистивной пасты близким к вычисленному - «ПР-20К» с характеристиками:

- удельное поверхностное сопротивление, Ом/ - 2·104;

- коэффициент шума КШ (при 0,6 ч 1,6 кГц; P0 = 0,5 Вт/см2), мкВ/В не более - 10;

- ТКС104 (при Т = -60 ч +1250С), град-1 - 8;

- удельная рассеиваемая мощность, Вт/см2 не более - 3;

- предельное рабочее напряжение, В - 40.

Вычисление коэффициента формы резисторов

Для выбранного материала определим коэффициент формы резистора:

для R1:

для R2:

для R3:

для R4:

для R5:

для R6:

для R7:

для R8:

для R9:

для R10:

для R11:

Расчет геометрических размеров резисторов

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы Кф 1

Расчет начнем с определения ширины, значение которой должно быть не меньше наибольшего значения одной из двух величин:

где:

bтехн - минимальная ширина резистора, обусловленная возможностями толстопленочной технологии (0,8мм);

bр - ширина резистора из условия выделения заданной мощности:

где:

Кр - коэффициент запаса мощности, учитывающий подгонку резистора:

Расчетное значение длины определяем, как:

Расчетные значения ширины bрасч и длины lрасч корректируем.

За длину l и ширину b резистора принимаем значения, ближайшие к расчетным в сторону уменьшения сопротивления резистора Ri, кратные шагу координатной сетки (0,1 мм), причем ширину bрасч корректируем в большую, а длину lрасч в меньшую сторону. По откорректированному значению длины l в зависимости от ширины b находим исправленное значение длины резистора lиспр с учетом растекания паст.

Рассчитаем полное значение длины резистора:

где:

l - минимальный размер перекрытия (0,1мм).

Площадь резистора определяется:

Полученные значения занесем в табл.

Расчет геометрических размеров резисторов с коэффициентом формы Кф < 1

Расчет начнем с определения длины, значение которой должно быть не меньше наибольшего значения одной из двух величин:

где:

lтехн - минимальная длина резистора, обусловленная возможностями толстопленочной технологии (0,8мм);

lр - длина резистора из условия выделения заданной мощности:

где:

Кр - коэффициент запаса мощности, учитывающий подгонку резистора:

Расчетное значение ширины определяем, как:

Расчетные значения длины lрасч и ширины bрасч корректируем.

За длину l и ширину b резистора принимаем значения, ближайшие к расчетным в сторону уменьшения сопротивления резистора Ri, кратные шагу координатной сетки (0,1 мм), причем ширину bрасч корректируем в большую, а длину lрасч в меньшую сторону. По откорректированному значению длины l в зависимости от ширины b из рисунка находим исправленное значение длины резистора lиспр с учетом растекания паст.

Рассчитаем полное значение длины резистора:

где:

l - минимальный размер перекрытия (0,1мм).

Площадь резистора определяется:

Полученные значения занесем в таблицу

Таблица размеров толстопленочных резисторов

по мощности рассеяния

b, мкм

l, мкм

lиспр, мкм

lполн, мкм

S, мм2

bр, мкм

lр, мкм

R1

207

-

800

1800

1400

1600

1,28

R2

-

2412

2700

2400

1800

2000

5,40

R3

-

1020

1700

1000

1000

1200

2,04

R4

1224

-

1300

2400

900

1100

1,43

R5

1229

-

1300

1800

1500

1700

2,21

R6

-

1337

2000

1300

1200

1400

2,80

R7

759

-

800

800

1000

1200

0,96

R8

1224

-

1300

2400

1600

1800

2,34

R9

-

505

1200

800

900

1100

1,32

R10

-

360

1400

800

800

1000

1,40

R11

487

-

800

2100

2000

2200

1,76

5. Расчет конструкций толстопленочных конденсаторов

В зависимости от диапазона номинальных значений, из таблиц выбираем:

для диэлектрика - пасту «ПК-12» с характеристиками:-

- толщина пленки, мкм - 40ч60;

- минимальный размер, мм - 1х1;

- диапазон номинальных значений, пФ - 100ч2500;

- отклонения емкости от номинала, % - ±15;

- удельная емкость, пФ/мм2 - 100;

- tgд·102 (при f=1,5МГц) - 3,5;

- пробивное напряжение, В - 500.

для верхней и нижней обкладок - пасту «ПП-1» с характеристиками:

- толщина пленки, мкм - 10ч20;

- удельное поверхностное сопротивление, Ом/? - 0,05;

- прочность сцепления с керамикой, ПА - 5·106;

- растекаемость паст, мкм - не более 50;

- шероховатость поверхности пленки, мкм - 5.

Определение площади верхней обкладки конденсаторов

Площадь верхней обкладки конденсатора определяем по формуле:

Расчет размеров верхней обкладки конденсаторов

Геометрические размеры верхней обкладки конденсатора (для обкладок квадратной формы) рассчитываются по формуле:

Расчет размеров нижней обкладки конденсаторов

Геометрические размеры нижней обкладки конденсатора рассчитываются по формуле:

, где:

p - перекрытие между нижней и верхней обкладками (0,3мм).

Определение размеров диэлектрика

Геометрические размеры диэлектрика определяются по формуле:

, где:

f - перекрытие между нижней обкладкой и диэлектриком (0,2мм).

Вычисление площади конденсатора

Площадь, занимаемая конденсатором на плате, вычисляем:

.

Таблица результатов

,

,

,

,

,

C1

6,8

2,60

3,20

3,60

12,96

C2

22,0

4,70

5,30

5,70

32,49

C3

3,3

1,80

2,40

2,80

7,84

C4

10,0

3,20

3,80

4,20

17,64

C5

3,3

1,80

2,40

2,80

7,84

C6

15,0

3,90

4,50

4,90

24,01

6. Навесные компоненты ГИМС

Выбор конденсатора

В соответствии с исходными данными из таблицы [Л.3 стр.23] выберем конденсатор К10-17 с габаритными размерами:

L = 2мм;

B = 1,7мм;

H = 1,0мм;

m = 0,2ч0,7мм

Для установки конденсатора на плату необходимы две контактные площадки площадью каждая.

Транзисторы

В данной ГИМС используются четыре транзистора типа КТ319 с характеристиками:

- структура - n-p-n;

- fТ, МГц - 100;

- UКЭmax, В - 5;

- IКmax, мА - 15;

- СК, пФ - 15;

- PКmax, мВт - 15;

- h21Э - 15ч40;

интервал рабочих температур, Сє - -60ч +80.

Способ установки на плату, габаритные и присоединительные размеры транзистора:

- м, мкм - 400;

- n, мкм - 300.

Рассчитаем площадь контактных площадок под один транзистор:

7. Выбор подложки и корпуса

Расчёт площади подложки

, где

N-число контактных площадок

25,8

2*1,19=2,38

Коэффициент заполнения может изменяться в пределах от 2 до 3 и ввиду критерия минимальности габаритных размеров должен быть наименьшим.

Выбор типоразмера подложки

Исходя из критерия минимальности размера выбираем ближайшую большую печатную плату:

Типоразмер № 9, длина : 16 мм, ширина: 10 мм

Площадь: 160 мм2

Материал: Стекло С41-1

Предельные отклонения: -0,1 мм

Перпендикулярность сторон: 0,1 мм.

Данный типоразмер удовлетворяет как подложке с минимальным, так и с максимальным допустимым запасом.

Выбор корпуса

Исходя из размеров платы, выбираем корпус с подходящей монтажной площадкой из таблицы 40.

Таблица

Условное обозначение корпуса

Вариант исполнения

Размеры монтажной площадки, мм

Площадь монтажной площадки

Мощность рассеяния, Вт

Метод герметизации

1203(151.15-1)

МС

17,0 х 8,3

141,1

1,6

АДС

1203(151.15-2,3)

МС

15,6 х 6,2

96,72

3,3

КС

1203(151.15-4,5,6)

МС

14,0 х 6,2

86,8

3,2

КС

1206(153.15-1)

МС

17,0 х 15,3

260,1

2

АДС

1207(155.15-1)

МС

16.8 х 22.5

378

2,5

КС

1210(157.12-1)

МС

34 x 20

680

4,6

ЛС

Корпус с ближайшей подходящей контактной площадкой является 1206 (153.15-1) металлостеклянный корпус с размером монтажной площадки 17,0 х 15,3 мм

Корпус состоит из:

· Металлического дна

· Металлической крышки

· Стеклянная таблетка/ стеклянные шарику для герметизации выводов.

Металлическое дно спаяно/ спрессовано со стеклом.

Применяемый метод аргонно-дуговой сваркой.

Для посадки на плату используется клей холодного осаждения.

Эскиз:

8. Технологический процесс изготовления ГИМС

Для создания микросхемы с резисторами, конденсаторами и проводниками целесообразно использовать комбинированный технологический процесс:

Способ изготовления резисторов и проводящих дорожек (в т.ч. и контактных площадок)-фотолитография, конденсаторов - масочный способ, с использованием биметаллических масок.

Для получения пленок будет использоваться метод ионно-плазменного распыления.

Метод ионно-плазменного распыления

При ионно-плазменном распылении бомбардируется мишень. Между катодом и анодом создаётся дуговой разряд. Электроны при соударении вызывают ионизацию газа. На мишень подаётся отрицательный потенциал, сама мишень сделана из материала будущей плёнки. Положительные ионы, бомбардирующие мишень выбивают электроны, и они устремляются к подложке. На подложке формируется плёнка материала.

Достоинства:

- так как распыление производится при низком давлении, то длина свободного пробега достаточно велика и позволяет распыляемому веществу запасти большую энергию, что улучшает адгезию с подложкой;

- мало число столкновений с остаточным газом, что существенно снижает степень загрязнения пленки;

- из-за того, что разряд автономный, имеется возможность сократить расстояние между мишенью и подложкой;

- состав пленки мало отличается от исходного вещества;

- есть возможность напылять тугоплавкие материалы;

- малая инерционность;

- большая равномерность напыляемой пленки.

Недостатки:

- катод имеет малый срок службы.

ТП изготовления тонкопленочной гибридной интегральной микросхемы приведена

1) Подготовительные операции

2) Напыление первого резистивного материала «Сплав РС-3001»:

ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

3) Напыление второго резистивного материала «Кермет К-50С»:

ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

4) Напыление проводящего материала «Золото Зл999,9» с подслоем «Нихром Х20Н80»:

ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

5) Фотолитография проводящего материала

для формирования проводников и контактных площадок

6) Фотолитография второго резистивного материала

для формирования резисторов второй группы

7) Фотолитография первого резистивного материала

для формирования резисторов первой группы

8) Напыление материала «Алюминий А99» через маску

для формирования нижней обкладки конденсатора:

ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

9) Напыление диэлектрика через маску материала «Стекло С41-1»:

ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

10) Получение диэлектрика конденсатора и изоляции пересечений проводников

11) Напыление проводящего материала «Алюминий А99» через маску для формирования верхней обкладки конденсатора и перемычек: ионно-плазменное распыление (t = 300єС, P = 10-3Па)

12) Получение верхней обкладки конденсатора и перемычек

13) Нанесение пассивирующего материала «Фоторезист негативный ФН-11»: окунанием

14) Фотолитография пассивирующего материала для его снятия с контактных площадок и мест подстройки прецизионного резистора

15) Подстройка прецизионного резистора

16) Установка прецизионного конденсатора с жесткими выводами

17) Установка бескорпусных транзисторов с жесткими выводами

18) Нанесение защитного слоя

Заключение

В процессе выполнения курсового проектирования были выбраны: технология получения тонких пленок, тонкопленочных элементов; материалы подложки, тонкопленочных резисторов, конденсаторов, проводников и контактных площадок; материал защиты; корпус.

В качестве подложки предполагается использовать стекло как более дешевый и доступный материал.

Особые требования выдвигались к материалам проводников и контактных площадок. Они должны иметь малое удельное сопротивление, хорошую адгезию к подложке, высокую коррозийную стойкость. В качестве материала проводников был выбран алюминий из экономических и технологических соображений.

Также в данной работе была разработана схема соединений, проведен расчет пленочных резисторов, конденсаторов, площади подложки, разработана и начерчена топология слоем ИМС, необходимых для производства микросхемы.

Библиографический список

1. Дронов Ю.В., Мушинский А.А., Звягин В.Б. Интегральные устройства радиоэлектроники: Учебное пособие. -М.:МИРЭА, 2006

2. Коледов Л.А. и другие. Конструирование и технология микросхем. Курсовое проектирование: Учебное пособие для вузов.-М.: Высшая школа,1984

3. Вениаминов В.Н., Лебедев О.Н., Мирошниченко А.И.Микросхемы и их применение (справочное пособие).-М.: Радио и связь, 1989

4. Батушев В.А. и другие. Микросхемы и их применение: справочное пособие.-М.: Радио и связь, 1983

5. ГОСТ 10594-80 Оборудование для дуговой, контактной, ультразвуковой сварки и для плазменной обработки. Ряды параметров.

6. ГОСТ 2601-84 Сварка металлов. Термины и определения основных понятий.

7. ГОСТ 19521-74 Сварка металлов. Классификация.

8. ГОСТ 28915-91Сварка лазерная импульсная. Соединения сварныеточечные. Основные типы, конструктивные элементы и размеры.

9. ГОСТ 17467-88 Микросхемы интегральные. Основные размеры.

10. ГОСТ 23070-78 Анализ и оптимизация на ЭВМ радиоэлектронных схем. Термины и определения.

11. ГОСТ 18725-83 Микросхемы интегральные. Общие технические условия .

12. Васильев Ю.Г. Микроэлектроника: Рабочая программа, задание на курсовую работу и методические указания к ее выполнению .-СПб.:СЗТУ, 2004.

13. ГОСТ 17021-88 Микросхемы интегральные. Термины и определения

14. ГОСТ 18682-73 Микросхемы интегральные. Маркировка.

15. ГОСТ 19480-89 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров.

Приложения

Паспорт микросхемы

Разработанная микросхема 002004 представляет собой преобразователь сигнала.

Общий вид микросхемы:

Общий вид микросхемы.

Электрические параметры:

· Напряжение питания: 9В

· Входной ток не более 50 мА

· Частотный диапазон 1…50 МГц

· Коэффициент усиления напряжения не менее 2

· Рассеиваемая мощность 1100 мВт.

Электрическая схема:

Схема электрическая принципиальная

На схеме клеммы пронумерованы в соответствии в номером вывода на корпусе.

Эксплуатационные характеристики:

Диапазон рабочих температур: -60°С…80°С

Влажность: не более 98%

Защиты от радиации не имеет.

Габаритные размеры ( ДхШхВ), мм: 19,5х22х12,5

Вывод 15 служит для заземления корпуса микросхемы.

Не допускается контакт корпуса микросхемы с другими ЭРЭ.

При необходимости МС крепить заземлённой скобой.

Графическая часть

Чертёж схемы электрической принципиальной, чертёж топологии платы, сборочный чертёж, перечень элементов, спецификация приведены на отдельных листах.

Размещено на Allbest.ru


Подобные документы

  • Проектирование топологии гибридных микросхем, тонко- и толстопленочных, их тепловой режим и характер паразитных связей. Конструкции пленочных конденсаторов и используемые при их изготовлении материалы. Пример расчета параметров конденсатора данного типа.

    курсовая работа [158,5 K], добавлен 30.01.2014

  • Топологический расчет схемы принципиальной электрической для толстопленочной гибридной интегральной микросхемы (ГИС). Конструирование, технология толстопленочных ГИС. Расчет толстопленочных резисторов и конденсаторов. Выбор корпусов для микросхем.

    курсовая работа [260,5 K], добавлен 03.02.2010

  • Методика конструирования и технология толстопленочных гибридных интегральных микросхем, характеристика основных технологических операций и принципы выбора материала. Порядок расчета конденсаторов разрабатываемых микросхем, выбор и характеристика корпуса.

    курсовая работа [261,9 K], добавлен 08.03.2010

  • Выпуск и применение интегральных микросхем. Конструирование и технология толстопленочных гибридных интегральных микросхем. Коэффициент формы резисторов. Защита интегральных микросхем от механических и других воздействий дестабилизирующих факторов.

    курсовая работа [234,5 K], добавлен 17.02.2010

  • Технология изготовления платы фильтра. Методы формирования конфигурации проводящего, резистивного и диэлектрического слоя. Выбор установки его напыления. Расчет точности пленочных элементов микросхем и режимов изготовления тонкопленочных резисторов.

    контрольная работа [359,2 K], добавлен 25.01.2013

  • Выбор резистивного материала, проводников, подложки. Расчет размеров плёночных резисторов. Выбор конструкции корпуса, навесных компонентов, оборудования. Разработка топологии платы, схемы коммутации. Технология изготовления платы и сборки микросхемы.

    курсовая работа [610,8 K], добавлен 26.11.2014

  • Проектирование малошумящего полевого транзистора с затвором Шоттки. Расчет геометрических размеров конденсаторов и резисторов. Разработка технологии изготовления кристалла. Создание защитного слоя диэлектрика, проводящих дорожек и контактных площадок.

    курсовая работа [5,8 M], добавлен 19.01.2016

  • Выбор и обоснование элементной базы, унифицированных узлов, установочных изделий и материалов конструкций. Выбор конденсаторов и резисторов. Расчет конструктивно-технологических параметров печатной платы. Обеспечение электромагнитной совместимости.

    дипломная работа [2,7 M], добавлен 17.10.2013

  • Техника электроэрозионной и токовой подгонки тонкопленочных резисторов. Обработка пленок в тлеющем разряде. Подгонки тонкопленочных конденсаторов. Анодирование и анодное оксидирование. Электронные и ионные методы подгонки. Лазерная обработка пленки.

    лабораторная работа [465,5 K], добавлен 01.02.2014

  • Разработка конструкции и технологии изготовления полупроводниковой микросхемы выполненной в интегральном исполнении. Обоснование выбора технологии изготовления микросхемы, на основании которого разработан технологический процесс, топология кристалла.

    курсовая работа [708,7 K], добавлен 13.07.2008

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.