Разработка микропроцессорного контроллера для тестирования интегральной микросхемы

Устройство для оперативной проверки работоспособности интегральной микросхемы (ИМС) по принципу "годен" - "не годен". Микропроцессорный контроллер для тестирования ИМС. Выбор микропроцессора и элементов схемы. Подпрограмма тестирования микросхемы.

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 16.07.2009
Размер файла 23,0 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

2

Содержание

  • Введение
    • 1. Инженерная интерпретация задачи
    • 2. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма
    • 3. Выбор микропроцессора и элементов схемы
    • 4. Составление алгоритма и подпрограммы для осуществления алгоритма
    • Заключение
    • Литература

Введение

Заводы и предприятия, выпускающие радиодетали (и в частности - микросхемы), после изготовления, но до отправки готовой продукции на склад, подвергают их контролю на работоспособность, а также соответствие техническим условиям и параметрам ГОСТ'а. Однако, радиодетали, даже прошедшие ОТК на заводе-изготовителе, имеют некоторый процент отказа в процессе транспортировки, монтажа или эксплуатации, что влечет за собой дополнительные затраты рабочего времени и средств для их выявления и замены (причем большую часть времени занимает именно выявление неисправных деталей).

Особенно важна 100% исправность комплектующих деталей при сборке ответственных узлов управляющих систем, когда неисправность какой-либо одной детали может повлечь за собой выход из строя других деталей, узлов, а возможно, и всего комплекса в целом.

Для обеспечения полной уверенности в работоспособности той или иной радиодетали, необходимо проверять ее на исправность непосредственно перед сборкой узла или изделия (“входной контроль” на заводах и предприятиях, занимающихся производством радиоэлектронных устройств). Если большинство радиодеталей можно проверить обычным омметром (как, например, резисторы или диоды), то для проверки интегральной микросхемы (ИМС) требуется гораздо больший ассортимент оборудования.

В этом плане хорошую помощь могло бы оказать устройство, позволяющее оперативно проверять работоспособность ИМС, с возможностью проверки как новых (подготовленных для монтажа), так и уже демонтированных из платы микросхем. Очень удобна проверка микросхем, для которых конструктивно на плате изделия предусмотрены колодки. Это позволяет производить достаточно быструю проверку радиодетали, сведя риск ее выхода из строя к минимуму, поскольку в этом случае полностью исключается ее нагрев и различные механические повреждения при монтаже/демонтаже.

Зачастую проверка микросхем (например, в радиомастерских), в связи с отсутствием широкодоступных и недорогих устройств такого класса, осуществляется по работоспособности того или иного изделия путем пайки или вставления в панель ИМС на плату данного изделия. Этот процесс занимает достаточно длительное время и не всегда может служить показателем полной исправности микросхемы (к примеру, когда микросхема исправна лишь частично).

1. Инженерная интерпретация задачи

В данной курсовой работе необходимо разработать микропроцессорный контроллер для тестирования ИМС. Тестер должен производить функциональный контроль интегральной микросхемы по принципу "годен" - "не годен". Тестированию должны подвергаться только микросхемы DIP с 16 выводами - 8 - земля, 16 - питание +5В. Или DIP с 14 выводами и стандартным подключением питания - вывод 7 - земля, вывод 14 - питание +5. Общее число видов проверяемых микросхем не более 256, логика тестируемых микросхем: ТТЛ, серия 1533, 155.

2. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма

Для тестирования микросхем была написана программа для микроконтроллера. Она состоит из трех основных блоков:

Основная программа.

Тестирование микропроцессорного контроллера на исправность микропроцессора, дополнительной ПЗУ, шинных драйверов, светодиодов, звуковой сигнализации микроконтроллера.

Ввод номера тестируемой микросхемы посредством клавиатуры.

Расчет адреса начала блока данных для этой микросхемы в базе данных.

Занесение блока данных в ОЗУ микропроцессора.

Вызов подпрограммы.

Вывод результатов подпрограммы.

Подпрограмма проверки микросхемы.

База данных - область ПЗУ микропроцессора и дополнительной ПЗУ для хранения информации о тестируемых микросхемах.

Блок-схема основной программы представлена на рис.2.1.

Блок-схема основной программы:

Рис. 2.1

3. Выбор микропроцессора и элементов схемы

Основой данной системы будет является микропроцессор КМ1816ВЕ51 [1]. Микропроцессор КМ1816ВЕ51 представляет собой однокристальную восьмиразрядную микро-ЭВМ со встроенной перепрограммируемой памятью (ППЗУ), со стиранием информации ультрафиолетовым излучением, изготовленную по n-МОП-технологии. Наличие перепрограммируемой памяти с ультрафиолетовым стиранием позволяет пользователю самостоятельно задавать функции однокристальной микро-ЭВМ путем записи своей программы в ППЗУ. Микро-ЭВМ содержит все функциональные узлы, необходимые для самостоятельной работы: центральный процессор, память команд, память данных, интерфейс ввода-вывода, таймер, схему прерываний, тактовый генератор.

Микросхема КМ1816ВЕ51 имеет восьмиразрядный канал данных. Объем внутренней памяти команд (ППЗУ) - 4096K. Объем внутренней памяти данных (ОЗУ) 128 байт.

КМ1816ВЕ51 необходимо напряжение питания 5 В 5%, при токе потребления меньшем или равном 135мА. Уровни логических сигналов: U0вх 0,8 В; U1вх 2 В; U0вых 0,45 В; U1вых 2,4 В.

Конструктивно БИС размещена в 40-выводном металлокерамическом корпусе с прозрачной крышкой (типа 2123.40-6) и может работать в диапазоне температур от - 10 до + 700 С.

Синхронизация всей работы однокристальной микро-ЭВМ осуществляется за счет встроенного генератора, который представляет собой схему с последовательным резонансом, работающую в диапазоне частот 1,2…12 МГц. Для возбуждения генерации необходимо к выводам CR18, CR19 присоединить кварцевый резонатор.

Для подключения тестируемой микросхемы используем первый и второй порт микропроцессора. Соответственно с 0 по 7 бит первого порта подключаем к тестируемой микросхемы с 1 по 6 и 8,9 выводам для DIP14 и для DIP16 с 1 по 7 и 9 выводам. Биты с 0 по 3 второго порта подключаем с 10 по 13 выводам тестируемой микросхеме для DIP14. Для DIP16 биты с 0 по 5 второго порта подключаем с 10 по 15 выводам тестируемой микросхеме.

К нулевому порту, через элемент DD2 (КР531ЛЛ1) выступающий в роли промежуточного усилителя тока, подключаем: на 0 бит светодиод VD1 - “годен", на 1 бит светодиод VD2 - “негоден", 2 бит используем для вывода звуковых сигналов при нажатии кнопки, а 3 бит для подачи управляющего сигнала на транзистор, коммутирующий реле, подающее напряжение на проверяемую схему.

Для ввода номера и начала проверки тестируемой микросхемы используем 11 клавиш подключенных к первому порту через два шинных драйвера, с 1 по 8 клавишу к первому и 9,10 и ”тест" ко второму драйверу. Во время опроса клавиатуры 6 и 7 бит второго порта определяет какой шинный драйвер включен. При опросе с 1 по 8 клавишу в 6 бит записывается “0” а в 7 бит “1", при опросе 9, 10, и “тест" на оборот в 6 бит записывается “1” а в 7 бит “0". Во время тестирования микросхемы в 6 и 7 бит должны быть записаны “1", чтобы отключить оба шинных драйвера.

Для сброса микропроцессора при включении тестера и после проверки микросхемы к 9 выводу микропроцессора подключаем клавишу “сброс” и конденсатор с сопротивлением. К 18 и 19 ножке микропроцессора подключаем кварцевый резонатор и два конденсатора. Ввиду высокой идентичности элементов составляющих процессор существует вероятность не возбуждения кварцевого резонатора, для того, чтобы избежать этого параллельно с ним для "раскачки" ставится резистор R2 сопротивлением 100 кОм.

Для выдачи звукового сигнала используется пьезоэлектрическая головка ТПК-572 (сопротивление при 1000Гц 15кОм), для подключения питания к испытываемой схеме реле РЭС9 и для показания результатов исследования и подачи световых сигналов два светодиода АЛ102А.

Всем вышеперечисленным устройствам требуются токи большие, чем может дать микропроцессор, по этому подключать эти приборы будем через микросхему К155ЛЛ1 - (четыре двухвходовых элемента ИЛИ-НЕ с открытым коллектором и повышенной нагрузочной способностью)

Ток необходимый для замыкания реле микросхема К155ЛЛ1 не может дать, ввиду этого реле подключено через транзисторный ключ собранный на транзисторе КТ315Б.

Ввод номера микросхемы при ее тестировании осуществляется при помощи клавиатуры, однако, при тестировании микросхемы, необходимо, чтобы клавиатура была отключена. Для этого предназначены две интегральные микросхемы 1533АП14.

Микросхема 1533АП14 [4] - восьмиразрядный шинный драйвер.

4. Составление алгоритма и подпрограммы для осуществления алгоритма

Подпрограмма может тестировать микросхемы серии К155, 1533 (ЛА12) с числом входов и выходов не более 16 (14), в корпусе DIP и стандартным подключением питания вывод8-земля, вывод 16 - питание +5В (вывод 7 - земля, вывод 14 +5 В). Информация о каждом типе микросхемы (общее число тестируемых микросхем не более 256) хранится в блоке данных, размер которого зависит от сложности микросхемы и полноты ее теста. Первый байт блока данных определяет длину блока данных, второй и третий байт определяют расположение и число выходов и входов тестируемой микросхемы. Каждые последующие два байта определяют состояния входов и правильное состояние выходов. Подпрограмма записывает в биты порта соответствующие входам микросхемы состояния входов, а на биты выходов записывает единицы.

После паузы подпрограмма опрашивает биты портов соответствующие выходам тестируемой микросхемы и сравнивает с правильным состоянием выходов. При совпадении проверяются следующие два байта из блока данных и так до конца теста микросхемы.

При успешном проходе всего теста подпрограмма передает управление основной программе с числом 0 в аккумуляторе, при неисправности микросхемы с числом 01h.

При вызове подпрограммы блок данных должен находиться в ОЗУ.

Блок схема подпрограммы изображена на рис.4.1

Микросхемы 133-, 155-, 1533ЛА12 - микросхемы, содержащие четыре логических элемента 2И-НЕ.

Рассмотрим параметры микросхемы КР1533ЛА12 [4]:

ток потребления Iпот 3 мА;

входной ток высокого уровня I1вх 0,02 мА;

выходное напряжение низкого уровня U0вых 0,4 В.

Схема разводки выводов микросхемы КР1533ЛА12 представлена на рис. 4.2.

Блок-схема подпрограммы:

Рис. 4.1

Подпрограмма тестирования микросхемы КР1533ЛА12.

Метка

Команда

Комментарий

TEST:

CLR A

; обнуляем аккумулятор

MOVC A,@A+DPTR

; получаем длину тестовой записи

MOV R0,A

; загружаем в счётчик - R0

DEC R0

; уменьшаем счётчик

INC DPTR

; переходим к следующему байту

CLR A

MOVC A,@A+DPTR

; получаем первый байт маски выходов

MOV R1,A

; сохраняем его в регистре R1

CLR A

DEC R0

; уменьшаем счётчик

INC DPTR

; переходим к следующему байту

MOVC A,@A+DPTR

; получаем второй байт маски выходов

MOV R2,A

; сохраняем его в R2

SETB A7h

; подаём питание на тестируемую м/с

NEXT:

MOV 90h,#FFh

MOV A,A0h

ORL A,#0Fh

MOV A0h,A

INC DPTR

; переходим к следующему байту

CLR A

MOVC A,@A+DPTR

; получаем первый из набора байт

XCH A,R3

; сохраняем его в R3

INC DPTR

CLR A

MOVC A,@A+DPTR

; получаем второй из набора байт

MOV R4,A

; сохраняем его в R4

MOV A,A0h

; сохраняем

ANL A,#F0

; четыре старших бита в порте 2

ORL A,R4

; получаем байт для выдачи в порт 2

XCH A,R4

; сохраняем его в R4

MOV A,R1

; загружаем первый масковый байт

ORL A,R3

; устанавливаем в единицы биты выходов

MOV 90h,A

; выдаём в порт 1

MOV A,R2

; загружаем второй масковый байт

ORL A,R4

; устанавливаем в единицы биты выходов

MOV A0h,A

; выдаём в порт 2

NOP

; задержка для срабатывания м/с

NOP

MOV A,90h

; получаем байт из порта 1

XRL A,R3

; сравниваем с эталоном

JNZ ERROR

; если не совпадает, то брак

MOV A,A0h

; получаем байт из порта 2

XRL A,R4

; сравниваем с эталоном

JNZ ERROR

; если не совпадает, то брак

DEC R0

; уменьшаем счётчик

DJNZ R0,NEXT

; уменьшаем, если не ноль следующий набор

CLR A7h

; отключаем питание от м/с

CLR A

; обнуляем аккумулятор

RET

; выход из процедуры

ERROR:

CLR A7h

; отключаем питание

MOV A,#01h

; выдаём сообщение о ошибке

RET

; выход из процедуры

Блок данных для тестировании КР1533ЛА12

0Bh

Размер блока данных.

09h

Первый байт маски.

09h

Второй байт маски.

09h

Состояние выходов тестируемой ИМС при различных сигналов на входах.

09h

5Вh

0Вh

ADh

0Dh

F6h

06h

Заключение

В данной курсовой работе был разработан микропроцессорный контроллер для тестирования ИМС. Тестер производит функциональный контроль интегральной микросхемы по принципу "годен" - "не годен". Тестированию подвергаются только микросхемы DIP с 16 (14) выводами и стандартным подключением питания вывод 8-земля, вывод 16 - питание +5В (вывод 7 - земля, вывод 14 - питание +5В). Общее число видов проверяемых микросхем не более 256, логика тестируемых микросхем: ТТЛ, серия 1533, 155 (ЛА12).

Микропроцессорный контроллер для тестирования ИМС построен на микропроцессоре К1816ВЕ51.

Литература

В.В. Сташин, А.В. Урусов, О.Ф. Мологонцева. Проектирование цифровых устройств на однокристальных микроконтроллерах. - М.: Энергоатомиздат, 1990. - 224с.: ил.

Алексеенко А.Г., Галицын А.А., Иванников А.Д. Проектирование радиоэлектронной аппаратуры на микропроцессорах: Программирование, типовые решения, методы отладки. - М.: Радио и связь, 1984. - 272 с., ил.

Популярные цифровые микросхемы/ В.Л. Шило. - М.: Металлургия, 1990. - 1988 с.: ил.

Аванесян Г.Р., Левшин В.П. Интегральные микросхемы ТТЛ, ТТЛШ: Справочник. - М.: Машиностроение, 1993. - 256 с.: ил.

Згурский В.С., Лисицын Б.Л. Элементы индикации. Справочник. - М.: Энергия, 1974. -224 с.: ил.

Малогабаритная радиоаппаратура. Справочник радиолюбителя: Справочник - Киев: "Наукова Думка" 1976. - 560с.: ил.


Подобные документы

  • Разработка программно-аппаратного комплекса (микропроцессорного контроллера) для тестирования интегральных микросхем. Функциональный контроль по принципу "годен" - "не годен". Параметры микроконтроллера КМ1816ВЕ51. Блок-схема алгоритма работы контроллера.

    курсовая работа [307,1 K], добавлен 16.07.2009

  • Использование параметрических феррорезонансных стабилизаторов напряжения. Конструктивно-технологическое исполнение интегральной микросхемы. Расчет интегрального транзистора и его характеристики. Разработка технических требований и топологии микросхемы.

    курсовая работа [140,6 K], добавлен 15.07.2012

  • Анализ исходных данных и выбор конструкции. Разработка коммутационной схемы. Расчет параметров элементов. Тепловой расчет микросхемы в корпусе. Расчет паразитных емкостей и параметров надежности микросхемы. Разработка технологии изготовления микросхем.

    курсовая работа [150,4 K], добавлен 12.06.2010

  • Основные принципы построения АМ-ЧМ приемников. Анализ схемы электрической принципиальной ИМС TA2003. Разработка физической структуры кристалла, технологического маршрута изготовления и топологии интегральной микросхемы. Компоновка элементов и блоков.

    дипломная работа [2,0 M], добавлен 01.11.2010

  • Разработка усилителя слабых сигналов в виде интегральной микросхемы (ИМС) в корпусе. Выбор технологии изготовления. Расчет геометрических размеров и топологии элементов интегральной микросхемы. Выбор навесных компонентов, типоразмера платы и корпуса.

    курсовая работа [381,0 K], добавлен 29.10.2013

  • Электрические параметры интегральной микросхемы (ИМС). Расчет параметров модели полевого транзистора с управляющим p-n-переходом. Моделирование схемы включения истокового повторителя. Разработка топологии и технологического маршрута изготовления ИМС.

    дипломная работа [1,9 M], добавлен 29.09.2010

  • Разработка конструкции, топологии и технологического процесса интегральной микросхемы по заданной электрической схеме. Топологический расчет транзистора и полупроводникового кристалла. Расчет геометрических размеров резисторов и конденсаторов.

    курсовая работа [1,3 M], добавлен 18.02.2010

  • Основное предназначение микроконтроллера PIC18F2550. Этапы изготовления микропроцессорного блока. Анализ микросхемы, предназначенной для обработки цифровой информации в соответствии с заданной программой. Характеристика принципиальной электрической схемы.

    курсовая работа [2,8 M], добавлен 07.06.2012

  • Выбор и обоснование элементной базы, структурной и принципиальной схем, компоновки устройства. Расчет узлов и блоков, потребляемой мощности и быстродействия. Выбор интегральной микросхемы и радиоэлектронных элементов, способа изготовления печатной платы.

    дипломная работа [149,1 K], добавлен 23.10.2010

  • Определение перечня устройств и элементов, которые будут входить в аппаратную часть. Выбор компонентов: микроконтроллера AT89C51RC2 фирмы Atmel, ЖК-индикатора LM020L. Алгоритм функционирования программы, разбраковывающей микросхемы по частоте в диапазоне.

    курсовая работа [1,5 M], добавлен 19.06.2014

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.