Физические основы дифракционных методов исследования структуры материалов

Рубрика	Физика и энергетика
Вид	статья
Язык	русский
Дата добавления	15.03.2014
Размер файла	9,2 M

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Подобные документы

• Методы рентгеноструктурного анализа

  Характеристика трех методов рентгеноструктурного анализа. Роль метода Лауэ для изучения атомной структуры кристаллов. Использование метода вращения при определении атомной структуры кристаллов. Изучение поликристаллических материалов методом порошка.
  
  реферат [777,4 K], добавлен 28.05.2010
  

• Физические и механические свойства материалов

  Свойства материалов: механические, физические, химические. Виды деформаций: растяжение, сжатие, сдвиг, кручение и изгиб. Расчет плотности, теплопроводности и теплоемкости материалов. Огнестойкость материалов: несгораемые, трудносгораемые, сгораемые.
  
  презентация [32,0 M], добавлен 10.10.2015
  

• Методы исследования строения молекул

  Общая характеристика некоторых физических методов исследования строения молекул: рентгеноэлектронной и инфракрасной спектроскопии, дифракционных методов. Особенности полуэмпирических, неэмпирических и кванто-механических методов исследования вещества.
  
  курсовая работа [510,7 K], добавлен 06.02.2013
  

• Определение параметра элементарной ячейки кристалла кубической сингонии

  Дифракция рентгеновских лучей. Индицирование дифрактограмм кристаллов кубической сингонии. Пример обозначения плоскостей в элементарной ячейке, относящихся к семейству. Процесс установления индексов интерференции. Основные типы кубических решёток.
  
  лабораторная работа [3,5 M], добавлен 10.05.2019
  

• Рассеяние электронной плотности в металлах и ионных кристаллах по рентгенографическим данным

  Свойства объектов и методы измерения электронной плотности по упругому рассеянию. Экспериментальные методы исследования комптоновского рассеяния. Атомно-рассеивающий фактор, распределение радиальной электронной плотности в литии по комптоновским профилям.
  
  дипломная работа [1,3 M], добавлен 06.06.2011
  

• Электронная микроскопия как средство изучения строения металлов и сплавов

  Основы сканирующей электронной микроскопии. Методические особенности электронно-микроскопического исследования металлических расплавов. Особенности микроскопов, предназначенных для исследования структуры поверхностных слоев металлических расплавов.
  
  реферат [1,5 M], добавлен 11.05.2013
  

• Распределение электронной плотности в металлических и ионных кристаллах

  Свойства исследуемых объектов и методы измерения электронной плотности по упругому рассеянию, неупругое рассеяние рентгеновских лучей веществом. Импульсная аппроксимация, атомно-рассеивающий фактор, вид и методика обработки дифракционных максимумов.
  
  диссертация [885,1 K], добавлен 10.06.2011
  

• Разработка автономного источника питания на основе радиоизотопных материалов и кремниевой p-i-n структуры

  Разработка радиоизотопных, кремниевых источников питания. Изучение двух ступенчатых преобразователей. Описание различных полупроводниковых материалов для бетавольтаических преобразователей. Анализ энергии потерь электронов в полупроводниковой структуре.
  
  дипломная работа [1,4 M], добавлен 19.05.2015
  

• Расчет по экспериментальным данным структурных характеристик, силовых констант и параметров Джадда-Офельта для активированных кристаллов

  Описание структуры и параметров активированных кристаллов. Характеристики полиэдров Вороного-Дирихле. Исследование структуры и расчет параметров Джадда-Офельта для активированных кристаллов. Изучение структуры шеелитов методом пересекающихся сфер.
  
  дипломная работа [1,1 M], добавлен 20.07.2015
  

• Анизотропные кристаллы. Кристаллография. Сингония высшего, среднего, низшего порядков

  Понятие элементарной ячейки кристалла. Элементы симметрий: плоскость, центр, оси. Виды симметрий у октаэдра. Виды сингоний, относящиеся к высшему, низшему, среднему порядкам. Порядок сингонии, изотропность кристалла. Скорость прохождения света в веществе.
  
  реферат [361,1 K], добавлен 12.01.2012
  

• Методы исследования элементного состава материалов

  Рентгено-флуоресцентный спектральный анализ материалов. Исследование элементного состава вещества. Процесс возникновения рентгеновской флуоресценции. Аналитические возможности нейтронно-активационного анализа. Спектры излучения радиоактивного образца.
  
  реферат [1,3 M], добавлен 07.05.2019
  

• Общие сведения о полупроводниках

  Описание полупроводников, характеристика их основных свойств. Физические основы электронной проводимости. Строение кристалла кремния. Направленное движение электронов и дырок под действием электрического поля, p-n переход. Устройство транзисторов.
  
  презентация [2,4 M], добавлен 20.04.2016
  

• Рентгеноструктурный анализ

  Дифракционный структурный метод. Взаимодействие рентгеновского излучения с электронами вещества. Основные разновидности рентгеноструктурного анализа. Исследование структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей.
  
  презентация [668,0 K], добавлен 04.03.2014
  

• Рентгеновское излучение

  Открытие рентгеновского излучения. Источники рентгеновских лучей, их основные свойства и способы регистрации. Применение рентгеновского излучения в металлургии. Определение кристаллической структуры и фазового состава материала, анализ их несовершенств.
  
  курсовая работа [2,0 M], добавлен 21.02.2013
  

• Физические основы нанесения покрытий методом распыления

  Физические основы различных распылений: ионного, катодного, магнетронного, высокочастотного. Получение покрытий распылением в несамостоятельном газовом разряде. Методы контроля параметров осаждения покрытий. Вакуумная металлизация полимерных материалов.
  
  курсовая работа [457,3 K], добавлен 19.01.2011
  

• Кристаллографический анализ структуры и потенциальных свойств заданного материала

  Характеристика кристаллической структуры оксида титана с точки зрения кристаллографических и кристаллофизических свойств. Расчет рентгенограмм для двух материалов: диоксида олова и теллурида свинца. Пиролитический и пьезоэлектрический эффект в кристаллах.
  
  курсовая работа [1,1 M], добавлен 24.06.2011
  

• Физические основы звука

  Природа звука, физические характеристики и основы звуковых методов исследования в клинике. Частный случай механических колебаний и волн. Звуковой удар и кратковременное звуковое воздействие. Звуковые измерения: ультразвук, инфразвук, вибрация и ощущения.
  
  реферат [24,5 K], добавлен 09.11.2011
  

• Квазикристаллы и их особенности

  Создание новых многофункциональных материалов с необычными свойствами. Трансляции и кристаллические решетки. Особенности структуры квазикристаллов и свойств. История открытия квазикристаллов. Построение одномерного квазикристалла методом сечений.
  
  реферат [6,9 M], добавлен 31.12.2014
  

• Электронный энергетический спектр неодима

  Электронное строение атомов переходных элементов. Физические свойства редкоземельных металлов, их применение. Решение уравнения Шредингера для кристалла. Современные методы расчета зонной структуры. Расчет электрона энергетического спектра неодима.
  
  дипломная работа [1000,2 K], добавлен 27.08.2012
  

• Физические основы звуковых методов исследования в клинике

  Колебания частиц в упругих средах, распространяющиеся в форме продольных волн, частота которых лежит в пределах, воспринимаемых ухом. Объективные, субъективные характеристики звука. Звуковые методы исследования в клинике. Положение пальцев при перкуссии.
  
  презентация [607,1 K], добавлен 28.05.2013
  

• главная
• рубрики
• по алфавиту
• вернуться в начало страницы
• вернуться к началу текста
• вернуться к подобным работам