Моделирование полей упругих деформаций для упорядоченных массивов нанокластеров германия в кремнии

Разработка программы численного моделирования полей упругих деформаций для упорядоченных массивов нанокластеров германия в кремнии. Атомистическая модель на базе потенциала Китинга. Применение метода сопряжённых градиентов для минимизации энергии системы.

Рубрика Производство и технологии
Вид статья
Язык русский
Дата добавления 29.10.2018
Размер файла 523,4 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.

Размещено на http://www.allbest.ru/

Моделирование полей упругих деформаций для упорядоченных массивов нанокластеров германия в кремнии

При эпитаксиальном росте германия на кристаллическом кремнии на гетерогранице возникают упругие напряжения из-за различия длин связей в кристаллах германия и кремния. В начале роста формируется напряжённый смачивающий слой, состоящий из нескольких атомарных слоёв германия. При последующем росте на грани {001} на поверхности смачивающего слоя формируются пирамидальные островки с прямоугольным основанием. Эти структуры обычно снова покрываются кремнием. Ключевую роль в процессах саммоорганизации получающихся наноструктур играют неоднородные упругие деформации в системе [1].

Образующиеся островки размерами в десятки нанометров могут рассматриваться как квантовые точки, поскольку они могут захватывать дырки и электроны на локализованные квантовые состояния. Дырки локализуются в объёме германиевых пирамидок на квантовых состояниях, возникающих из-за размерного квантования. Захваченные электроны локализуются преимущественно в кремнии, и потенциальные ямы для них формируются за счёт упругой деформации слоёв кремния, окружающих пирамидки.

Для моделирования полей упругих деформаций внутри пирамидок и в их окрестности нами ранее применялась дискретно-континуальная модель [2], использующая потенциал Китинга. Часть атомов в этой модели рассматривалась в явном виде, а влияние остальных атомов учитывалось через численно рассчитываемую функцию Грина. В данной работе используется более точная, чисто атомистическая модель и кластерное приближение.

При упругой релаксации системы минимизируется функционал энергии системы, который имеет вид (потенциал Китинга) :

(1)

где ri - радиус-вектор i-го атома, бij, вijk и lij - параметры, зависящие от сорта атомов i, j и k; индекс i нумерует все атомы кластера, а индексы j и k нумеруют ближайших соседей i-го атома. Параметры бij и вijk играют роль силовых констант, а lij - равновесные длины связей между атомами. Значения параметров потенциала взяты теми же, как и в [2].

Полную энергию (1) системы можно представить в виде суммы величин Ei, соответствующих вкладам отдельных атомов системы. Величину Ei можно интерпретировать как долю упругой энергии, связанную с i-м атомом.

Для минимизации энергии системы нами используется метод сопряжённых градиентов. Численный расчёт заканчивается, когда величина изменения полной энергии кластера на одном шаге сопряжённых градиентов становится на 14 порядков меньше, чем полная энергия кластера.

Кластеры строятся путём последовательного наращивания числа координационных сфер, начиная с некоторого центрального атома. Основные расчёты проводились для кластеров, содержащих атомы 150 координационных сфер. Такой кластер содержит 2 840 951 атомов. Использование кластеров таких размеров позволило существенно точнее по сравнению с предыдущими работами рассчитывать упругие деформации в кремнии, окружающем квантовые точки и, соответственно, получать более точную информацию о возможности локализации электронов на таких квантовых точках.

Используются следующие граничные условия. Для атомов двух внешних координационных фиксируются x и y координаты (в плоскости смачивающего слоя), но полностью освобождаются для релаксации z координаты всех атомов (вдоль направления роста). Это становится возможным ввиду разрыва кристаллического кремния бесконечными смачивающими слоями, состоящими из атомов германия.

Первоначально, перед релаксацией все атомы располагаются в узлах идеальной алмазоподобной решётки кремния. При этом расстояние между соседними атомными слоями в направлении [001] равно 0.135768 нм. Замена отдельных атомов кремния на атомы германия в этой решётке приводит к возникновению локальных напряжений в структуре из-за несовпадения равновесных длин связей Si-Si, Si-Ge и Ge-Ge. Предполагается, что упругая релаксация в системе сохраняет топологию межатомных связей алмазопобной структуры. В последующих задачах мы рассматриваем смачивающие слои, состоящие только из 5 атомарных слоёв. Пирамидки имеют квадратное основание и отношение высоты к ширине 1:10.

Эффективную потенциальную энергию электрона для каждой точки пространства можно представить как сумму потенциальной энергии без учёта деформации решётки и потенциальной энергии, связанной с упругой деформацией. Используя эмпирические константы деформационного потенциала для Si и Ge, вклад упругой деформации можно записать в виде линейного разложения по компонентам тензора деформации [2].

Релаксированные координаты атомов в кластерах использованы для оценки компонент тензора деформации во всех узлах атомарной сетки.

Для расчёта тензора деформации используется следующий алгоритм [2]. Поместим начало координат декартовой системы координат (x,y,z) в узел, для которого будет рассчитываться тензор деформации. Центры четырёх ближайших к этому узлу атомов образуют вершины четырёхгранника. В качестве вершин недеформированного четырёхгранника рассматриваются четыре точки с координатами

, , , ,

где d1,…, d4 -- равновесные длины соответствующих межатомных связей, знак «+» или «-» выбирается в зависимости от подрешётки. Пусть , , , обозначают радиус-векторы соответствующих вершин в деформированной решётке. Рассчитываются вектора смещений атомов , . Далее определяются девять величин wбв по формулам:

где a -- постоянная решётки. Величины wбв соответствуют производным ?uб/?rв в приближении сплошной среды. Тензор деформации uбв, согласно [3], рассчитывается как

.

Этот алгоритм оценки значений компонент тензора деформации прост и экономичен в реализации. Хотя алгоритм имеет всего лишь первый порядок аппроксимации с точки зрения сплошносредного подхода, но в данном случае изначально рассматривается дискретная атомистическая модель на атомарных масштабах. В такой ситуации сам по себе континуальный сплошносредный подход является лишь грубым приближением к дискретной реальности. Поэтому речь может идти лишь о разумной оценке значений компонент тензора деформации. Кроме того, рассчитываемые в рассмотренных нами задачах значения компонент тензора деформации оказываются достаточно малыми и обычно не превышают величины 0.05.

Нами проведены расчеты для нескольких десятков структур, содержащих до 12 пирамидок разных размеров. Для всех структур были рассчитаны и визуализированы распределения плотности энергии деформации, распределения компонент тензора деформации и распределения в приближении эффективных масс потенциальной энергии электронов для шести долин, образующих дно зоны проводимости кремния.

На рисунках 1-4 в качестве примеров представлены некоторые результаты проведённых расчётов.

На рисунке 1 приведено рассчитанное распределение объёмной плотности энергии деформации в кремнии в центральном сечении (y = 0) кластера, содержащего одиночную пирамидку с полушириной основания в 100 атомарных слоёв.

Для более информативного отображения энергии цветами используется неравномерная шкала. Соответствие между величиной энергии и цветами устанавливается палитрой, приведённой справа на рисунке. Максимальное по величине значение энергии деформации 35.97 мэВ достигается на внутренних атомах смачивающего слоя вблизи периметра основания пирамидки.

В процессе эпитаксиального роста в эксперименте наблюдается тенденция спонтанного формирования вертикальных (вдоль направления роста) структур из германиевых пирамидок. Деформационное поле, создаваемое в кремнии какой-либо пирамидкой очередного слоя, создаёт благоприятные условия для формирования новой пирамидки именно над этой пирамидкой в следующем выращиваемом слое.

На рисунке 2 изображено распределение плотности энергии деформации для центрального сечения (y=0) двухслойной системы, где две пирамидки нижнего слоя имеют полуширину в 60 атомарных слоёв, а пирамидки верхнего слоя имеют полуширину в 40 атомарных слоёв. Расстояние между центрами пирамидок в направлении оси x равно 140 атомарным слоям, а в направлении оси z - 40 атомарным слоям.

Вертикальную структуру из пирамидок, естественно формирующуюся в процессе роста, мы рассматриваем в качестве возможного прототипа последовательного квантового регистра для квантового компьютера. На рисунке 3 представлены результаты для подобной восьмиразрядной структуры.

На рисунках 2 и 3 чётко видно перекрывание деформационных полей соседних пирамидок, что в итоге ведёт к углублению потенциальных ям для электронов.

Примером расчёта распределения потенциальной энергии электрона является результат, представленный на рисунке 4 и полученный для той же пирамидки, что и на рисунке 1.

Работа выполнена в рамках Интеграционного проекта СО РАН № 43 “Разработка физических принципов построения логических элементов на основе наноструктур с квантовыми точками”

Библиографический список

программа деформация германий нанокластер

1. Двуреченский А.В., Якимов А.И. Гетероструктуры Ge/Si с квантовыми точками // УФН. - 2001. - № 12 (171).

2. Ненашев А.В., Двуреченский А.В. Пространственное распределение упругих деформаций в структурах Ge/Si с квантовыми точками // ЖЭТФ. - 2000. - № 9 (118).

3. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теория упругости. - М., 1965.

Приложение

Рисунок 1. Распределение объёмной плотности энергии деформации в кремнии для случая одиночной пирамидки.

Рисунок 2. Распределение плотности энергии деформации для двухслойной системы, содержащей четыре пирамидки разных размеров.

Рисунок 3. Распределение плотности энергии деформации для сечения y=0 для стека из восьми пирамидок с полушириной основания в 55 атомарных слоёв и расстоянием между центрами соседних пирамидок в 32 атомарных слоя.

Рисунок 4. Распределение потенциальной энергии электрона в кремнии для и долин в центральном сечении (y=0) кластера, содержащего одиночную пирамидку с полушириной основания в 100 атомарных слоёв.

Размещено на Allbest.ru


Подобные документы

  • План изготовления детали. Типы машиностроительных производств, их сравнительная характеристика. Понятие, виды и особенности проектирования производственного и технологического процессов. Погрешности от износа инструмента и от упругих деформаций заготовки.

    шпаргалка [3,0 M], добавлен 11.10.2009

  • Сущность метода зонной плавки. Физико-химические свойства германия. Применение германия в полупроводниковых приборах. Получение технического кремния восстановления природного диоксида SiO2 (кремнезем) в электрической дуге между графитовыми электродами.

    реферат [125,4 K], добавлен 25.01.2010

  • Основные параметры планетарной передачи. Структурная и кинематическая схемы мехатронного модуля. Энергетический расчет привода мехатронного модуля при динамических нагрузках. Расчет упругих деформаций, на прочность основных элементов, прочности.

    лабораторная работа [1,5 M], добавлен 06.04.2012

  • Назначение и классификация упругих элементов. Эксплуатационные свойства и материалы упругих элементов. Вид и режим термической обработки пружин. Характеристика винтовых пружин. Расчет цилиндрических винтовых пружин растяжения–сжатия и пружин кручения.

    реферат [1,3 M], добавлен 18.01.2009

  • Построение двумерной расчетной геометрической модели отливки и литейной формы, генерация конечноэлементной сетки. Моделирование температурно-фазовых полей в отливке и температурных полей в литейной форме. Расчет микро- и макропористости в отливке.

    курсовая работа [1,3 M], добавлен 15.06.2015

  • Особенности и сущность метода динамического молекулярного моделирования. Параметры потенциала, относительный коэффициент диффузии. Специфика распределения атомов в структуре системы. Координационное число для Li-Oet. Сфера использования этого метода.

    презентация [250,4 K], добавлен 24.10.2013

  • Метод хрупких тензочувствительных покрытий как способ экспериментальных исследований полей деформаций и напряжений на поверхности деталей, узлов конструкций или их моделей, условия применения. Тензочувствительность хрупкого покрытия, образование трещин.

    контрольная работа [154,3 K], добавлен 18.08.2014

  • Исследование моделирования медицинского аппарата пульсовой аналитической системы. Задача оценки степени объективности метода моделирования применительно к объекту. Использование метода декомпозиции. Рекомендации по применению алгоритма моделирования.

    статья [23,6 K], добавлен 06.09.2017

  • Технологическая схема процесса и общий принцип получения полупроводникового германия из германиевых концентратов. Основные способы очистки технического тетрахлорида германия, автоматизация процесса его дистилляции. Выбор микропроцессорного контроллера.

    дипломная работа [902,3 K], добавлен 16.12.2013

  • Любой механизм помимо других свойств должен обладать прочностью, т.е. способностью его деталей, соединений выдерживать, не разрушаясь, действие внешних сил. Под действием внешних сил звенья механизмов изменяют свою форму, размеры, т. е. деформируются.

    реферат [1,8 M], добавлен 13.01.2009

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.