контрольная работа  Характеристика атомно-силовой микроскопии

Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии. Применение трехмерного изображения поверхности материала в научных исследованиях и промышленном производстве. Изучение поверхностных дефектов материалов. Анализ сканирующего зондового микроскопа.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

                                                                 
 ad88888ba    ad88888ba   8888888888   8888888888     ad8888ba,  
d8"     "88  d8"     "88  88           88            8P'    "Y8  
8P       88  8P       88  88  ____     88  ____     d8           
Y8,    ,d88  Y8,    ,d88  88a8PPPP8b,  88a8PPPP8b,  88,dd888bb,  
 "PPPPPP"88   "PPPPPP"88  PP"     `8b  PP"     `8b  88P'    `8b  
         8P           8P           d8           d8  88       d8  
8b,    a8P   8b,    a8P   Y8a     a8P  Y8a     a8P  88a     a8P  
`"Y8888P'    `"Y8888P'     "Y88888P"    "Y88888P"    "Y88888P"   
                                                                 
                                                                 

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид контрольная работа
Язык русский
Дата добавления 22.04.2019
Размер файла 1,6 M

Подобные документы

  • Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.

    курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012

  • История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.

    презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014

  • Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.

    курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014

  • Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.

    дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012

  • Тенденции к миниатюризации и переходу к нанометровым размерам в современной электронике. Физические основы зондовой нанотехнологии. Методы формирования нанорельефа. Совместное использование лазера и сканирующего электронного микроскопа в нанолитографии.

    реферат [1,3 M], добавлен 14.01.2017

  • Обоснование способа и силовой схемы регулирования выпрямленного напряжения. Расчет параметров управляемого выпрямителя и выбор типа силовых полупроводниковых приборов. Анализ работы управляемого выпрямителя. Система импульсно-фазового управления.

    курсовая работа [628,3 K], добавлен 31.03.2018

  • Регистрация микроскопических изображений в УФ лучах производится двумя способами. В плоскости формирования изображения в УФ лучах помещают флюоресцирующий экран, люминофор которого при поглощении УФ лучей испускает световые лучи видимого диапазона.

    реферат [462,0 K], добавлен 24.12.2008

  • Восстановление изображения предмета. Деформация поверхности жидкости под действием звукового давления. Голограммы, записанные с помощью сканирующего источника света. Технология хранения информации. Запись и считывание голограммы оптического диска.

    курсовая работа [66,3 K], добавлен 04.06.2009

  • Разработка принципиальной схемы, выбор защиты и расчет установок, блокировки и сигнализации. Изучение структурных и принципиальных схем силовой части системы, регуляторов. Построение графиков переходных процессов для двухконтурной и позиционной систем.

    курсовая работа [2,8 M], добавлен 11.07.2012

  • Понятие и принцип работы однофазного инвертора напряжения, его функциональные особенности и сферы практического использования. Выбор и обоснование силовой части, порядок расчета параметров трансформатора. Система управления инвертором, ее основные части.

    контрольная работа [859,4 K], добавлен 21.04.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.