контрольная работа Характеристика атомно-силовой микроскопии
Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии. Применение трехмерного изображения поверхности материала в научных исследованиях и промышленном производстве. Изучение поверхностных дефектов материалов. Анализ сканирующего зондового микроскопа.
Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.
Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Вид | контрольная работа |
| Язык | русский |
| Дата добавления | 22.04.2019 |
| Размер файла | 1,6 M |
Подобные документы
Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.
курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.
презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.
дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012Тенденции к миниатюризации и переходу к нанометровым размерам в современной электронике. Физические основы зондовой нанотехнологии. Методы формирования нанорельефа. Совместное использование лазера и сканирующего электронного микроскопа в нанолитографии.
реферат [1,3 M], добавлен 14.01.2017Обоснование способа и силовой схемы регулирования выпрямленного напряжения. Расчет параметров управляемого выпрямителя и выбор типа силовых полупроводниковых приборов. Анализ работы управляемого выпрямителя. Система импульсно-фазового управления.
курсовая работа [628,3 K], добавлен 31.03.2018Регистрация микроскопических изображений в УФ лучах производится двумя способами. В плоскости формирования изображения в УФ лучах помещают флюоресцирующий экран, люминофор которого при поглощении УФ лучей испускает световые лучи видимого диапазона.
реферат [462,0 K], добавлен 24.12.2008Восстановление изображения предмета. Деформация поверхности жидкости под действием звукового давления. Голограммы, записанные с помощью сканирующего источника света. Технология хранения информации. Запись и считывание голограммы оптического диска.
курсовая работа [66,3 K], добавлен 04.06.2009Разработка принципиальной схемы, выбор защиты и расчет установок, блокировки и сигнализации. Изучение структурных и принципиальных схем силовой части системы, регуляторов. Построение графиков переходных процессов для двухконтурной и позиционной систем.
курсовая работа [2,8 M], добавлен 11.07.2012Понятие и принцип работы однофазного инвертора напряжения, его функциональные особенности и сферы практического использования. Выбор и обоснование силовой части, порядок расчета параметров трансформатора. Система управления инвертором, ее основные части.
контрольная работа [859,4 K], добавлен 21.04.2013