презентация  Растровый электронный микроскоп

Описание метода и схемы растрового электронного микроскопа. Характеристика функциональных элементов камеры, схемы детектора эмитированных электронов. Анализ задач, решаемых с помощью растрового электронного микроскопа, его достоинств и недостатков.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

                                             
  #####    ####    ######    #####      ###  
 ##  ##   ##  ##   ##       ##  ##    #####  
 ##  ##       ##   #####    ##  ##   ##  ##  
 ##  ##    ####        ##   ##  ##   ####### 
 ##  ##   ##       ##  ##   ##  ##       ##  
 #####    ######    ####    #####        ##  
                                             

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид презентация
Язык русский
Дата добавления 31.05.2016
Размер файла 530,0 K

Подобные документы

  • Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.

    дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012

  • Основные характеристики микроскопов: разрешающая способность, глубина резкости. Принцип действия электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Принцип действия ионных микроскопов, полевого ионизационного и растрового туннельного микроскопа.

    реферат [7,0 M], добавлен 15.01.2009

  • Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.

    курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012

  • История создания электронного микроскопа. Исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств при помощи сканирующих зондовых микроскопов. Уравнение обратного пьезоэффекта для кристаллов. Механические редукторы и шаговые электродвигатели.

    курсовая работа [68,5 K], добавлен 03.05.2011

  • Тенденции к миниатюризации и переходу к нанометровым размерам в современной электронике. Физические основы зондовой нанотехнологии. Методы формирования нанорельефа. Совместное использование лазера и сканирующего электронного микроскопа в нанолитографии.

    реферат [1,3 M], добавлен 14.01.2017

  • Обзор литературы по усилителям мощности. Описание электрической схемы проектируемого устройства - усилителя переменного тока. Разработка схемы вторичного источника питания. Выбор и расчет элементов схемы электронного устройства и источника питания.

    реферат [491,0 K], добавлен 28.12.2014

  • Выбор элементов схемы мощного и предмощного каскада, частей гальванической развязки. Формирование коротких импульсов и схемы ШИМ. Структура защиты от перегрузок для предотвращения выхода системы из строя в критических режимах работы электронного блока.

    дипломная работа [788,6 K], добавлен 25.09.2012

  • Цифровые способы обработки электрических сигналов, передачи и приема их в цифровой форме. Принцип работы автоколебательного мультивибратора. Разработка схемы электрической принципиальной устройства управления. Моделирование электронного коммутатора.

    курсовая работа [584,8 K], добавлен 10.12.2012

  • История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.

    презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014

  • Особенности разработки измерительной части системы регулирования температуры. Характеристика структурной и электрической схемы электронного устройства. Анализ элементов схемы электронного устройства и источника питания. Методика испытания отдельного узла.

    дипломная работа [2,8 M], добавлен 19.06.2012

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.