Растровая электронная микроскопия (РЭМ)
Исследование топологии поверхности и структурного состояния горных пород и минералов. Способы интерпретации полученных изображений. Особенности изготовления шлифов нанообъектов. Устройство, схема и принцип работы растрового электронного микроскопа.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Предмет | Электронная микроскопия |
| Вид | реферат |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | Жарков Владимир Сергеевич |
| Дата добавления | 30.10.2022 |
| Размер файла | 684,1 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Основные характеристики микроскопов: разрешающая способность, глубина резкости. Принцип действия электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Принцип действия ионных микроскопов, полевого ионизационного и растрового туннельного микроскопа.
реферат [7,0 M], добавлен 15.01.2009Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.
дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014История создания электронного микроскопа. Исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств при помощи сканирующих зондовых микроскопов. Уравнение обратного пьезоэффекта для кристаллов. Механические редукторы и шаговые электродвигатели.
курсовая работа [68,5 K], добавлен 03.05.2011История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.
презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014Спроектированная схема комбинированного устройства на языках релейно-контактной логики и функциональных блоков. Принцип работы и схема мультиплексора, особенности его использования. Постоянное запоминающее устройство: микросхема и массив данных.
курсовая работа [142,3 K], добавлен 05.02.2014Виды постоянных запоминающих устройств (ПЗУ), их характеристики, принцип работы и строение. Исследование принципа работы ПЗУ с помощью программы Eltctronics WorkBench. Описание микросхемы К155РЕ3. Структурная схема стенда для изучения принципа работы ПЗУ.
дипломная работа [8,5 M], добавлен 29.12.2014Типовая структурная схема электронного аппарата и его работа. Свойства частотного фильтра, его характеристики. Расчет входного преобразователя напряжения. Устройство и принцип действия релейного элемента. Расчет аналогового элемента выдержки времени.
курсовая работа [921,8 K], добавлен 14.12.2014Классификация методов исследования наноструктур. Устройство СЗМ Solver HV. СЗМ измерительная система, элементы. Система термостатирования образца. Экспериментальное исследование режимов работы АСМ Solver HV для изучения наноструктурированной поверхности.
курсовая работа [3,0 M], добавлен 12.06.2012Устройства выборки-хранения, их сущность и особенности, принцип работы и назначение. Простейшая схема УВХ, их классификация и содержание. Линейные стабилизаторы напряжения, принцип их работы и назначение, регулирующий элемент и используемая схемотехника.
реферат [83,9 K], добавлен 14.02.2009
