Изучение поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии на СЗМ NanoEducator
Атомно-силовая микроскопия и принципы обработки изображений после исследования в приборе NanoEducator. Определение рабочей частоты и добротности зондового датчика, амплитуды, рельефа и сигнала фазового сдвига по поверхности экспериментального образца.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Предмет | Наноэлектроника |
| Вид | методичка |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | Агеев О.А. |
| Дата добавления | 08.09.2015 |
| Размер файла | 1018,1 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.
курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012Классификация методов исследования наноструктур. Устройство СЗМ Solver HV. СЗМ измерительная система, элементы. Система термостатирования образца. Экспериментальное исследование режимов работы АСМ Solver HV для изучения наноструктурированной поверхности.
курсовая работа [3,0 M], добавлен 12.06.2012Выбор частоты дискретизации широкополосного аналогового цифрового сигнала, расчёт период дискретизации. Определение зависимости защищенности сигнала от уровня гармоничного колебания амплитуды. Операции неравномерного квантования и кодирования сигнала.
курсовая работа [2,0 M], добавлен 18.07.2014Разработка линеаризатора сигнала первого датчика с гладкой и кусочно-линейной аппроксимацией. Определение величины устройства выделения постоянной составляющей из сигнала второго датчика. Разработка аналого-цифрового преобразователя; селекторы сигналов.
курсовая работа [1,7 M], добавлен 18.02.2011Структурная схема преобразователя, расчет и выбор элементов силовой части схемы. Выбор и описание системы управления частотным преобразователем. Синтез и описание функциональной схемы работы системы управления. Особенности моделирования силовой части.
курсовая работа [6,2 M], добавлен 28.01.2015Сущность и классификация методов обработки поверхности. Методы сухой очистки. Процесс плазмохимического травления. Схема вакуумной камеры диодного типа для плазмохимического травления непосредственно в плазме. Очистка поверхности газовым травлением.
реферат [536,7 K], добавлен 15.01.2009Проведение компьютерного моделирования методов измерения фазового сдвига двух синусоидальных сигналов с заданными характеристиками. Преобразование фазового сдвига во временной интервал. Разработка функциональной и электрической схемы цифрового фазометра.
курсовая работа [2,5 M], добавлен 07.09.2012История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.
презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014Внешняя и внутренняя форма деталей радиоаппаратов и автоматических устройств. Общие сведения о поверхностях и их развертки. Сочетание гранных и кривых поверхностей. Линейчатые и нелинейчатые поверхности вращения. Поверхности с плоскостью параллелизма.
реферат [299,4 K], добавлен 24.12.2010
