Инновационные разработки в области растровой электронной микроскопии
Исследования в области квантовой физики, наностуктур, наноэлектроники, кристллофизики. Инвертированный атмосферный растровый электронный микроскоп. Интеграция методов сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного спектрометрического анализа.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Предмет | Электроника |
| Вид | доклад |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | incognito |
| Дата добавления | 12.11.2013 |
| Размер файла | 17,3 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.
курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012Отношение сигнал-шум на выходе сканирующей оптико-электронной системы обнаружения с максимальной дальностью действия. "Точечный" излучатель - объект пеленгации. Распространение оптического сигнала от объекта в атмосфере. Модулятор-анализатор изображения.
курсовая работа [1,9 M], добавлен 24.11.2010Необходимое условие применения СВЧ-методов. Варианты схем расположения антенн преобразователя по отношению к объекту контроля. Три группы методов радиоволновой дефектоскопии: на прохождение, отражение и на рассеяние. Аппаратура радиоволнового метода.
реферат [2,8 M], добавлен 03.02.2009Анализ и моделирование процессов формирования конструктивно технологических характеристик монтажных соединений электронной аппаратуры, методов и средств технологического мониторинга свойств МОС. Методы выявления и оценивания информационных признаков.
дипломная работа [4,2 M], добавлен 06.06.2010Определение геометрии электродов и конфигурации магнитного поля, обеспечивающих формирование пучка с известными параметрами методом синтеза. Выбор ортогональной сетки. Расчет электронной пушки методом анализа, блок-схема программы для расчета, результаты.
курсовая работа [411,8 K], добавлен 27.10.2010Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.
дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012Макромир, микромир, наномир, мир элементарных частиц: основные положения квантовой теории; свойства микро- и наночастиц. Основы микроскопии в электронике. История создания технологических микрообъектов. Наноэлектронные элементы информационных систем.
курсовая работа [1,7 M], добавлен 15.06.2013Особенности конструкции электронной пушки, формирующей цилиндрические и ленточные пучки. Проектирование формирования интенсивного электронного пучка определенной конфигурации с заданными значениями тока и скорости и с ламинарным движением электронов.
курсовая работа [9,1 M], добавлен 28.11.2010История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.
презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014
