Основы теории микроскопа
Основные положения теоретического расчета. Аналитический обзор микроскопа. Расчет системы микроскопа в тонких компонентах. Оптические характеристики объектива и окуляра. Переход к толстым компонентам. Габаритный расчет оптической схемы микроскопа.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Предмет | Оптика |
| Вид | курсовая работа |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | Lizavetta |
| Дата добавления | 06.03.2013 |
| Размер файла | 723,1 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.
курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.
презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.
дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012Тенденции к миниатюризации и переходу к нанометровым размерам в современной электронике. Физические основы зондовой нанотехнологии. Методы формирования нанорельефа. Совместное использование лазера и сканирующего электронного микроскопа в нанолитографии.
реферат [1,3 M], добавлен 14.01.2017Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014Основные характеристики микроскопов: разрешающая способность, глубина резкости. Принцип действия электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Принцип действия ионных микроскопов, полевого ионизационного и растрового туннельного микроскопа.
реферат [7,0 M], добавлен 15.01.2009История создания электронного микроскопа. Исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств при помощи сканирующих зондовых микроскопов. Уравнение обратного пьезоэффекта для кристаллов. Механические редукторы и шаговые электродвигатели.
курсовая работа [68,5 K], добавлен 03.05.2011Оптическая схема стереовидеокамеры, ее структура и компоненты, принцип действия и назначение. Параметры источника приемника излучения. Габаритный расчет оптической системы. Расчет коэффициента пропускания, отношения сигнал-шум. Описание конструкции.
курсовая работа [617,4 K], добавлен 24.11.2010Оптические дисковые системы. Принцип считывания информации. Система радиального слежения за дорожкой, фиксация считывающего пятна в пределах дорожки при перемещениях диска. Расчет линейного электродвигателя, оптической системы, корректирующего устройства.
курсовая работа [86,8 K], добавлен 28.02.2010Общая характеристика и назначение автоматического радарно-оптического комплекса обнаружения и слежения. Выбор фотоприёмного устройства. Габаритный расчёт оптической системы, предусилителя. Вычисление спектрального коэффициента пропускания атмосферы.
курсовая работа [540,8 K], добавлен 24.09.2015