статья  Измерение функции рассеяния линии оптического микроскопа

Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 ###    ##    ##   ###   ###  
    #  #  #  #  #     #     # 
  ##    ###   ##    ##    ##  
    #     #  #  #  #        # 
 ###    ##    ##   ####  ###  
                              

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид статья
Язык русский
Дата добавления 29.01.2019
Размер файла 1,7 M

Подобные документы

  • Понятие комбинационного рассеяния света. Переменное поле световой волны. Квантовые переходы при комбинационном рассеянии света. Возникновение дополнительных линий в спектре рассеяния. Устройство рамановского микроскопа, основные сферы ее применения.

    реферат [982,7 K], добавлен 08.01.2014

  • Устройство микроскопа, история его разработок и тенденции к совершенствованию. Разрешающая способность микроскопов. Особенности оптических, электронных, сканирующих зондовых, рентгеновских, дифференциальных интерференционно-контрастных микроскопов.

    презентация [393,7 K], добавлен 06.02.2014

  • Проектирование волоконно-оптической линии передачи с использованием оптического кабеля между Великим Новгородом и Смоленском. Расчет пропускной способности проектируемой линии. Выбор схемы резервирования, схемы синхронизации и системы управления.

    курсовая работа [5,9 M], добавлен 14.11.2021

  • Габаритный расчет оптической системы прибора. Обоснование компонентов микроскопа. Исследование оптический системы объектива на ЭВМ. Расчет конструктивных параметров. Числовая апертура объектива в пространстве. Оптические параметры окуляра Гюйгенса.

    курсовая работа [375,2 K], добавлен 19.03.2012

  • Состав, принципы работы и назначение растрового электронного микроскопа РЭМН – 2 У4.1. Особенности восстановления рабочего вакуума в колонне растрового микроскопа. Функционирование диффузионного и форвакуумного насосов, датчиков для измерения вакуума.

    дипломная работа [4,1 M], добавлен 05.11.2009

  • Функция рассеяния точки в случае отсутствия аберраций. Влияние неравномерности пропускания по зрачку на ФРТ. Безаберационная ОПФ. Предельная пространственная частота. Критерии качества оптического изображения. Предельная разрешающая способность.

    реферат [566,7 K], добавлен 15.01.2009

  • Понятие и устройство микроскопа, история его разработок и современные тенденции к совершенствованию, функции и задачи. Микроскопия как изучение объектов с использованием микроскопа, ее разновидности и принципы, сферы практического применения на сегодня.

    презентация [8,6 M], добавлен 23.11.2012

  • Расчет интенсивности рассеянного света по Эйнштейну. Критическая опалесценция при фазовых переходах. Свойства особой точки раствора. Способы измерения интенсивности рассеяние света в водном растворе неэлектролитов. Спектры тонкой структуры линии Рэлея.

    магистерская работа [474,1 K], добавлен 25.06.2015

  • Знакомство с устройством и работой растрового электронного микроскопа, измерение размеров частиц порошка алюминия с примесью карбида тантала, анализ полученных данных. Получение снимков и статистическая обработка данных. Изучение калибровочного снимка.

    лабораторная работа [1,4 M], добавлен 02.01.2015

  • История микроскопа - прибора для получения увеличенного изображения объектов, не видимых невооруженным глазом. Методы световой микроскопии. Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Методы микроскопического исследования металлов.

    реферат [3,3 M], добавлен 10.06.2009

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.