статья  Анализ точности высотных измерений методом фокусировки объекта на базе оптического микроскопа Leica DM IRM

Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

   #   #          #   #        #####  
  ##   #    #    ##   #    #  #     # 
 # #   #    #   # #   #    #        # 
   #   #    #     #   #    #   #####  
   #   #######    #   #######       # 
   #        #     #        #  #     # 
 #####      #   #####      #   #####  
                                      

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид статья
Язык русский
Дата добавления 27.05.2018
Размер файла 462,1 K

Подобные документы

  • Свойства звукоизоляции и звукопроницаемости материалов. Определение звукоизоляции образца звукоизоляционного материала с помощью акустического интерферометра. Характеристики погрешности измерений. Оценка погрешности измерений звукоизоляции образца.

    дипломная работа [3,4 M], добавлен 24.06.2012

  • Ознакомление с методом компенсации в практике измерений физических величин. Погрешности при введении в электрическую цепь амперметра или вольтметра. Компенсационные методы и их суть. Мост постоянного тока Уитстона.

    лабораторная работа [83,9 K], добавлен 18.07.2007

  • Критерии грубых погрешностей. Интервальная оценка среднего квадратического отклонения. Обработка результатов косвенных и прямых видов измерений. Методика расчёта статистических характеристик погрешностей системы измерений. Определение класса точности.

    курсовая работа [112,5 K], добавлен 17.05.2015

  • Ознакомление с методами измерения показателя преломления с помощью микроскопа. Вычисление погрешности измерений для пластинок из обычного стекла и оргстекла. Угол отражения луча. Эффективность определения коэффициента преломления для твердого тела.

    лабораторная работа [134,3 K], добавлен 28.03.2014

  • Формирование статического магнитного поля. Петрофизические основы метода. Диапазон измерений времен поперечной релаксации. Обработка и интерпретация данных. Контроль процесса измерений в реальном времени. Геолого–технологические характеристики разрезов.

    курсовая работа [46,0 K], добавлен 14.01.2011

  • Решение проблемы увеличения разрешающей способности микроскопов без разрушения или изменения исследуемого образца. История появления зондовой микроскопии. Атомно-силовой микроскоп и его конструктивные составляющие, обработка полученной информации.

    реферат [692,6 K], добавлен 19.12.2015

  • Методика выполнения измерений как технология и процесс измерений. Формирование исходных данных, выбор методов и средств измерений. Разработка документации методики выполнения измерений напряжения сложной формы на выходе резистивного делителя напряжения.

    курсовая работа [100,1 K], добавлен 25.11.2011

  • Обеспечение единства измерений и основные нормативные документы в метрологии. Характеристика и сущность среднеквадратического отклонения измерения, величины случайной и систематической составляющих погрешности. Способы обработки результатов измерений.

    курсовая работа [117,3 K], добавлен 22.10.2009

  • Особенности определения плотности материала пластинки, анализ расчета погрешности прямых и косвенных измерений. Основные виды погрешностей: систематические, случайные, погрешности округления и промахи. Погрешности при прямых и косвенных измерениях.

    контрольная работа [119,5 K], добавлен 14.04.2014

  • Четыре основы метрологического обеспечения измерений: научная, организационная, нормативная и техническая. Методика выполнения измерений, государственный метрологический надзор. Закон "Об обеспечении единства измерений", специальные и вторичные эталоны.

    контрольная работа [118,1 K], добавлен 28.02.2011

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.