автореферат  Комп’ютерне моделювання зображень поверхонь i контактних взаємодiй в атомно-силовому мiкроскопi

Розроблення методики комп`ютерної побудови зображень поверхонь з дефектами в атомно-силовому мiкроскопi в режимах постiйної сили i висоти сканування. Вивчення впливу радiуса вiстря i режимiв на роздiльну здатнiсть, контраст зображень та висоти зближення.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

                                   
   #       #    ###     #    ##### 
  ##      ##   #   #   ##        # 
 # #     # #       #  # #       #  
   #    #  #     ##     #      ##  
   #    #####   #       #        # 
   #       #   #        #    #   # 
 #####     #   #####  #####   ###  
                                   
                                   

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид автореферат
Язык украинский
Дата добавления 15.07.2014
Размер файла 39,6 K

Подобные документы

  • Зондові наноскопічні установки з комп'ютерним управлінням і аналізом даних. Метод атомно-силової мікроскопії; принцип і режими роботи, фізичні основи. Зондові датчики АСМ: технологія виготовлення, керування, особливості застосування до нанооб’єктів.

    курсовая работа [4,7 M], добавлен 22.12.2010

  • Розкладання періодичної функції в ряд Фур'є з погляду фізики. Графоаналітичний метод спектрального аналізу періодичних сигналів. Розрахунок електричної величини. Комп’ютерне моделювання приладу. Використання математичної моделі аналізатора спектру.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 03.11.2014

  • Енергетична взаємодія системи перетворювального обладнання тягової підстанції постійного струму із системою зовнішнього електропостачання. Фізичне та комп’ютерне моделювання випрямлення електричної енергії у несиметричних режимах, зіставлення результатів.

    дипломная работа [10,0 M], добавлен 18.05.2015

  • Общие сведения об атомно-силовой микроскопии, принцип работы кантилевера. Режимы работы атомно-силового микроскопа: контактный, бесконтактный и полуконтактный. Использование микроскопа для изучения материалов и процессов с нанометровым разрешением.

    реферат [167,4 K], добавлен 09.04.2018

  • Характеристики простих лінз й історія їхнього застосування. Побудова зображення тонкою збиральною лінзою, розрахунок фокусної відстані і оптичної сили. Побудова зображення у плоскому дзеркалi. Застосування плоских, сферичних, увігнутих і опуклих дзеркал.

    курсовая работа [4,8 M], добавлен 27.08.2014

  • Визначення її фокусної відстані і оптичної сили. Отримання зображення за допомогою збиральної лінзи. Обладнання: збиральна лінза на підставці, свічка, екран, лінійка, джерело струму, ключ. Відстань від лінзи до зображення. Відстань від предмета до лінзи.

    лабораторная работа [378,4 K], добавлен 03.06.2007

  • Решение проблемы увеличения разрешающей способности микроскопов без разрушения или изменения исследуемого образца. История появления зондовой микроскопии. Атомно-силовой микроскоп и его конструктивные составляющие, обработка полученной информации.

    реферат [692,6 K], добавлен 19.12.2015

  • Метрологические характеристики и аналитические возможности атомно-абсорбционного метода. Способы монохроматизации и регистрации спектров. Индикаторные, мембранные и металлические электроды. Рентгеновская, атомно-флуоресцентная, электронная спектроскопия.

    автореферат [3,1 M], добавлен 30.04.2015

  • Апробація нової навчальної програми. Класифікація фізичних задач. Розв’язування задач на побудову зображень, що дає тонка лінза, застосування формули тонкої лінзи, використання алгоритмів, навчальних фізичних парадоксів, експериментальних задач.

    научная работа [28,9 K], добавлен 29.11.2008

  • Значення комп’ютерів у фізиці, природа чисельного моделювання. Метод Ейлера розв’язування диференціального рівняння на прикладі закону теплопровідності Ньютона.Задача Кеплера. Хвильові явища: Фур’є аналіз, зв’язані осцилятори, інтерференція і дифракція.

    реферат [151,0 K], добавлен 09.06.2008

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.