научная работа  Наноструктурные и нанокомпозитные сверхтвердые покрытия

Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

  ###    ###     ##   #####    ##  
 #   #  #   #    ##   #        ##  
 #   #      #   # #   ####    # #  
 #   #     #    # #       #   # #  
 #   #    #    #####      #  ##### 
 #   #   #        #   #   #     #  
  ###   #####    ###   ###     ### 
                                   

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Физика и энергетика
Вид научная работа
Язык русский
Дата добавления 18.05.2012
Размер файла 477,8 K

Подобные документы

  • Понятие электронной микроскопии как совокупности методов исследования с помощью электронных микроскопов микроструктур тел, их локального состава. Содержание телевизионного принципа развертки тонкого пучка электронов или ионов по поверхности образца.

    презентация [3,1 M], добавлен 22.08.2015

  • Изучение строения и принципов работы светового и электронного микроскопов. Рассмотрение методов темного и светлого поля, фазово-контрастной микроскопии, интерференции и поляризации. Витальное фиксированное изучение клеток. Основы электронной микроскопии.

    лекция [409,4 K], добавлен 16.05.2014

  • Характеристика трех методов рентгеноструктурного анализа. Роль метода Лауэ для изучения атомной структуры кристаллов. Использование метода вращения при определении атомной структуры кристаллов. Изучение поликристаллических материалов методом порошка.

    реферат [777,4 K], добавлен 28.05.2010

  • Адгезия и методы ее измерения. Основные свойства силицидов молибдена и защитных покрытий на их основе. Метод акустической эмиссии и его применение для изучения разрушения покрытий и материалов. Получение образцов молибдена с силицидными покрытиями.

    дипломная работа [1,5 M], добавлен 22.06.2012

  • Изменение свойств поверхности монослоя и формирование качественных пленочных покрытий методом Ленгмюра-Блоджетт. История открытия ленгмюровской плёнки. Молекулы русалки. Способы переноса монослоев на твердые подложки. Блок-схема Ленгмюровской установки.

    реферат [314,1 K], добавлен 12.12.2013

  • Анализ гравитационных волн методом электромеханической аналогии. Теоретическое обоснование некоторых экспериментов Козырева, опыт по растворению сахара вблизи весов с гироскопом. Возможный факт существования гипотетических гравитационно-временных волн.

    реферат [82,6 K], добавлен 04.09.2010

  • Перспективы методов контроля оптической толщины покрытий различного функционального назначения. Контроль толщины оптических покрытий на основе тугоплавких оксидов формируемых методом электронно-лучевого синтеза. Расчёт интерференционных покрытий.

    дипломная работа [2,7 M], добавлен 18.03.2015

  • Согласование средства измерения с объектом измерения. Влияние наблюдателя. Методы сопряжения. Влияние окружающей среды и помехи. Совершенствование методики измерения. Использование методов компенсации. Изменение формы входного сигнала или его спектра.

    презентация [10,7 M], добавлен 02.08.2012

  • Физические основы различных распылений: ионного, катодного, магнетронного, высокочастотного. Получение покрытий распылением в несамостоятельном газовом разряде. Методы контроля параметров осаждения покрытий. Вакуумная металлизация полимерных материалов.

    курсовая работа [457,3 K], добавлен 19.01.2011

  • Разработка методики количественного определения состава образцов рентгеноспектральным микроанализом. Физические основы растровой электронной микроскопии. Использование зависимости интенсивности линий от ускоряющего напряжения. Методы детектирования.

    курсовая работа [351,8 K], добавлен 16.10.2014

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.