Оценка разрешающей способности сканирующего зондового микроскопа СММ2000А
Использование метода атомно-силовой микроскопии для определения с высокой точностью шероховатости поверхности непроводящих материалов, выпускаемых деревообрабатывающей промышленностью. Аттестация микроскопов с использованием калибровочных приборов.
| Рубрика | Производство и технологии |
| Предмет | Деревообрабатывающая промышленность |
| Вид | статья |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | Е.С. Синегубова |
| Дата добавления | 29.11.2018 |
| Размер файла | 525,9 K |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Описание метода атомно-силовой микроскопии, его достоинства и недостатки. Схематическое устройство атомно-силового микроскопа. Особенности осуществления процесса сканирования. Применение атомно-силовой микроскопии для определения морфологии тонких пленок.
реферат [883,8 K], добавлен 09.12.2015Обзор технологии работы микроскопа, который открыл человеку мир живой клетки. Анализ принципиального устройства микроскопа АСМ. Особенности сканирующей зондовой микроскопии: преимущества и недостатки по отношению к другим методам диагностики поверхности.
курсовая работа [506,4 K], добавлен 01.05.2010История развития мер и измерительной техники. Основные единицы системы измерений. Классификация видов измерений, механические средства для их проведения. Применение щуповых приборов для определения параметров шероховатости поверхности контактным методом.
курсовая работа [1,7 M], добавлен 16.04.2014Изучение методов измерения шероховатости поверхности. Анализ преимуществ и недостатков метода светового сечения и теневой проекции профиля. Оценка влияния шероховатости, волнистости и отклонений формы поверхностей деталей на их функциональные свойства.
курсовая работа [426,6 K], добавлен 03.10.2015Профиль, параметры и методы измерения шероховатости поверхности. Использование профилометра PS1 компании Mahr (Германия) для измерения неровностей. Оптический метод светового сечения. Принцип деяния интерферометров, растровых и окулярных микроскопов.
презентация [529,5 K], добавлен 26.02.2014Методика определения пиллингуемости как способности тканей в процессе эксплуатации или при переработке образовывать на поверхности небольшие шарики из закатанных кончиков и отдельных участков волокон. Испытания по образованию ворсистости и пиллей.
курсовая работа [1,2 M], добавлен 15.04.2011Выбор подходящего материала для зеркала с учетом быстрой деградации поверхности. Изучение изменения отражательной способности зеркал при распылении на их поверхности ионов дейтериевой плазмы. Коэффициенты отражения на разных длинах волн после экспозиции.
реферат [553,2 K], добавлен 07.06.2011Понятие шероховатости поверхности. Разница между шероховатостью и волнистостью. Отклонения формы и расположения поверхностей. Требования к шероховатости поверхностей и методика их установления. Функциональные назначения поверхностей, их описание.
реферат [2,2 M], добавлен 04.01.2009Молекулярно-лучевое эпитаксиальное (МЛЭ) наращивание на подложке монокристаллических слоев полупроводниковых веществ. Атомно-силовой микроскоп: сфера применения, пошаговое объяснение и теоретическое обоснование порядка его настройки и подготовки образцов.
курсовая работа [2,9 M], добавлен 08.12.2013Неровности поверхности, высотные параметры. Магнитный и визуально-измерительный метод контроля параметров профиля шероховатости. Теория светорассеяния, интегрирующая сфера и метод Тейлора. Применение мезооптических систем к анализу рассеянного излучения.
дипломная работа [481,0 K], добавлен 14.04.2013
